アルミ製　水冷ヒートシンク「YCシリーズ」

PRアルミ型材により成形しているため、銅製と比べ3～4割の低コスト化を実現…

電気、電子機器に使用されている半導体素子(トランジスタ、CPU、IGBT 等)は、 動作中に冷却を行わないと素子から発生する熱のため素子そのものを破壊する場合があります。 ヒートシンクは、この熱をすばやく移動させ冷却することにより素子の破壊を防ぐ電子部品のラジエーターです。 冷却方法は、発生する熱により生じる空気の対流を利用した自然冷却と、ファンにより空気を強制的に対流させたり、水などの冷却媒...

メーカー・取り扱い企業： LSIクーラー株式会社

各種多芯型ハーメチックシール

PR厳しい気密・絶縁性が求められる用途に好適！試作から量産まで幅広くサポー…

『各種多芯型ハーメチックシール』は、金属とガラスで製作する 気密・絶縁性に優れたターミナル（端子）です。 気密性は1×10－9Pa・m3/s以下、 絶縁抵抗はDC500Vで1000MΩ以上に対応！ 封着・ロウ付け・鍍金加工・溶接加工のほか、 試作から量産まで用途や目的に合わせた製作が行えるのも特長です。 ◎詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。.....

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フジ電科

『TEMの基礎』『TEMの応用と事例』※希望者全員にプレゼント

高分子や半導体など、幅広い分野の研究開発に活躍するTEM（透過電子顕微…

の使い分け　　　■超高分解能HAADF観察 <TEMの応用と事例> 　■分析事例 　　・雰囲気制御＆冷却下でのTEM分析 　　・SiCパワーMOSFETのコンタクト電極評価 　　・微細トランジスタの構造評価 ※小冊子をご希望の方は「お問い合わせ」より、 　“カタログ送付希望”の欄にチェックを入れてお申し込みください。 （ダウンロードいただけるPDF資料は冒頭の数ページとなります...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

クロスビームFIBによる断面観察

FIB加工をリアルタイムで観察しながら断面観察が可能です。

半導体デバイス、MEMS、TFTトランジスタなど ナノスケールで製造されるエレクトロニクス製品の構造解析を クロスビームFIBによる断面観察で行います。 １）FIB加工をリアルタイムで観察できるため目的の箇所を確実に捉えます。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

SiC顕微観察装置『SCM-100』

SiC試料の顕微鏡画像をカメラで撮影、リアルタイムLCD出力

『SCM-100』は、あらかじめプログラムされた電流をSiC試料の トランジスタの内蔵ダイオードに印可する機能を持った SiC顕微観察装置です。 電流印可時に電流が流れない箇所（欠陥）は発光しないため 顕微鏡に取り付けたカメラで撮影して欠陥を見つけることが可能です...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フォトサイエンス

ナノプロービングシステム 「Prober Shuttle」

SEM / FIB用ナノプロービング（マニピュレータ）システム 「Pr…

ゾ駆動による最小動作分解能は0.25nm、プローブTip径(R)は最小30nmです。観察倍率に合わせて動作スピード(分解能)を切換えることで、低倍率〜高倍率での使用が可能です。 ナノチューブやトランジスタなどナノ試料のマニピュレーションから電気特性評価まで行えます。 ● SEM式ナノプロービングに特化 ● ロードロック式SEM対応 ● コンパクトサイズ ● 高い拡張性...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アド・サイエンス