• 逆作動空圧解放ディスクブレーキ NDB-A形 製品画像

    逆作動空圧解放ディスクブレーキ NDB-A形

    PR空圧によりブレーキを解放し、空圧を切った時にコイルバネでブレーキする逆…

    小型・軽量で取り付けが簡単です。 【特徴】 ○空圧源が切れたときの非常停止用として好適です。 ○ブレーキを解放している時間よりブレーキしている時間の長い保持用あるいはパーキング用として好適です。 ○使用空気量が少ないため応答性が良く、コイルバネで動作するため確実かつ迅速にブレーキします。 ○パッドがピストンに固定されているため、ブレーキ解放時にパッドとディスクとの接触がありません。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 友信株式会社

  • 糊無し吸着シート・フィルム『ゼオンALシート』 製品画像

    糊無し吸着シート・フィルム『ゼオンALシート』

    PR粘着剤を使っていないので、密着面を汚さない!様々な製品への展開ができる…

    『ゼオンALシート』は、糊を使わない便利な吸着シートです。 糊粘着ではなく、吸盤効果でエアが抜けながら吸着する為、 どなたでも簡単・キレイに貼る事ができます。 また、屋外使用が可能なグレードも開発・上市しました。 何度でも貼ったり剥がしたり出来るため大変便利で、アイデア次第で さまざまな製品への展開ができる画期的なシートです。 【特長】 ■平滑面なら、ほとんどどんな素材に...

    メーカー・取り扱い企業: ゼオン化成株式会社 高機能材料部

  • 【EDSによる分析事例】Cuパッドの接合界面 製品画像

    【EDSによる分析事例】Cuパッドの接合界面

    各元素の分布を2次元的に見ることが可能!多層状の試料の分析の際にも有効…

    Cuパッドの接合界面におけるEDSによる分析事例をご紹介いたします。 金属間化合物の定性分析(点分析)と半定量分析では、各特性X線の強度 (カウント数)を調べることで含有元素の濃度を算出。金属間化合...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • エッチング処理による金属間化合物の観察例 製品画像

    エッチング処理による金属間化合物の観察例

    奥方向と表面から化合物の状態を観察!加⼯、前処理、観察⼿法や組み合わせ…

    とがあります。 はんだの接合部を断面から2次元で観察することがあるかと思いますが、 3次元的に化合物がどのように成長しているか疑問に思われたことは ありませんか。 当資料では、Cuパッドとはんだの接合部の観察例をご紹介。 「断面観察」と「平面観察」を掲載しております。 【掲載内容】 ■断面観察  ・エッチング処理前  ・エッチング処理後 ■平面観察 ※詳しく...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【分析事例】SiC基板におけるSSDP-SIMS分析 製品画像

    【分析事例】SiC基板におけるSSDP-SIMS分析

    SiC基板側からドーパント濃度プロファイルを取得可能

    SiCパワーMOS FET(図1)において、ゲートパッド部下のSiC中にてドーパント元素であるAlの濃度分布を素子表面側から及び裏面側からSIMSで評価しました(図2)。 分析を進める方向に関係なく深さ約0.5μm以降の分布もよく一致することから、A...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【資料DL可:FIB】FIBによるナノレベル高精度加工 製品画像

    【資料DL可:FIB】FIBによるナノレベル高精度加工

    FIB装置によりSi基板上に”マスクレス”でナノレベルの加工を狙った位…

    料をご一読ください。 また弊社はFIBによるICおよびLSIの回路修正を目的とした配線修正も強みとしております。 具体的には以下 ・配線の切断 ・配線の接続 ・特性評価用のテストパッドの作製 を短納期で行い、お客様のICおよびLSI開発のお手伝いをさせていただいております。 こちらもお気軽にご相談いただければ幸いです。 ※詳細が必要であればお気軽にお問い合わせ下さ...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社

  • 【DL可】FIBによる微小対象物(ICコンタクト部)の断面作製 製品画像

    【DL可】FIBによる微小対象物(ICコンタクト部)の断面作製

    FIBで微小対象物(例えばICコンタクト部)の任意箇所、ここという場所…

    一読ください。 また、弊社はFIBによるICおよびLSIの回路修正を目的とした配線修正も強みとしております。 具体的には以下のとおり ・配線の切断 ・配線の接続 ・特性評価用のテストパッドの作製 等を短納期で行い、お客様のICおよびLSI開発のお手伝いをさせていただいています。 その他、FIBの関連技術として 『FIBによるめっき層内の異常個所発見方法』 の事例がありま...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社

  • 【資料DL可:FIB】FIB装置によるSi基板へのパターン描画 製品画像

    【資料DL可:FIB】FIB装置によるSi基板へのパターン描画

    FIB装置でシリコン基板上に高精度のパターン形成を行えます。マスクレス…

    ています。 尚、弊社はFIBによるICおよびLSIの回路修正を目的とした配線修正も強みとしております。 具体的には以下のとおりです。 ・配線の切断 ・配線の接続 ・特性評価用のテストパッドの作製 等を適切に短納期で行い、お客様のICおよびLSI開発のお手伝いをさせていただいております。 お気軽にご相談いただければ幸いです。 ※詳細が必要であればお気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社

  • <資料DL可>【FIB-SEM】めっき層内の異常個所発見方法 製品画像

    <資料DL可>【FIB-SEM】めっき層内の異常個所発見方法

    FIB-SEM装置で表面からは分かりづらいめっき層内の異常個所を観察で…

    わせ下さい。 ※なお、弊社はFIBによるICおよびLSIの回路修正を目的とした配線修正も強みとしております。 具体的には以下のとおり ・配線の切断 ・配線の接続 ・特性評価用のテストパッドの作製 等を短納期で行い、お客様のICおよびLSI開発のお手伝いをさせていただいています。 お気軽にご相談いただければ幸いです。 ※その他資料の準備もあります。問い合わせボタンからご用命...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社

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