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キーエンス製XG-Xと東芝独自のAI画像検査技術の組み合わせ
PRルールベース外観検査システム導入時における課題を解決するハイブリッド方…
外観検査の自動化においては、ルールベースによる自動検査が主流でしたが、 ・専門知識が必要(属人化) ・設定に時間がかかる ・過検出を抑えられない といった課題があります。 Meister Apps AI画像自動検査パッケージと、キーエンス製画像処理システムXG-Xを組み合わせて使うことで、 誰でも簡単・短時間に設定且つ、閾値自動最適化により過検出を抑えることも可能です。 また運用に影...
メーカー・取り扱い企業: 東芝デジタルソリューションズ株式会社 画像検査ソリューション事業
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表面処理:摺動性アップを実現する低温処理PVD-コーティング
PR【展示会出展】鍛造金型・プレス金型の絞り、曲げ、抜きに圧倒的な効果を発…
EV-X/FG-Xは、低温処理のPVDコーティングです。 TiAlN/TiNの皮膜をベースとしており、そこからさらに滑りや密着性を向上させた EV/FGシリーズ、EV/FGの特長に密着性と摺動性を大幅に向上させたEV-X/FG-Xと お客様のニーズやコストなどに合わせて、適切なコーティングを提供します。 摺動性・密着力の向上により、従来よりも金型のショット数を大幅に伸ばすことができます。 金型...
メーカー・取り扱い企業: 松山技研株式会社
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XAFSは、物質にX線を照射することで得られる吸収スペクトルを解析する…
物質にX線を照射することで得られる吸収スペクトルには物質中に含まれる元素特有の急峻な立ち上がり(=吸収端)が見られます。 この吸収端近傍±50 eV程度に現れる微細構造をXANES(=X-ray Abso...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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XRR:X-ray Reflectivity
XRRは、X線を試料表面に極浅い角度で入射させ、その反射強度を測定します。この測定で得られた反射X線強度プロファイルをシミュレーション結果と比較し、シミュレーションパラメータを最適化することによって、試料の膜厚・密度を決定する手法です。 ・膜厚の評価が可能 (2~300nm 程度) ・密度の評価が可能 ・表面粗さの評価が可能(Rms = 5nm 以下) ・非破壊で分析が可能 ・約1...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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EDXは、分析対象領域に電子線照射した際に発生する特性X線の、エネルギ…
EDXは、分析対象領域に電子線照射した際に発生する特性X線の、エネルギーと発生回数を計測し、元素分析や組成分析を行う手法です。EDS: Energy Dispersive X-ray Spectrosco...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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加熱/冷却や応力・圧縮の負荷状態での三次元構造観察が可能です。
●引張り試験 試料を引張る方向に応力を印加した状態でX線CT測定をすることが可能です。 ●圧縮試験 試料を圧縮する方向に圧力を印加した状態でX線CT測定をすることが可能です。 ●温度調節 ステージの温度を調節した状態でX線CT測定をする...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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非破壊で電池内部の層構造・異常箇所を確認できます
リチウムイオンポリマー電池は、モバイルバッテリーや電子機器などの身近な製品に幅広く利用されています。 本資料では、ラミネート型のリチウムイオンポリマー電池をX線CTで分析した事例を紹介します。X線CTを用いることで、20mmx40mmの電池を破壊せずに内部構造を観察し、数μmの異物や空隙の有無・位置を確認することが可能です。 詳しくは資料をダウンロ...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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X線CTによるスティッチング撮影-広視野観察と高分解能観察の両立
複数のCT像を縦に連結して撮影することができます
一般的に、X線CTの視野サイズと解像度はトレードオフの関係にあり、解像度を上げるほど視野サイズは小さくなります。 そこで、X線CTには、複数のCT像を縦に連結することができる”スティッチング”という撮影法があ...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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試料表面(数nm程度の深さ)の元素の種類、存在量、化学結合状態評価に有…
XPSは、X線照射により放出される光電子の運動エネルギー分布を測定し、試料表面(数nm程度の深さ)に存在する元素の種類・存在量・化学結合状態に関する知見を得る手法です。化学結合状態に関する知見が得られるため、別名ESCA : Electron Spectroscopy for Chemical Analysis とも呼ばれています。 ・固体表面(約2~8nm)の元素の定性・定量が可能 ・化学結合...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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・ナノスケールでの周期構造・配向性を評価可能
SAXSは、X線を物質に照射して散乱したX線のうち、2θ<10°以下の低角領域に現れるものを測定し、物質の構造を評価する分析手法です。通常、数nm~数十nm程度の大きさの構造を評価できます。 ・ナノ...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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XRDは、回折パターンから試料の結晶構造情報を得る手法です。
XRDの評価対象である『結晶』とは、物質を構成する原子あるいは分子・イオンの集団が3次元的に繰り返し配列した状態のことです。X線を結晶に照射すると、結晶中の電子によりX線が散乱されます(散乱X線)。散乱X線は干渉し合い、ブラッグの法則を満たしたときに強い回折X線が生じます。 格子面間隔をd、 X線の入射角をθとした場合、第1面と第2面の行路差(-)は 2d sinθ となります。行路差が入射X線の波長...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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電子線照射により発生する特性X線を検出し、エネルギーで分光することによ…
EDXは、電子線照射により発生する特性X線を検出し、エネルギーで分光することによって、元素分析や組成分析を行う手法です。EDS:Energy Dispersive X-ray Spectroscopyとも...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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