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6件 - メーカー・取り扱い企業
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PRわずか4.76mmの断面寸法を実現。省スペース・軽量化により、設計自由…
ケイドンの『超薄型ボールベアリング』は断面寸法が小さく、省スペース化と軽量化を実現しており、設計の自由度が向上します。 内径は25.4~1016mm、断面寸法は4.76~25.4mmまで幅広くラインアップ。 4点接触型、アンギュラコンタクト型、深溝型があり、特殊環境での使用も可能です。 【特長】 ■専門メーカーとして量産体制を確立しており、短納期にも対応 ■ボールベアリングのため...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社木村洋行
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工場保全・メンテナンス、生産技術者のための工場工事【事例集進呈】
PRコンベアや空調などの機械設備の保全実績10点をまとめた事例集を進呈!お…
三重県を中心に、製造業や工場向けに幅広く機械設備や営繕工事、部品加工などの実績が多数ある酒重が、コンベアや空調などの機械設備の保全実績10点をまとめた事例集を進呈中!対応可能な施工サービス一覧や食品・繊維・半導体業界などでの製作実績について詳しく掲載。 また、機械設備の施工実績が多数ある酒重だからこそわかる、「ポンプ選定時に確認すべき7つのポイント」も併せて進呈中です! 工場工事・修理メンテナン...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社酒重
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厚み測定-光学センサ『CHRocodile 2LR ver2』
非接触の光学厚み測定。高精度が求められる半導体ウエハの厚み測定でも適用…
LR』と異なる新ディテクタを採用し、約2倍の厚み測定範囲、かつより高精度に測定できるようになりました。インラインでも適用可能で、CHRocodile 2LRは多くのお客様へ実績があります。Si等の半導体ウェハー厚み測定をはじめ、フイルム、樹脂、ガラス、太陽電池等の厚み測定も可能です。干渉膜厚最大16層まで対応しています。 【特長】 ■幅広い厚み測定範囲 、様々な材質に対応 豊富...
メーカー・取り扱い企業: プレシテック・ジャパン株式会社
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光学式センサで、Si0.5~200umの広範囲の厚み測定。5kHzの高…
非接触の光学厚み測定。高精度が求められる半導体ウエハの厚み測定でも適用可能。 新製品『CHRocodile 2 SX』は、ウエハやコーティングなど材料厚みを非接触測定できる装置です。最大5kHzと高速サンプリングが可能なため、インラインでも...
メーカー・取り扱い企業: プレシテック・ジャパン株式会社
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【デモ可能】化合物半導体材料の組成比の評価も可能!非接触・非破壊でエピ…
『分光エリプソメーター』は、非接触・非破壊でエピ膜を含む薄膜の膜厚値、 屈折率、消衰係数を精度良く測定する薄膜評価装置です。 化合物半導体材料の組成比の評価も可能。 主な評価・測定項目は、“薄膜の膜厚値”、“エピ膜厚値”、“屈折率”、 “消衰係数”、“化合物半導体の組成比”、“ドーパント濃度”です。 【主な評価・測定項...
メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
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不透明体の非接触厚み測定 レーザフォトサーマルセンサ 導入事例有
不透明体の厚み高精度測定なら、Enovasenseの レーザフォトサー…
・1~3%以下の高精度測定が可能。 精度が不足している方にお勧め。 ・母材に依らず様々な材料の組み合わせで測定可能。 ■アプリケーション 自動車業界、航空業界、日用品、産業品、医療業界、半導体など多岐にわたる分野にて、 コーティング厚み、金属メッキ厚み、塗装膜など様々なアプリケーションで使用されています。 *現在、Enovasense社は、ドイツの光学センサメーカーのPrecite...
メーカー・取り扱い企業: プレシテック・ジャパン株式会社
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化学の世界に価値を刻む!化学の総合商社、株式会社イセヤマ
ー電着用薬品 [表面処理設備・機器] ○表面処理プラント(自社製品) ○付帯機器 ○金属加工 ○ライニング ○計測機器 ○公害防止プラント(自社製品) [表面処理プラント] ○半導体・電子部品・コネクター連続めっき装置 ○フープ連続めっき装置 ○無電解めっき装置、他 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社イセヤマ
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ユーザーのニーズに合う多種多様な真空装置のカスタマイズ製作を行います
う『各種真空成膜装置』をご紹介します。 当社では、ユーザーのニーズに合う多種多様な真空装置の カスタマイズ製作を行います。 HIPIMS法による成膜を行う「ICF成膜装置」をはじめ、半導体プラズマ洗浄用 プラズマエッチング装置「NAPE500」などをご用意しております。 【ラインアップ】 ■ICF成膜装置 ■プラズマエッチング装置「NAPE500」 ■パルスバイアス実...
メーカー・取り扱い企業: ナノテック株式会社
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