• 【SCREEN】”塗る”を極めたスリットコータ  ※カタログ進呈 製品画像

    【SCREEN】”塗る”を極めたスリットコータ ※カタログ進呈

    PRラボスケールでの高精度塗布を実現。低粘度から高粘度まで、実験・試作段階…

    『リサーチコータ』は、液晶や有機ELディスプレー製造工程で 数多くの採用実績を誇る「コーターデベロッパー」の高度な塗布技術を ラボスケールに展開したスリットコータ(ダイコータ)です。 塗布部にはスリット式塗布装置「リニアコータ(TM)」を搭載。 1~10,000mPa・sの低粘度から高粘度の塗布材料を、ガラス基板、樹脂基板、 フィルム、金属箔など様々な基材に高精度にスリットコートでき...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社SCREENファインテックソリューションズ

  • ★中心粒径250nm~★焼結体向け超微粒SiCパウダー 製品画像

    ★中心粒径250nm~★焼結体向け超微粒SiCパウダー

    PR【低温焼結・高密度化】焼結用材料に好適!超微粒α-SiCパウダー

    当社独自のSiC(炭化ケイ素)微細化技術を活かしたα-SiCパウダー『GC#40000』をご提供 『Dv50(中心粒径):0.25μm』の超微粒SiCによる、優れた焼結性を示します (GC#40000を焼結体原料に使用により期待されるメリット)  ・低温焼成:CO2削減、ランニングコスト低減  ・緻密化 :成形体強度の向上、ポアの抑制 ※プレス成型や金型における流動性が必要な場合、球状SiC造...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フジミインコーポレーテッド

  • 紫外可視吸光光度検出器(IC) 製品画像

    紫外可視吸光光度検出器(IC)

    <中古分析機器>

    光源:重水素ランプ 波長範囲:190~700 nm スペクトルバンド幅:5 nm 波長精度:±1 nm 波長再現性:0.1 nm ノイズレベル(単波長モード):<±0.4×10-5 AU(セル内空気、時定数 2 sec、254 nm) ドリフト:2...

    メーカー・取り扱い企業: テクノミックス株式会社

  • 紫外可視分光光度計 製品画像

    紫外可視分光光度計

    <中古分析機器>

    測光方式:モニターダブルビーム 測定波長範囲:190~1100 nm スペクトル幅:5 nm 波長正確さ:±1.0 nm 波長繰り返し精度:±0.3 nm 測光正確さ ・±0.005 Abs(at 1.0 Abs) ・±0.003 Abs(at 0.5 ...

    メーカー・取り扱い企業: テクノミックス株式会社

  • 高速液体クロマトグラフ用蛍光検出器(HPLC) 製品画像

    高速液体クロマトグラフ用蛍光検出器(HPLC)

    <中古分析機器>

    <本体> 光源:キセノンランプ、低圧水銀ランプ(波長正確さチェック用標準装備) 波長範囲:200~750 nm バンド幅:20 nm 波長正確さ:±2 nm 測定機能:4波長同時測定、波長スキャン <セル> 温度設定範囲:4~40 ℃(1 ℃ステップ) 温調範囲:(室温-10 ℃)~40 ℃ ...

    メーカー・取り扱い企業: テクノミックス株式会社

  • 原子吸光分光光度計(AA) 製品画像

    原子吸光分光光度計(AA)

    <中古分析機器>

    <AA-7000> 測定波長範囲:185~900 nm バンド幅:0.2、0.7、1.3、2.0 L nm(4段階自動切り換え) 検出器:光電子増倍管 測光方式 ・フレーム:オプティカルダブルビーム ・ファーネス:ハイスループットシングルビーム 大きさ...

    メーカー・取り扱い企業: テクノミックス株式会社

  • レーザ回折式粒度分布測定装置 製品画像

    レーザ回折式粒度分布測定装置

    <中古分析機器>

    測定範囲が30 nm~1000 μm(多機能サンプラによる湿式測定の場合)と幅広い粒度分布測定装置です。(S2901-00)...

    メーカー・取り扱い企業: テクノミックス株式会社

  • 濁度計・色度計 製品画像

    濁度計・色度計

    <中古分析機器>

    測定方法 ・濁度:積分球式光電光度法 ・色度:透過光測定法(390 nm 吸光度) 測定範囲 ・濁度:0~100 度(ポリスチレン) / 0~1000 度(カオリン) ・色度:0~1000 度 光源:ハロゲンランプ(12 V、20 W) 測定精度 ・濁度:0...

    メーカー・取り扱い企業: テクノミックス株式会社

  • レーザ回折/散乱式粒子径分布測定装置 製品画像

    レーザ回折/散乱式粒子径分布測定装置

    <中古分析機器>

    結果表示まで) 測定方式:フローセル測定 測定必要試料量:10 mg~5 g(フローセル測定時) 分散媒最小必要容量:約180 mL 使用可能分散媒:有機溶媒 光源:半導体レーザ(650 nm), LED(405 nm) 大きさ:705(W)×565(D)×500(H) mm 重量:約56 kg 電源:AC100/120/230 V、300 VA、50/60 Hz...

    メーカー・取り扱い企業: テクノミックス株式会社

  • 加熱気化水銀測定装置 製品画像

    加熱気化水銀測定装置

    <中古分析機器>

    測定対象:固体試料、液体試料、気体試料 分析方法:加熱気化-金アマルガム捕集冷原子吸光法 測定原理:非分散ダブルビーム冷原子吸光法 光源:低圧水銀放電管 検出器:半導体検出器(254 nmバンドパスフィルター付) 検出限界:0.01 ng 精度:RSD 3 %(0.1 ng以上) 測定範囲:0~10,000 ng 測定時間:30~300 sec 測定時流量:0.2 L/min 排ガス...

    メーカー・取り扱い企業: テクノミックス株式会社

  • 旋光計 製品画像

    旋光計

    <中古分析機器>

    0~99.0 % 分解能 ・光学旋光度:0.001 ° ・比旋光度:0.001 °(0~100 °), 0.01 °(100~999.99 °) ・濃度:0.001 % 測定波長:589 nm(D線) TempTrol温度制御範囲:15~30 ℃ TempTrol温度精度:±0.2 ℃ 大きさ:890(W)×432(D)×267(H) mm 重量:約36 kg 電源:110 V...

    メーカー・取り扱い企業: テクノミックス株式会社

  • 加熱気化水銀測定装置 製品画像

    加熱気化水銀測定装置

    <中古分析機器>

    <水銀検出部> 測定原理:非分散トリプルビーム冷原子吸光法 波長:253.7 nm 検出器:光電管 検出限界:<1 pg(<0.001 ng) 測定範囲:~70,000 ng(RSD<3 %@0.1 ng) 測定時間:約5分 <試料前処理部> 試料加熱管:石英製(触媒...

    メーカー・取り扱い企業: テクノミックス株式会社

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