円筒内加工ブラシ（研削・バリ取り・仕上げ）「フレックスホーン」

PR円筒内の加工にお困りの方必見！ドリル・自動機どちらにも簡単取付で作業可…

米国BRM社『FLEX-HONE（フレックスホーン）』は、ナイロンブラシの先端に人工砥粒をボール上に結合させた円筒内専用の研削ブラシ。 円筒内に挿し込み、回転・出し入れさせて内面の研削や交差穴のバリ取り、面取り、R出し、仕上げを行います。 サイズは適用内径4mm～914mmまで豊富にご用意。 用途に合わせてお選びいただけます。 【特長】 ■凹凸のある面も研削OK ■特別な設備・機器不要でドリル...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ユーコー・コーポレーション 本社

ドライポンプ（ドライ真空ポンプ）　SST/SSXシリーズ

PR独自設計のスクリューロータによりハードプロセスをこなす、万能ドライポン…

◆独自設計のスクリューロータにより、従来ドライポンプでは不向きとされていた凝固性ガス・粉体・生成物・液体などの吸引を含むハードプロセスにおいても安定した運転を実現します。 ●ZEROEDGEスクリュー 排出効率に優れ、堅牢性を重視した構造設計により、ハードプロセスにおいても安定した運転を可能にします。 ●メンテナンス性の追求【省コスト】 設置場所にて、容易に洗浄作業や分解作業ができ...

メーカー・取り扱い企業： 神港精機株式会社 東京支店

赤外線顕微鏡『IR-1300RL』

各種シリコンデバイスの界面の各部寸法を鮮明な画像で計測する赤外線反射顕…

『IR1300RL』は、顕微鏡本体にオリンパス製BX53を使用した 赤外線顕微鏡です。 高解像度赤外線CMOSカメラとイメージエンハンサソフトにより、 各種シリコンデバイスの界面の各部寸法を鮮明な画像で計測できます。 また、独自のイメージエンハンサソフトにより、張り合わせウエハーの アライメントマークずれ計測が可能です。 【特長】 ■各種シリ...

メーカー・取り扱い企業： ディスク・テック株式会社 本社

近赤外対物レンズ『PElR2000HR 20X・50X』

故障解析で電流リークによる極微弱な発光の検出に威力を発揮いたします

の透過率を維持した対物レンズです。 半導体デバイスの故障解析で電流リークによる極微弱な発光の検出に 威力を発揮いたします。 高集積、多層配線化された半導体デバイスを、チップの裏面からシリコンを 透過してくる赤外光で観察が可能です。 ※シリコン補正対応いたしますので、ご相談ください。 【特長】 ■2000nmで80％以上の透過率を維持 ■極微弱な発光の検出に威力を発揮 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社清和光学製作所

ダイヤモンドのクラリティ観察

マイクロスコープでは目視で確認できない微小な欠陥を観察することができま…

見えるモノでも、拡大すると内包物があったり割れが あったりします。マイクロスコープでは目視で確認できない微小な欠陥を 観察することができます。 また、マイクロスコープでは半導体電子部品やシリコンチップなどの 検査、観察も行っています。ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■マイクロスコープでは目視で確認できない微小な欠陥を観察可能 ■半導体電子部品やシリコンチ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

近赤外対物レンズ『PE lR Plan対物シリーズ』

ウェハーの裏面観察などに最適！長作動距離、高解像対物レンズです

『PE lR Plan対物シリーズ』は、近赤外域の分光透過率を高く設計した 長作動距離、高解像対物レンズです。 シリコンを透過してウェハーの裏面観察をしたり、フォトエミッション 故障解析用レンズとして使用できます。 当社の顕微鏡「PS-888L」に取り付け、YAGレーザと併用することで レーザーリペアなど...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社清和光学製作所

半導体内部観察顕微鏡『NIR2021-200』

1.3メガSWIRカメラ搭載！チップ内部のメタル配線、ダイボンディング…

『NIR2021-200』は、赤外光の透過・反射特性を利用してシリコンウェハや チップ、MEMS、CSPなど半導体デバイス内部を観察できる顕微鏡です。 1ピクセル5μm、1.3MPのSONY製IMX990を搭載したSWIRカメラを搭載し、 近赤外画像であり...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社清和光学製作所

【生体材料測定向け】AFM・SPMプローブ・カンチレバー

液中の柔らかいサンプルの測定に適した低ばね定数カンチレバーを備えた液中…

ーション向け汎用SPM・AFMプローブ ■コンタクトモードとダイナミックモードのいずれにも適したデザイン ■市販されているほぼ全てのSPM・AFMで使用可能 <PNPシリーズ> ■窒化シリコンで作製されたカンチレバーと探針 ■パイレックスガラス製のサポートチップ ■個々のチップに切り分けられているので、取り扱いが容易 <uniqprobeシリーズ> SiプローブやSiNプローブ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社NanoAndMoreジャパン 本社

【高速AFM向け】AFM・SPMプローブ・カンチレバー

大気中・液中での高速AFM測定に　最大共振周波数5MHzのUSCシリー…

品は、バイオサンプルの 動態観察や材料表面のリアルタイム観察を可能にした高速AFM測定において 広く使用されています。 【特長】 ■高速スキャン用に設計 ■カンチレバーと探針は単結晶シリコンのサポートチップに固定 ■内在ストレスがなく、真っ直ぐなカンチレバー ■短冊形カンチレバーで自由末端部分はコーナーを丸く加工 ■クォーツライクマテリアル製カンチレバー ※詳しくはPDF...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社NanoAndMoreジャパン 本社

超高解像度ズームレンズ『AR-ZM0330シリーズ』

従来のズームレンズよりもFOVを1.5倍向上！各用途向けに光学系の構成…

AR-ZM0330シリーズ』は、高解像度アポクロマート光学系、4Kカメラ対応で 画像検査など目的用途に倍率を選択できるズームレンズです。 アポクロマ－トレンズの為、画像は鮮明です。 食品、シリコンチップ、チップ、 電子部品、生物学、その他の検査および研究分野で広くご使用いただけます。 ご用途に応じて異なる倍率のCマウントレンズと対物レンズを選択可能。 また、Cマウントの倍率を変更...

メーカー・取り扱い企業： アームスシステム株式会社

原子間力顕微鏡『ハンディAFM』

圧倒的な分解能を実現！今まで隠れていた微少な現象を測定

【測定検査例】 ■ソーラーセル ■炭化珪素薄膜 ■量子ドット ■シリコンウエハ ■プローブ痕 ■ICパターン ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： ソフトワークス株式会社

【測定分野】　微小サイズ　【TM3】

薄膜と微小領域の熱物性測定に。微小サイズ粒子も自在に測定可能

試料に金属薄膜を成膜し、加熱用レーザにより周期加熱 ○従来困難だった微小サイズ粒子も自在に測定可能 【その他の特長】 ○ＳｉＣ複合材料の評価 →粒子サイズは約１００μｍ、粒子はＳｉＣ（シリコンカーバイド） →次世代半導体材料（ワイドバンドギャップ半導体）、研磨用砥粒などに利用 ○樹脂中に埋め込んだフィラーの熱伝導率測定 →フィラー単独の熱物性値管理が可能 →さらなる熱伝導性向上...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ベテル　ハドソン研究所

ローラ測定機　型式 WCR-1000

高速高精度、非接触、計測角度、0度～測定でき簡単に使えます。

シリコンインゴットを切断するワイヤカット機のローラー溝形状非接触測定機です。 断面投影法でローラー外周部の溝形状をラインカメラ移動で撮影して60秒で全溝データを測定します。 詳しくは、カタログをダウンロードしてご覧下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイティ・テック

赤外線顕微鏡システム『IR1300mea』

手動動作タイプ！各種シリコンデバイスの界面の各部寸法を鮮明な画像で計測…

『IR1300mea』は、高解像度赤外線CMOSカメラとイメージ エンハンサソフトにより各種シリコンデバイス界面の各部寸法を鮮明な 画像で計測することができる赤外線透過反射顕微鏡システムです。 フォーカス軸は長ストロークになっていますので高さのある冶具に 搭載したままウエハーの検査、計...

メーカー・取り扱い企業： ディスク・テック株式会社 本社