• 【資料無料進呈中!】乾燥剤(除湿剤/吸湿剤)の使用事例と注意点 製品画像

    【資料無料進呈中!】乾燥剤(除湿剤/吸湿剤)の使用事例と注意点

    PR塩化カルシウム系乾燥剤(除湿剤/吸湿剤)の使用事例と注意点を掲載してい…

    当資料では、乾燥剤の使用事例と注意点についてご紹介しております。 乾燥剤について基礎から種類ごとの特長・吸湿性能までを説明。 また、海上コンテナと個包装における塩化カルシウム系乾燥剤の 使用事例と注意点について解説。 当社は、乾燥剤の見直し・最適化に向けてサポートいたします。 お気軽にお問い合わせください。 【掲載内容】 ■Chapter 01.乾燥剤の基礎知識 ■Chapter 02.塩化...

    メーカー・取り扱い企業: 鈴与商事株式会社 化学品営業部

  • プローブピンセーバー(異方性導電シート) 製品画像

    プローブピンセーバー(異方性導電シート)

    PR半導体パッケージの電気検査のプローブピンへの半田転写、先端摩耗及び半田…

    『Probe Pin Saver(プローブピンセーバー)』(PPS)は、半導体パッケージの電気検査時に発生するプローブピンへの半田転写、ピンの先端摩耗及び、半導体パッケージの半田ボールダメージを抑制する異方性導電シートです。 半導体パッケージとプローブピン間へ挟んでご使用頂くことで、半田ボールとプローブピンのハードな接触を回避しますので、半田ボールに与えるダメージを軽減すると同時に、プローブピン寿...

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    メーカー・取り扱い企業: ユナイテッド・プレシジョン・テクノロジーズ株式会社 本社

  • 表面電荷分析装置 SCA2011 製品画像

    表面電荷分析装置 SCA2011

    表面電荷分析装置

    表面電荷分析装置は、半導体前工程管理とりわけ熱酸化膜、CVD膜形成、メタライゼーション、洗浄及びエッチングなどプロセス中に生じた汚染とダメージのモニタリングに最適です。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

  • シリコンブロック内部異物検査装置 製品画像

    シリコンブロック内部異物検査装置

    シリコンブロック内部異物検査装置

    ワイヤーソー等でシリコンブロックをスライスする際に、事前にIRB-30にて内部異物箇所を検査し、対応して頂くことによって、ワイヤーソーのダメージ、断線を抑えることが可能です。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

  • FastGateインライン向けCV・IV測定装置ECV-2500 製品画像

    FastGateインライン向けCV・IV測定装置ECV-2500

    FastGate インライン向けCV・IV測定装置

    電極形成が不要な上、ウエハーにダメージを与えず、コンタミネーションも残さないことからインラインで使用出来る装置です。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

  • 非接触・非破壊インプラモニター PMR-3000 製品画像

    非接触・非破壊インプラモニター PMR-3000

    インプラ後のドーズ量モニタリングとアニール処理前後のジャンクション深度…

    【装置の原理】 ■Generation Laserは過剰少数キャリアを発生させ、明らかなダメージが存在するところを熱します ■過剰少数キャリア勾配は屈折勾配のインデックスを形成します ■Probe Laserはジャンクション深さ、ドーズレベル、PAI深さを測定するために屈折勾配インデック...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

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