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    『ローコスト海外製品ポンプ』導入事例&カタログ進呈

    PR【※デモ機無料貸出中】韓国メーカーよりポンプを直輸入(総代理店)し低価…

    当社は、産業機械用や医療機器用ポンプの提供で豊富な実績をもっております! 今回は、なかでも当社が日本総代理店である韓国・G&M Tech.社製の『ローコストポンプ』をご紹介します! 【ラインナップ(一部)】 <オイルレス ピストン式真空ポンプ DCモータータイプ> ■低価格でコストダウンに貢献 ■特殊樹脂製ピストンリングを使用し、オイルフリー ■メンテナンスが容易で、国内採用実績が...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社CSP(シーエスピー)

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    マルチカッティングマシンのACS”九州印刷情報産業展”出展

    PR九州印刷情報産業展 出展。 カッティングマシンでのデモンストレーション…

    開催:2024年5月31日(金)~6月1日(土) 会場:福岡国際センター 小間番号:B-29 出展機種:AS1613F(平型) ASZ1209S(縦型) ※詳細は弊社HPをご覧下さい。 https://acs-1980.com/ お客様がお使いの素材に関するカットのご相談、テストカットも承ります。 展示会へのご来場以外でもお気軽にご相談下さい。 ※ご相談フォームはコチラ  htt...

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    メーカー・取り扱い企業: ACS株式会社

  • 膜厚分布/屈折率分布 計測エリプソメータ『SEシリーズ』 製品画像

    膜厚分布/屈折率分布 計測エリプソメータ『SEシリーズ』

    コンパクトサイズ!点/線/面分布測定が可能なモデル、低価格モデルをライ…

    能。 数mm程度の狭い領域内の膜厚/屈折率分布の測定に適しています。 「SE-101」は、コンパクトで簡単操作ながら、サンプルのチルト センサーも装備。他のシステムへの組み込みも容易な、低価格モデルです。 【特長】 <SE-102> ■コンパクトサイズ ■数mm程度の狭い領域内の膜厚/屈折率分布の測定に適している ■点/線/面の3つの測定モードを切り替えての簡単測定 <...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フォトニックラティス

  • 電気抵抗式膜厚計 「RST-231」 製品画像

    電気抵抗式膜厚計 「RST-231」

    操作が簡単で短時間!絶縁物上の金属皮膜を高精度に測定する膜厚計

    理を行なうことができます。 40チャンネルまで登録できるので、ユーザー名や部品番号などにより別々の登録をしてチャンネルの管理が可能。 また、プローブの探針を破損した場合、探針1本ごとに交換でき低価格での修理が可能です。 【特徴】 ○絶縁物上の金属皮膜を0.7秒で測定 ○パソコン使用で見やすい画面 ○較正や測定が簡単 ○ヒストグラム、プロファイルなどすぐに閲覧可能 ○異...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社電測

  • デュアルタイプセンサ一一体型膜厚計『OSK 50QFCT 28』 製品画像

    デュアルタイプセンサ一一体型膜厚計『OSK 50QFCT 28』

    自動素地判別機能を搭載、電磁式と渦電流式兼用の膜厚計です。

    測定範囲は0〜1250 µm 低価格ながら高精度で測定可能(±2%または2.5 µm) センサーに伸縮性のある覆いを採用、稼動中の装置で振動があっても測定が可能 V形の溝により、丸い表面でも軸点および基準点が決めやすい 片手で...

    メーカー・取り扱い企業: オガワ精機株式会社

  • 分光エリプソメータシステム 製品画像

    分光エリプソメータシステム

    新たにDUVをサポート。小型でコストパフォーマンスに優れています

    当社では、EllipsoTechnology社製の分光エリプソメータシステムを 取り扱っております。 操作しやすいソフトウェアで、導入しやすい低価格。 また、豊富なオプション(自動ステージ、オートアングル、オートフォーカス& オートチルト)、さらにウェハーマッピングに対応しております。 無償及び有償サンプル測定を行っておりますので、...

    メーカー・取り扱い企業: ミワオプト株式会社

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    膜厚測定向け干渉スペクトル測定システム OP-FLMT-IFS

    膜厚測定向けの干渉スペクトル測定システム

    特長 ・ 低価格・取り扱い簡便 ・ 簡易接続(ハードウェア):USBバスパワー ・ 簡易設置(ソフトウェア): OPwave+ ・ 膜厚、光学定数決定のための反射率測定モード ・ ソフトウェア:容易なリファレンス...

    メーカー・取り扱い企業: オーシャンフォトニクス株式会社

  • 膜厚測定装置(エリプソメーター) 製品画像

    膜厚測定装置(エリプソメーター)

    小型・低価格・高精度・使い易さを追求して開発されたエリプソメーター

    レーザー光による偏光解析法を用いて、シリコンやガラス基板の光学特性や、基板上の薄膜の膜厚や光学特性(屈折率など)を非接触・高精度に測定します。...レーザー光による偏光解析法を用いて、シリコンやガラス基板の光学特性や、基板上の薄膜の膜厚や光学特性(屈折率など)を非接触・高精度に測定します。...

    メーカー・取り扱い企業: ハイソル株式会社

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