『３Ｄ溶接検査装置システム』高速ビート検査

PR『溶接対象形状をロボットで正確にトレース！　寸法検査・形状検査も可能』…

『3D溶接ビード検査装置』は、ライン状のレーザ光源を検査ワークに 照射し、その反射光を高さデータとして取得する「光切断法」を 採用しています。 ロボットに取付けた3Dカメラでスキャンニングすることにより 三次元形状を計測できます。 また、検査中、通信でロボット位置・姿勢 情報を取得しているため、 加減速や姿勢変化にも対応可能です。 【特長】 ■自動での高速ビード検査 M...

メーカー・取り扱い企業： 東日本イワタニガス株式会社 開発本部

【事例集】レーザー干渉式リニア変位センサによるQA＆QC

PRナノメートル精度で変位・変形・振動を計測。超高真空・高磁場対応。最大５…

attocube(アトキューブ)社のレーザー干渉式変位センサは、物体のリニア運動の変動量を測定する装置です。 さまざまな材料や形状をもつ対象物の変位を、数ミリメートルから数メートルまでの広い範囲で測定できます。 小型モジュール式で、3軸まで構成可能です。 位置信号はクローズドループ位置決めシステムのフィードバックシグナルとして利用できます。 回転の振れ測定、振動測定、工作機械の校正など、高度な...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本レーザー

比類なき高視野・高分解能な干渉型３Ｄレーザー走査顕微鏡

他に比類なき高視野・高分解能を実現した、干渉型３Ｄレーザー走査顕微鏡（…

レーザ走査を用いた初めての干渉計測 　光沢紙程度の反射で干渉縞が出現。干渉縞で50nｍの変化をとらえます ●倒立型レーザ走査干渉計（型番：LSMi-7000） 　　サンプルをガラス面に置けば、簡単に干渉縞計測可能。 　　走査範囲は30ｍｍ×50ｍｍ、モニター上で拡大観察可能 　　セラミックスなどの細い傷、研磨不良、欠けなどが検査可能 　　干渉縞解析ソフトはオプション ●円筒用レーザ走...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ワイ・ドライブ

共焦点レーザー顕微鏡（DMDコンフォーカルレーザー顕微鏡）

自動検査機への搭載に適したレーザー顕微鏡

【概要】 顕微鏡の光源としてレーザーを使用しているので、単一波長による安定した計測が可能。 レーザースキャンにDMD(Dgital Micromirror Device・デジタル マイクロミラー デバイス)を採用することで、高速＆広角偏向が可能となり、従来のレーザー顕微鏡以上の広視野を高速で画像取得することが可能となりました。 【特長】 ●コンフォーカルによる全焦点画像 　共焦点方式...

メーカー・取り扱い企業： 大倉インダストリー株式会社

最大7波長レーザーコンバイナ LightHUB Ultra

最大7波長のDPSS / LDレーザーモジュール（375～1550 n…

〇375nm～1550nmの範囲で最大で7つの波長を搭載可能 〇1本 or 2本のファイバー出力の選択が可能 〇エンドユーザーでの波長の追加・交換が可能 〇TEC搭載：最高の温度安定性を実現 〇パッシブまたはアクティブ冷却ユニットが選択可能 〇オプションでフェールセーフシャッターを搭載可能 〇全てのレーザーで直接アナログ・デジタル変調可能 最高で7波長までのLDまたはDPSSを小...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本レーザー

２色レーザー装置 TAK-TCL-100

少ない光学調整にて異なる２つの波長を用いた光学実験が可能なレーザー光源

このレーザーでは、異なる波長のレーザー光源を内蔵させ、 簡単なスイッチ切り替えで、レーザーの波長選択が可能となりました。 量産をされたい場合にも、当社とアライアンスを組む多くの企業さんとの連携にて、 価格と性能を最適化していきます。 【特徴】 ・２色の異なる波長のレーザー光源を内蔵し、スイッチによってその波長を選択可能 ・レーザー波長は、内蔵させるレーザー光源の種類を変えること...

メーカー・取り扱い企業： TAK　SYSTEM　INITIATIVE　CORPORATION

3次元顕微鏡『Digiholo Micro Max』

微生物や細胞などの生体試料、金属やガラス表面などに触れることなく、3次…

『Digiholo Micro Max』は、レーザー光の干渉を利用したデジタルホログラフィ 技術を用いて、微生物や細胞などの生体試料あるいは金属やガラス表面などに 触れることなく、3次元形状を瞬時に復元できる顕微鏡です。 浄水処理障害の原因藻類の早期発見システムをはじめ、生命科学研究向け 生細胞の非侵襲3次元計測や、金属・ガラス表面等の3次元計測として 使用いただけます。 【特...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社マクシスエンジニアリング 名古屋支店

白色干渉計搭載 レーザ顕微鏡『VK-X3000』

ナノ・マイクロ・ミリが一台で測れるトリプルスキャン方式のレーザ顕微鏡

『VK-X3000』は、レーザ共焦点・フォーカスバリエーション・白色干渉の 3つの異なるスキャン原理が一台で使用できるレーザ顕微鏡です。 サンプルワークの素材や形状や測定範囲に合わせて好適なスキャン方式を 選択することにより、高精度に測定が可能。 高さや寸法を計測するだけの従来型の測定ソフトではなく、さらに一歩 踏み込んだ解析を豊富な解析ツールによって思いのままに実現します。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社キーエンス

粒子画像速度測定法 (PIV) - マイクロ PIV

顕微鏡向けステレオ PIV になります。 MEMS / Lab-on…

【主な特徴】 - ミクロンレベルの分解能で速度、温度、濃度、液滴径、pHの測定が可能 - 2D2C / 2D3C に対応 - 速度とスカラー量の同時計測も可能 - 従来型の速度2成分に対し、速度3成分の計測にも対応 レンズの倍率が高く、分解能、測定精度も優れ、被写界深度の調整も可能 - 専用のキャリブレーションキットにより、立体イメージをマイクロレベルで補正が可能 - インターロック...

メーカー・取り扱い企業： ダンテック・ダイナミクス株式会社

TCSPCモジュール

蛍光寿命測定に最適。最小1.6ピコの世界最高の時間分解能。高効率、高速…

光の高速現象をTCSPC : Time Correlated Single Photon Counting（時間相関単一光子計数法）にて、計測・分析するエレクトロニクスモジュールです。...1枚のPCIボード上にCFD（定比率波高弁別器）、TAC（時間-電圧変換器）、ADコンバーター、マルチチャンネルアナライザー、メモリーおよびその他の関連制御回路を集積しています。 システムは、リバース スタート...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東京インスツルメンツ