ICカードリーダー『IC SCAN』

PRFeliCa/Mifare対応！ICカードの読み取りが簡単にできます

『IC SCAN』は、多機能で簡単操作のIC読み取り専用システムです。 DES/AES鍵ありデータエリアの読み取りも可能。 FeliCaサービスの読み取り制限がないほか、 Excelなどにキーボード出力可能など多機能です。 また、SIP独自開発ソフトのため、多種カスタマイズの開発も 受け付けます。(有償) 【特長】 ■IDm、UIDの読み取りができる ■読み取ったデータ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社システムズ・インテリジェンス・プロダクツ（SIP）

ICタグによるクリーンウェア管理サービス

PRICタグによりウェア管理業務を省力化！ 洗濯回数が把握できるようにな…

当社では、お客様のクリーンウェアにICタグを取り付け、当社工場への 入荷時と出荷時に専用のICタグリーダーで読み取りを行い、ウェアごとの 洗濯回数データを管理できる『ICタグによるクリーンウェア管理サービス』を行っております。 ICタグを取り付けたウェアごとに洗濯回数を個別管理できるため、 お客様が設定された洗濯回数を超えたウェアをタイムリーに交換可能。 ウェア劣化によるコンタミネー...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社菱進

ICソケット接続試験器

2000ピンを超える微細ICソケット、コネクタ、ケーブルの導通を高速に…

ISC-2000AシリーズはICソケット、コネクタ、ケーブルなどの接触を高速に試験する低価格の多ピン・チェッカです。リレースキャナと抵抗計の代わりにロジック回路を採用し、パソコンで制御する事により、安価で高速のチェッカを実現しました。ピン数拡張性に優れ、2000ピン以上の構成が可能です。ICソケットのみではなく、バックプレーン、ケーブル、PC板などの接続、非接触チェックに最適です。 ※製品の...

メーカー・取り扱い企業： 東京電子交易株式会社

ゲート・リーク試験器 [GLテスタ]

高温下で高圧電界を発生させデバイスの誤動作を評価するGLテスタ、AEC…

高温下にあるICに高電界を加えると、ICのカタログ仕様に不適合の項目が発生する場合（例えばIcc、入力リーク、ACパラメータ、ファンクション特性）があります。これを電気熱誘導寄生ゲートリーク（GL）と言います。GLが発生したデバイスは"不良"とみなされますが、GL不良は通常125℃ 4時間（または150℃ 2時間）のベーキングで回復します。 本装置は、高温下で電界を発生させる装置で、AEC-Q10...

メーカー・取り扱い企業： 東京電子交易株式会社

全自動ESDテスタ 「モデル400Sシリーズ」

HBM、MM規格に完全適合 ウェーハ、チップ、パッケージ対応

モデル400SＷは種々の形状の試料にＨＢＭ、ＭＭのＥＳＤパルスを印加した後、破壊、劣化を自動で判定する極めて操作性の優れた新方式のＥＳＤテスタです。 ＥＳＤ試験を何時でも、誰でも、簡単にしかも短時間に行えることを最大の特長とします。 従来ESD試験機はチップをパッケージに封入し、ICソケットを設計、製作した後ＥＳＤの評価を行っていました。 本機はチップ、パッケージはもちろんのことウェーハでの...

メーカー・取り扱い企業： 東京電子交易株式会社

CDM試験機・CDMテスタ 「モデル1100-CDMシリーズ」

モデル1100-CDMは、ICに対するCDM試験（誘導帯電および直接充…

CDM試験装置は、静電気が帯電している電子部品の金属電極部が外部の金属に触れたり、また、帯電した物体(例えば人体)に接触している金属が、電子部品の金属電極に接触したときに生じる極めて高速の電荷移動によって生じるストレスにより、電子部品が壊れる場合の、電子部品の信頼性を測定する試験装置です。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。...【特徴】 ○ ANJS/ESD...

メーカー・取り扱い企業： 東京電子交易株式会社

ESD試験機・ESDテスタ 「モデル1100-ESDシリーズ」

モデル1100-ESDは、64ピンまでのICに対するESD試験（HBM…

３軸ロボットに取りつけたESDパルス発生ユニットでESDのモデルを決定するため、数年に1度はアップデートされる、波形規格への対応が用意です。 また、規格で要求される全てのコモン・ピンコンビネーションを実現できます。 ※製品の仕様は予告なく変更になる場合がございます。ご了承下さい。...特長・機能 ○ MIL､EIA/JEDEC､JEITA､AEC､ESDA規格適合 ○ 最大10個のデバ...

メーカー・取り扱い企業： 東京電子交易株式会社

ラッチアップ試験機 「モデル1100-LUPシリーズ」

モデル1100-LUPは、ICに対するラッチアップ試験を簡単かつ正確に…

モデル1100-LUPは、専用のテストヘッドと電源を組み合わせたラッチアップ試験機でお客様のニーズに応じたシステムを安価に構築することができます。またPCのコントロールソフトでラッチアップ試験の開始から結果収集まで自動で実行できます。...特長・機能 ○ JEDEC､JEITA､AEC､ESDA規格適合 ○ 電流パルス試験、電源過電圧試験が標準仕様 ○ 最大３電源が接続可能 ○ デバイスピ...

メーカー・取り扱い企業： 東京電子交易株式会社