5/1000秒で安全装置が作動！軸傾斜丸鋸盤『SawStop』

PR木材・樹脂など幅広い分野の切断で活躍！万が一の際、瞬時に作動する安全装…

『SawStop（ソーストップ）』は、作業者の 安心安全な切断作業を実現する軸傾斜丸鋸盤です。 丸鋸に流れる微弱な電気信号と、人体が持つ静電容量を検知する特殊機構で 作業者が回転中の鋸に誤って触れてしまった場合、 安全装置が作動し瞬時に鋸を停止、下降させることができます。 樹脂など幅広い素材の加工に適しており、実際に導入いただいた企業様からは、 「ケガのリスクが少なくなった」 「安心して作業に...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フクモト

アクティブステレオカメラ方式3Dセンサー『S205p』

PR産業用途に特化し、IP67対応で屋外での実績も多数。ロボットや自動化シ…

LIPS社製『S205p』は、Ethernet対応、IP67、IMU搭載といった 特長を兼ね備えたアクティブステレオカメラ方式3Dセンサーです。 過酷な環境下に対応し、産業機械や測量など屋外での実績も多数。 モジュールはLIPS社オリジナルの設計で長期供給性を確保しており、 独自開発のSDKにより各種プラットフォームとスムーズに 連携可能で大幅なコストメリットを期待できます。 ...

メーカー・取り扱い企業： 稲畑産業株式会社 情報電子第三本部

【検査機器の新規導入】　発光分光分析機（成分分析機）

最短半日見積り／成分分析機を使用し、鋼材の確認や保証を致します。

〈機器詳細〉 機器名：発光分光分析機（成分分析機） 型名：SPECTROTEST メーカー：AMETEK社 導入年：2019年 こちらの測定器は、鋼材に含まれる元素の定量分析を行い材料識別などを可能にするものです。 ※基本的に「計測サービス」に於いて成分分析...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社 エージェンシーアシスト 京都本社　営業所(仙台・東京・埼玉・神奈川・浜松・愛知・岐阜・新潟・福井・奈良・兵庫・岡山・福岡)

基板検査サービス

お客様のニーズに合わせた様々な検査が可能！

ァイ検査、顕微鏡によるパッケージ基板の 外観検査などの『基板検査サービス』を提供しております。 熟練した顕微鏡検査の要員を確保しており、短納期・高品質の検査も可能。 また、BGA・CSP・ファインピッチFPC（フレキシブルプリント）基板の 検査、通常リジット基板の検査、その他機種の基板検査にも対応しています。 【クリーンルーム内で認定検査員が行う基板検査】 ■パッケージ基...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社協和

【分析事例】半導体のイオン化ポテンシャル評価

UPS：紫外光電子分光法

ます。 ■価電子帯立ち上がり位置(VBM)の決定 価電子帯頂点近傍のスペクトルを直線で外挿し、バックグラウンドとの交点を求めます。 ■イオン化ポテンシャルの算出 イオン化ポテンシャル（I.P.）＝ hν-W hν：照射紫外線のエネルギー(He I線21.22eV) W：スペクトルのエネルギー幅（Ek(min) - VBM）...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】SNDMおよびSMMによる拡散層評価

SiCデバイスの拡散層のp/n極性とキャリア濃度分布を評価できます

近年、高耐圧デバイスの材料としてSiCが注目されています。Trench MOSFET構造は素子の高集積化が可能であり、SiCデバイスへの応用展開も進められています。一方、SiCデバイスのドーパント活性化率には課題があり、出来栄え評価が重要となります。今回、SiC Trench MOSFETに関して、SNDM（走査 型非線形誘電率顕微鏡）にてキャリア極性判定をSMM（走査型マイクロ波顕微鏡法）にてキ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】Cu表面の酸化状態の定量

Cuスペクトルの複合解析

Cu2p3/2スペクトルとCuオージェスペクトル等の解析から、Cu表面の結合状態・定量評価・膜厚評価が可能です。 主な応用例として、Cu配線のCMP処理・洗浄の評価、Cu電極の錆・変色調査が挙げられます。 以下、各種処理を施したCu表面状態および酸化膜厚についてまとめます。 （クリーンルーム環境下にて処理し、直後に測定を行うことが可能です。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

技術情報誌 202102-03 XAFSによる半導体中の状態評価

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

図２　As K端FT-EXAFSスペクトル 表１　As K端FT-EXAFSカーブフィッティング結果 図３　アニールありおよびアニールなしにおけるヒ素の状態および周囲構造のイメージ 図４　P K端XANESスペクト...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

Leitz PMM-C「高速・高精度三次元測定」

高速・超高精度！大型の部品や治具の測定が可能です。

【仕様】 ［Leitz PMM-C 8.10.6］ ○測定範囲 (mm) X=800 , Y=1000 , Z=580 ○最大ギア (mm) 平歯車：750 / ヘリカル歯車：500 ○空間長さ エラー (μm) E ...

メーカー・取り扱い企業： 三ッ引興業株式会社

複合環境試験

温湿度＋振動の環境ストレスに対し、その耐性を評価するための試験です。 …

00Hz・最大加速度 　 ： 490m/s2 ・最大変位　　　　： 25mmp‐p 　※上記仕様は無試料時の数値になります　 【湿度槽仕様】 ・メーカー ：ESPEC社　型番：PVS-5K・温度範囲　　 　　 ： -70℃～+150℃・湿度範囲　 　 　 ： 20℃～98％RH ・温度上昇時間　 　： -70℃～+150℃まで100分以内　　　　...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社レスター 厚木事業所,熊本事業所,大分事業所,鹿児島事業所

【分析事例】揮発性有機化合物（VOC）P&Tによる微量成分の検出

GC/MS：ガスクロマトグラフィー質量分析法

ます。水中のVOCは、極微量であっても臭気の原因になることや健康被害を引き起こすことが懸念されることから、環境基準値や排水基準値が定められ、低濃度まで測定可能な手法が必要とされています。本事例では、P&T(パージ&トラップ)で濃縮した成分をGC/MSに導入することによって、水中の微量なVOC成分（サブppbレベル）を検出する事例を示します。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】SiCPlanerPowerMOSFETの拡散層評価

SiCデバイスの拡散層のp/n極性とキャリア濃度分布を評価できます

SiC Planer Power MOSFETの断面を作製し、拡散層のp/n 極性分布をSCM（走査型静電容量顕微鏡法）で評価し、キャリア濃度分布をSMM（走査型マイクロ波顕微鏡法）で定性的に評価しました。 ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】SiCパワーMOS FET中ドーパント評価

イメージングSIMSにより、局在する元素の評価が可能

市販のSiCパワーMOS FETを解体し、素子パターンを含む20um角の領域で深さ0.5umまでイメージングSIMS測定を行い、ドーパント元素であるAl,N,Pの濃度分布を評価しました。 イメージングSIMS測定後のデータ処理から、試料面内に局在するAl,N,Pの深さ方向濃度分布を抽出した事例をご紹介します。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

sMIMによる半導体拡散層の解析

濃度の変化をCの変化として検出！dC／dV信号も取得でき、拡散層の解析…

では、sMIMによる半導体拡散層の解析を行っております。 マイクロ波インピーダンス顕微鏡(sMIM)は、ドーパント濃度に 線形な相関を持つ信号が特長です。 sMIM(エスミム) は、SPMに装着した金属探針の先端からマイクロ波を 照射してサンプルを走査し、その反射波を測定し拡散層の濃度に 線形な相関を持つsMIM-C像を得ることができます。 反射率から得られるZsのC成分...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【無料】実物の内部構造3Dデータ利用の透明可視化模型の製作評価

【論文集 無料進呈】3D画像解析丸分かり！14本の論文を60Pに凝縮 …

示する新技術 13.偏光イメージングのための多角的撮像システムの樹脂成形品評価への応用樹脂成形品の品質可視化に向けて(特集 計測・測定・検査・分析の最新動向) 14.成果志向のAIIT PBLの運営戦術 2015年度 村越PTの活動から...

メーカー・取り扱い企業： 日本ビジュアルサイエンス株式会社

【無料進呈】CT値ヒストグラムに基づく複合材料の大局的構造評価

【論文集 無料進呈】3D画像解析丸分かり！14本の論文を60Pに凝縮 …

示する新技術 13.偏光イメージングのための多角的撮像システムの樹脂成形品評価への応用樹脂成形品の品質可視化に向けて(特集 計測・測定・検査・分析の最新動向) 14.成果志向のAIIT PBLの運営戦術 2015年度 村越PTの活動から...

メーカー・取り扱い企業： 日本ビジュアルサイエンス株式会社

【無料】X線CTによる樹脂成形品中のガラス繊維の観察と三次元解析

【論文集 無料進呈】3D画像解析丸分かり！14本の論文を60Pに凝縮 …

示する新技術 13.偏光イメージングのための多角的撮像システムの樹脂成形品評価への応用樹脂成形品の品質可視化に向けて(特集 計測・測定・検査・分析の最新動向) 14.成果志向のAIIT PBLの運営戦術 2015年度 村越PTの活動から...

メーカー・取り扱い企業： 日本ビジュアルサイエンス株式会社

【無料】偏光イメージングによる多角撮像システムの樹脂成形品評価

【論文集 無料進呈】3D画像解析丸分かり！14本の論文を60Pに凝縮 …

示する新技術 13.偏光イメージングのための多角的撮像システムの樹脂成形品評価への応用樹脂成形品の品質可視化に向けて(特集 計測・測定・検査・分析の最新動向) 14.成果志向のAIIT PBLの運営戦術 2015年度 村越PTの活動から...

メーカー・取り扱い企業： 日本ビジュアルサイエンス株式会社

無料！X線CTとExFactVR2.0による鋳造品の内部品質評価

【論文集 無料進呈】3D画像解析丸分かり！14本の論文を60Pに凝縮 …

示する新技術 13.偏光イメージングのための多角的撮像システムの樹脂成形品評価への応用樹脂成形品の品質可視化に向けて(特集 計測・測定・検査・分析の最新動向) 14.成果志向のAIIT PBLの運営戦術 2015年度 村越PTの活動から...

メーカー・取り扱い企業： 日本ビジュアルサイエンス株式会社

【無料】X線CTによるメタリック射出成形品の配向挙動解析

【論文集 無料進呈】3D画像解析丸分かり！14本の論文を60Pに凝縮 …

示する新技術 13.偏光イメージングのための多角的撮像システムの樹脂成形品評価への応用樹脂成形品の品質可視化に向けて(特集 計測・測定・検査・分析の最新動向) 14.成果志向のAIIT PBLの運営戦術 2015年度 村越PTの活動から...

メーカー・取り扱い企業： 日本ビジュアルサイエンス株式会社

【無料進呈】内部構造を伴う現物の3D画像を効果的に展示する新技術

【論文集 無料進呈】3D画像解析丸分かり！14本の論文を60Pに凝縮 …

示する新技術 13.偏光イメージングのための多角的撮像システムの樹脂成形品評価への応用樹脂成形品の品質可視化に向けて(特集 計測・測定・検査・分析の最新動向) 14.成果志向のAIIT PBLの運営戦術 2015年度 村越PTの活動から...

メーカー・取り扱い企業： 日本ビジュアルサイエンス株式会社

無料！3D空隙構造解析によるリチウムイオン電池電極評価法開発

【論文集 無料進呈】3D画像解析丸分かり！14本の論文を60Pに凝縮 …

示する新技術 13.偏光イメージングのための多角的撮像システムの樹脂成形品評価への応用樹脂成形品の品質可視化に向けて(特集 計測・測定・検査・分析の最新動向) 14.成果志向のAIIT PBLの運営戦術 2015年度 村越PTの活動から...

メーカー・取り扱い企業： 日本ビジュアルサイエンス株式会社

【論文集 無料進呈】セメントコンクリート舗装の三次元損傷診断

【論文集 無料進呈】3D画像解析丸分かり！14本の論文を60Pに凝縮 …

示する新技術 13.偏光イメージングのための多角的撮像システムの樹脂成形品評価への応用樹脂成形品の品質可視化に向けて(特集 計測・測定・検査・分析の最新動向) 14.成果志向のAIIT PBLの運営戦術 2015年度 村越PTの活動から...

メーカー・取り扱い企業： 日本ビジュアルサイエンス株式会社

【無料】三次元画像処理のためのソフトウェア技術の実際

【論文集 無料進呈】3D画像解析丸分かり！14本の論文を60Pに凝縮 …

示する新技術 13.偏光イメージングのための多角的撮像システムの樹脂成形品評価への応用樹脂成形品の品質可視化に向けて(特集 計測・測定・検査・分析の最新動向) 14.成果志向のAIIT PBLの運営戦術 2015年度 村越PTの活動から...

メーカー・取り扱い企業： 日本ビジュアルサイエンス株式会社

無料！3D画像の粒径分布抽出での水素吸蔵合金充填層の粒子偏析現象

【論文集 無料進呈】3D画像解析丸分かり！14本の論文を60Pに凝縮 …

示する新技術 13.偏光イメージングのための多角的撮像システムの樹脂成形品評価への応用樹脂成形品の品質可視化に向けて(特集 計測・測定・検査・分析の最新動向) 14.成果志向のAIIT PBLの運営戦術 2015年度 村越PTの活動から...

メーカー・取り扱い企業： 日本ビジュアルサイエンス株式会社

【無料】高分解能X線CTによる厚肉球状黒鉛鋳鉄の三次元組織観察

【論文集 無料進呈】3D画像解析丸分かり！14本の論文を60Pに凝縮 …

示する新技術 13.偏光イメージングのための多角的撮像システムの樹脂成形品評価への応用樹脂成形品の品質可視化に向けて(特集 計測・測定・検査・分析の最新動向) 14.成果志向のAIIT PBLの運営戦術 2015年度 村越PTの活動から...

メーカー・取り扱い企業： 日本ビジュアルサイエンス株式会社

【論文集 無料進呈】「マイクロCT」3D画像解析丸分かり！

【論文集 無料進呈】3D画像解析丸分かり！14本の論文を60Pに凝縮 …

示する新技術 13.偏光イメージングのための多角的撮像システムの樹脂成形品評価への応用樹脂成形品の品質可視化に向けて(特集 計測・測定・検査・分析の最新動向) 14.成果志向のAIIT PBLの運営戦術 2015年度 村越PTの活動から...

メーカー・取り扱い企業： 日本ビジュアルサイエンス株式会社

【分析事例】SiCパワーMOSFETの活性層評価

活性層の形状とドーパントを評価

どによってチャネル形成します。活性層形成プロセスにおいて、TEM観察からデバイス構造を把握し、SCM測定からｐ型/ｎ型の断面の拡散層分布やエピタキシャル層、SIMS測定からドーパント元素（N,Al,P）の深さ濃度分布を評価しました。 測定法：SIMS・SCM・TEM 製品分野：パワーデバイス 分析目的：微量濃度評価・形状評価・製品調査 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせく...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】SiC中ドーパント元素の深さ方向分析1

SiC中B,Al,N,P,Asについて、高感度で深さ方向分布の評価が可…

SiCはその物性からパワーデバイス材料として用いられていますが、Siとは異なりイオン注入後の熱処理によるドーパントの拡散が困難なため、多段イオン注入により深さ方向への分布を制御する必要があります。SIMS分析は高感度（ｐｐｍ以下）で深さ方向の不純物濃度を評価することができるため、SiC中のドーパント元素の分布評価に適しています。また、軽元素（H,C,O,Fなど）の分布についても評価可能です。評価し...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】SiC Planer Power MOSの分析

SiCデバイスの拡散層構造を可視化できます（拡散層構造の高感度評価）

評価が難しいSiCを代表とする次世代のパワーデバイスにおいても、低濃度から高濃度まで十分に評価を行うことができます。高感度を特徴とし、あらゆる化合物半導体デバイスに適用可能です。一例として、SiC Planer Power MOSの断面を製作し、SNDM分析を行った事例をご紹介します。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】杜仲茶に含まれるポリフェノールの一斉分析

健康食品中有効成分の検出事例

近年の健康志向の増加に伴い、さまざまな健康食品が注目を集めています。その一つである杜仲茶は血圧が高めの方に適した食品であり、特定保健用食品（トクホ）に指定されています。本事例では、杜仲茶をLC/MS/MSで分析し、ゲニポシド酸、クロロゲン酸、アスペルロシド、p-クマル酸、ケルセチンの5つのポリフェノールを検出することができました。これらの成分の中で、杜仲葉配糖体の一つであるゲニポシド酸は特定保健用...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】有機薄膜太陽電池活性層の混合状態評価

低加速STEM観察とEELS測定による有機材料の分布状態評価

TEM像（写真1）のコントラストはSTEM-EELS像のS, Cの元素分布(写真2, 3)と対応しており、バルクヘテロ構造を反映していることが確認できました。また、Sの分布に偏りが認められ、表面側にP3HTが偏析していることも示唆されました。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】SiC中ドーパント元素の深さ方向分析2

目的に応じた分析条件で測定します

市販品SiCパワーMOS FETのドーパント元素であるN,Al,Pの深さ方向濃度分布を複数の分析モードで評価した事例を紹介します。 分析目的によってはそれぞれの元素を最適な条件で別々に測定せず、複数の元素を同時に測定することが可能です。多元素同時測定した場合と、...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】有機薄膜太陽電池の活性層の組成分布評価

雰囲気制御下での前処理および深さ方向分析が可能です

する必要があります。 成膜後アニール処理をすることで、開回路電圧の変化なくフィルファクターの向上に伴い光電変換効率の向上が見られた試料について、TOF-SIMS深さ方向分析を行いました。その結果、PEDOT:PSS層との界面において、アニール前ではPCBMが偏析していることがわかりました。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】極薄SiON膜の組成・膜厚評価

光電子の平均自由行程を用いた膜厚の見積もり

シリコンウエハ上の自然酸化膜・シリコン酸窒化薄膜など、厚さ数nm以下の極薄膜について、サンプル最表面のSi2pスペクトルを測定します。得られたスペクトルの波形解析を行うことにより、各結合状態の存在割合を求め、この結果と光電子の平均自由行程から膜厚を見積もります（式１）。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】SiC Planer Power MOSのSCM分析

SiC デバイスの拡散層構造を可視化できます

別し、拡散層の形状を可視化することができます。 本手法はSiデバイスに活用されてきましたが、SiCデバイスにおいてもキャリア濃度が十分高い箇所では評価を行うことができます。 本資料では、SiC Planer Power MOSの断面を製作し、SCM分析を行った結果をご紹介します。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】結晶Si太陽電池の拡散層評価

ドーパントの定量評価およびキャリアの分布評価

裏面電極型結晶Si太陽電池（バックコンタクト型Si太陽電池）において、電極直下のドーパントの濃度分布を定量的に評価した事例をご紹介します。また、キャリアの分布評価を行うことで、p/nの極性判定や空乏層を断面方向から可視化することが可能です。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

超高精度三次元測定受託【保証精度E=(0.4+L/700)μm】

E=(0.4+L/700)μmの超高精度を保証する三次元測定受託！大型…

常時20℃管理の恒温室において、門型高精度三次元測定機「Leitz PMM-C」による超高精度測定を行っています。保証精度はE=(0.4+L/700)μm。400mm/secの高速スキャニングで、大型の部品や治具まで測定対応いたします。 【特長】 ■測定精度：...

メーカー・取り扱い企業： 三ッ引興業株式会社

分析 「肥料分析」

さまざまな分野の分析も承ります！株式会社兵庫分析センターの肥料分析

【主な分析項目】 ○水分 ○全窒素（T-N） ○リン酸全量（T-P2O5） ○全カリウム（T-K2O） ○水素イオン濃度 ○有機物 ○有機体炭素 ○炭素比（C/N比） ○重金属類（砒素、カドミウム、水銀、亜鉛、鋼　等） ●詳しくはお問い合わせ、ま...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社兵庫分析センター

冷凍機油の酸価測定【電位差自動滴定装置】

光度滴定測定ユニットを使用した自動滴定装置によって冷凍機油の酸価を測定…

トを使用した 自動滴定装置によって冷凍機油の酸価を測定しました。 【掲載内容】 ■測定の概要 ■装置構成および試薬 ■測定手順 ■測定条件例および測定結果 ■摘要 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社HIRANUMA

【ジブチルヒドロキシトルエン】※実績多数！試験分析承ります！

品質管理者必見！わずらわしい原料試験は、当社におまかせ下さい。当社は、…

き受けに伴う試験は、大変ではないでしょうか。 本来の業務（製品開発、自社製品の管理）にコスト、人員、時間を有効に活用し、より一層自社の売上拡大を進めませんか。 当社は、富山県くすり政策課よりGMP適合試験検査機関として審査を受けております。これまでに、県内外の多数の製薬会社様、健康食品会社様、化粧品会社様より分析、試験を受注しております。 ※バックデータ及び操作記録書付き ※詳細...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社安全性研究センター

【料金表】土壌及び肥料関係

税抜き、税込みを掲載！「pH」や「電気伝導率」などを対象とした料金表

はじめ「ヒ素（As）」や「全水銀（T-Hg）」 などです。ぜひ、ご一読ください。 【掲載項目】 ■水分 ■pH ■電気伝導率 ■全窒素（T-N） ■全炭素（T-C） ■全リン酸（P2O5） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ミツバ環境ソリューション