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    【バイオマスボイラ】イクロスのもったいないエネルギー【SDGs】

    PR木質ペレットや木質チップ、RPFなどの固形燃料に幅広く対応!燃料比較や…

    下記のようなお悩みは御座いませんか? 「油焚きボイラに使う重油の費用を抑えたい」 「産業廃棄物の処理費が高い」 「空調費が嵩むので、電気代を安く抑えたい」 「エネルギーコストを抑えられるESCO事業に興味がある」 イクロスでは、大気汚染や地球温暖化などの負荷を低減するバイオマスボイラ『Bailer』を取り扱いしております。 ごみの増加、温暖化の原因であるCO2 や大気汚染物質のダイオキシン等の排...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イクロス

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    廃プラスチックのリサイクルシステム<NEW環境展出展!>

    PR【ゼロエミッション推進!】廃プラスチックを燃料化、エネルギーコストを大…

    当社ではプラスチック再生機の国際的メーカー、エレマ社の装置を中心に 廃プラスチックのリサイクルシステムを提案しています。 特に産業廃棄物となってしまっている、マテリアルリサイクルできない プラスチックに対して油化、RPF化により燃料化し、電気、蒸気、温水等をつくりだします。 ゼロエミッションを推進し、工場のエネルギーコスト削減をサポート。 ☆補助金活用により費用を抑えた導入実績も...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社湘南貿易

  • エネルギー分散X線分光法(EDS) 製品画像

    エネルギー分散X線分光法(EDS)

    特性X線を検出!微小領域や微小異物等の元素情報を得たいときに有効な分析…

    エネルギー分散X線分光法(EDSまたはEDX)』は、電子顕微鏡(SEMやTEM)に 取り付けられた検出器で電子線照射により発生する特性X線を検出し、 試料や異物の元素情報を得る手法です。 物質に...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 形状記憶合金の変態温度測定 製品画像

    形状記憶合金の変態温度測定

    物質が温度変化にともない相変態を起こすとき、熱エネルギー変化が起こりま…

    形状記憶合金は、変形させても固有の温度以上にすると元の形状に戻る という特性を持つ合金であり、形状記憶性の発現は、 相変態(マルテンサイト変態)によるものです。 変態時の熱エネルギー変化をDSCにて捉える事で、3種類の形状記憶合金 製品の変態温度を測定し、元素分析によって組成との関係を調べました。 変形した針金をお湯に漬けると一瞬で元の形状に戻ります。 【DS...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • EELS分析手法による膜質評価 製品画像

    EELS分析手法による膜質評価

    元素同定を行うEELS分析により、物質の結合状態の比較が可能です!

    【EELS分析とEDS分析との比較】 <EELS> ■分析に使用するパラメータ:エネルギー損失電子 ■エネルギー分解能:1eV以下 ■長所:状態分析軽元素分析(Li,B) ■短所:広範囲の元素を同時分析が困難 ■測定時間:5s ■TEM試料厚:約50nm以下 <EDS> ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 表面分析ガイド 製品画像

    表面分析ガイド

    様々な表面分析手法!異物、変色、汚染などのお困りごとの解決に向けてお役…

    S」、絶縁物の分析や化学結合状態の分析が 可能な「XPS」など、様々な表面分析を行っております。 ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。 【分析手法】 ■EDX(EDS):エネルギー分散型X線分析 ■AES:オージェ電子分光分析 ■XPS(ESCA):X線光電子分光分析 ■TOF-SIMS:飛行時間型二次イオン質量分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • XPSによるバンドギャップの簡易測定 製品画像

    XPSによるバンドギャップの簡易測定

    XPSを使用して簡易的に測定することが可能!酸化物系以外の半導体もお問…

    の バンドギャップを、XPSを使用して簡易的に測定することが可能。 β-Ga2O3のバンドギャップをO1sのピークを使用して測定を行った際は、 O1sのピーク位置とバンドギャップによるエネルギー損失の端部との差より このβ-Ga2O3のバンドギャップは、約4.9eVと測定されました。 【特長】 ■XPSを使用して簡易的に測定できる ■バンドギャップの広いSiON等の薄膜の簡...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • FIB-SEMによる半導体の拡散層観察 製品画像

    FIB-SEMによる半導体の拡散層観察

    他手法より短納期!FIB-SEMによる形状観察と、拡散層観察の両方を実…

    M観察によって半導体の拡散層を可視化、 形状評価を行いました。 SEMのInlens 検出器によって内蔵電位の違いを可視化した事例では 内蔵電位によりN型とP型領域で発生する二次電子のエネルギーに差が発生。 それによって生まれる軌道の差をSEMの検出器で検出します。 【特長】 ■FIB-SEMによる形状観察と、拡散層観察の両方を実施することが可能 ■他手法より短納期で対...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

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