• 偏光ビームスプリッター ワイヤグリッドタイプ・キューブ型 製品画像

    偏光ビームスプリッター ワイヤグリッドタイプ・キューブ型

    PRカスタマイズ可能なワイヤグリッド偏光ビームスプリッター、入射角依存の少…

    WGF(TM)を使用した、ワイヤグリッド偏光ビームスプリッターキューブタイプ(WGF(TM) PBS)です。 すでにハーフミラーをお使いの場合、WGF(TM) PBSに替えることで輝度向上が期待できます。 縮小系でも色や偏光度が部分的に変わることはなく、画像検査の精度を向上させます。 入射角依存が少なく、安定した光学性能を維持します。 ※WGF(TM)は旭化成の製品です。...規格品 WP...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社オプティカルソリューションズ

  • 連続離型性乾性離型剤フロロサーフ 微細成型用 ナノインプリント  製品画像

    連続離型性乾性離型剤フロロサーフ 微細成型用 ナノインプリント 

    PR連続離型性が高く、ナノレベルの表面形状やナノインプリントにも対応「フロ…

    焼き付けフッ素樹脂加工・シリコン離型剤を超える高性能フッ素系金型離型剤『フロロサーフ』をご紹介。 従来の離型剤では抜けない、連続離型性を向上させたい → そんな時に活躍します。 『フロロサーフ』はナノメータレベルの離型成分が母型表面に結合密着し、強力な非粘着性・潤滑性を金型表面に付与します。 精密複雑な形状の成形や粘着性の高い樹脂やエラストマー、割れやすい薄物の成形において、抜群の連続離型性を...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フロロテクノロジー

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    促進耐候性試験<キセノンウェザーメーター>

    自動車、塗料、建築、プラスチック、印刷物、繊維など!様々な分野で試験と…

    【スーパーキセノンウェザーメーターSX75 主な仕様(一部)】 ■放射照度と波長範囲(装置により測定波長範囲が異なる) ・60~180W/m2(300~400nm) ・0.55~1.65W/m2(340nm) ・1.10~3.30W/m2(420nm) ・550~1650W/m2(290~800nm) ・450~1350W/m2(300~700nm)...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【SEMによる断面観察】コネクタめっき 製品画像

    【SEMによる断面観察】コネクタめっき

    真実を探求!通信が悪くなった場合はコネクタ端子の不具合を疑ってみてもい…

    ポリッシャー(通称CP )を使用 ■スジ箇所のめっき状態をSEMにて観察 ■結果  ・スジなし:表面Auめっきの厚さが均一(約350um)  ・スジA:表面Auめっきの厚さが不均一(約490nm/約350nm)  ・スジB:表面Auめっきの厚さが不均一(約130nm/約650nm) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 液晶ディスプレイの分光放射輝度・色度評価 製品画像

    液晶ディスプレイの分光放射輝度・色度評価

    コントラスト比や色温度などを測定可能!光学特性の変化を定量的に評価

    まざまな光学特性を測定することが 可能です。 【測定器概要】 ■測定項目:分光放射、輝度、色度 ■測定範囲:0.0005cd/m2~5,000,000cd/m2 ■波長測定範囲:380nm~780nm ■波長分解能:1nm(有効波長幅[半値幅]:5nm) ■設置方法・治具:縦置き、平置きなど、形状に応じて対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • プラスチック成形品の歪、複屈折評価 製品画像

    プラスチック成形品の歪、複屈折評価

    複屈折位相差(歪)や流れ方向・応力方向(主軸方位)の視覚化が可能です!

    【装置原理】 ■複屈折を持つ透明体に光を当てると、その偏光状態が変化する性質がある ■複屈折測定装置を使用することで、偏光情報を専用の偏光イメージセンサで  視覚化することが可能 ■523nm・543nm・575nmの波長を使用して、透明体を通過する前後の  偏光状態を比較することで、複屈折を評価できる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • UV照射によるフィルム物性変化の解析 製品画像

    UV照射によるフィルム物性変化の解析

    ブルーライトカットフィルムの光透過性がどのように変化するか、分光光度計…

    ブルーライトカットフィルムは、通常のPETフィルムに比べ、可視光、 特に波長500nm以下の光の透過を抑える効果を有しております。 UV照射によって、ブルーライトカットフィルムの光透過性が どのように変化するか、分光光度計を用いて検証。 波長350~400nmの光の透過...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • EELS分析手法による膜質評価 製品画像

    EELS分析手法による膜質評価

    元素同定を行うEELS分析により、物質の結合状態の比較が可能です!

    用するパラメータ:エネルギー損失電子 ■エネルギー分解能:1eV以下 ■長所:状態分析軽元素分析(Li,B) ■短所:広範囲の元素を同時分析が困難 ■測定時間:5s ■TEM試料厚:約50nm以下 <EDS> ■分析に使用するパラメータ:特性X線 ■エネルギー分解能:100eV前後 ■長所:全元素についての分析 ■短所:近接するエネルギーを持つ元素のピーク分離が困難 ■測定時...

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  • 【受託分析】レーザー顕微鏡(高精度3D測定&カラー観察) 製品画像

    【受託分析】レーザー顕微鏡(高精度3D測定&カラー観察)

    試料表面の凹凸形状の3D測定や透明体越しの表面形状測定などが可能です!

    当社では、形状測定レーザマイクロスコープ「VK-X200」を用いた 受託分析を行っております。 408nmレーザーを用いて観察、計測を実施。測定結果は国家基準につながる トレーザビリティ体系に基づいており、測定機器として非破壊測定に活用できます。 レーザー顕微鏡では、試料表面の凹凸形状の3D測定...

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  • 超微⼩硬度計による材料評価 製品画像

    超微⼩硬度計による材料評価

    経年の品質管理にも役⽴つ!⾦属・⾼分⼦・セラミックス等の材料の超微⼩硬…

    ぼみの押し込み深さを直読し、 硬さを求めます。回復挙動における特性値を求めることも可能です。 【装置概要】 ■試験⼒レンジ0.4mN~1000mN 精度±0.02mN ■押し込みレンジ1nm(0.01μm)~700μm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

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  • 動的光散乱法による無機粒子の粒径測定 製品画像

    動的光散乱法による無機粒子の粒径測定

    粒径、粒子径分布を求める!水媒体中のシリカ粒子、アルミナ粒子の粒径測定…

    【シリカ測定結果・考察】 ■強酸性側に等電点があると考えられる ■pH3~10の領域では、粒子の凝集が起こらない ■50nm以下の粒径を維持 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • メルトフローレイト(MFR)測定評価サービス 製品画像

    メルトフローレイト(MFR)測定評価サービス

    化学分析・物理解析から信頼性試験までお任せください!測定評価サービスの…

    事例を ご紹介しておりますので、ぜひPDFダウンロードよりご覧ください。 【評価事例】 ■PP:ポリプロピレン ■8585:85℃85% × 336時間 ■UV:紫外線照射 253.7nm × 336時間 ■射出時間:10分(3分から換算) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • SEM-EDX分析時の加速電圧の違いによる検出感度 製品画像

    SEM-EDX分析時の加速電圧の違いによる検出感度

    正しい分析結果には適切な加速条件を!加速電圧の違いでEDX検出深さが変…

    【テスト基板概要】 ■試料は一般的なプリント基板(PCB基板)のAuめっきパッドを用いた ■層構成はCu配線上にNiめっき/Auめっきが施されたもの ■Auめっきの厚みは断面観察より、212nm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

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  • XPS角度分解法による薄膜層の深さ方向分析 製品画像

    XPS角度分解法による薄膜層の深さ方向分析

    非破壊でnmオーダーの薄膜の深さ方向分析が可能!分析事例もご紹介いたし…

    子の 検出深さを変えることが可能。 これより得られたデータをシミュレーションにより数値的に解析し、 深さ方向のプロファイルに変換します。 通常のイオンエッチング法では測定が困難な表面付近nmオーダーの、 均一な薄膜の深さ方向分析を実現します。 HDD磁気面の深さ方向を分析した事例もございます。 【特長】 ■非破壊でnmオーダーの薄膜の深さ方向分析が可能 ■均一な薄膜の深さ...

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