偏光ビームスプリッター ワイヤグリッドタイプ・キューブ型

PRカスタマイズ可能なワイヤグリッド偏光ビームスプリッター、入射角依存の少…

WGF(TM)を使用した、ワイヤグリッド偏光ビームスプリッターキューブタイプ（WGF(TM) PBS)です。 すでにハーフミラーをお使いの場合、WGF(TM) PBSに替えることで輝度向上が期待できます。 縮小系でも色や偏光度が部分的に変わることはなく、画像検査の精度を向上させます。 入射角依存が少なく、安定した光学性能を維持します。 ※WGF(TM)は旭化成の製品です。...規格品　WP...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社オプティカルソリューションズ

コネクタ形状を間違えた！→【光アダプタ/変換プラグ】で解決します

PR「短くて繋げない」「コネクタ形状が違う」ケーブルの緊急トラブルを解決し…

様々な場面で必要になる「ケーブル」について、こんなトラブルはありませんか？ 「ケーブルが明日必要なのに、ケーブルが短い！」 「コネクタの形が違うため接続が出来ない！調達する時間もない！」 ★データコントロルズの光アクセサリで、こんな緊急トラブルを解決します★ 中継アダプタ、変換プラグ、光パッチパネルなど常時在庫多数なため 15時までのご注文で最短翌日に納品可能です！ 【トラブル解決事例】 ケ...

メーカー・取り扱い企業： データコントロルズ株式会社

【STEM/EDS】Auめっきされたコネクタ端子接点不良解析

STEMでめっきされたコネクタ端子表面の付着物層(20nm程度)の”表…

●表面を保護するサンプリング法により、端子表面の付着物層(20nm程度)が損失なく確認可能 ●EDS分析結果より、付着物の主成分はC(炭素)、O(酸素)であるため接点不良は有機物汚染によるもの判断 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてく...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

【DL可/GD-OES測定】変色したステンレスの組成調査

GD-OES（グロー放電発光分析）によりステンレス(SUS)の表面をス…

●試料表面をスパッタして、深さ方向の組成情報を調査可能 ●nm オーダーの高い深さ分解能で測定をすることが可能...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

【資料DL可：XPS/AES/AFM】表面分析に関する事例集2

変色調査や表面改質評価などXPS、AES、AFMによる事例を厳選しまし…

【掲載内容詳細（抜粋）】 ■XPSによる材料表面の変色調査 　〈特長〉 　・試料最表面（数nm）の元素情報を得ることができるため、表面処理の評価、 　表面汚染・変色の分析に有効 　・元素の特定だけでなく、元素の結合状態の解析も可能 　・分析事例 ■XPSによるPET表面改質評価 　...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社