• 人手不足解消&効率化に!『商品整列ロボット』※動画公開中※ 製品画像

    人手不足解消&効率化に!『商品整列ロボット』※動画公開中※

    PR製品ができるまでは自働化されていてもその後の工程で人手がかかっていませ…

    株式会社アルクでは、『商品整列ロボット』を取り扱っております。 製品ができるまでは自働化されていてもその後の工程で人手がかかっていませんか? ピッチがバラバラにコンベアに製品が流れてきても、ロボットが製品の 向きに合わせて吸着。そして所定の位置に整列させます。 さらに、商品の集積・段重ねも可能に! ロボットの能力を上げることにより、作業数を上げることが可能となります。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アルク 本社

  • 【車載・EV】デバイス用テストソケット 製品画像

    【車載・EV】デバイス用テストソケット

    PRADAS(先進運転支援システム)において欠かせない車載カメラ用ソケット…

    自動車の信頼性や安全性を支える大切な要素になる為、開発時や量産時など各工程で適切な検査が必要です。 当社ではカメラモジュールをはじめセンサー/LED/車載・EVデバイス用の検査治具をカスタムで設計・製作致します。 【特徴】 ・モジュールの光学中心に合わせる「位置補正機構」の搭載が可能 ・多様なモジュールや形状に対応可能 ・PCB・FPC・BtoB等のコネクタへの適切なコンタクトをご提...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社SDK

  • 半導体後工程の組立&テスト(OSAT) 製品画像

    半導体後工程の組立&テスト(OSAT)

    国内でのPKG開発、OSAT委託はエスタカヤ電子工業株式会社へお任せく…

    エスタカヤ電子工業株式会社では、半導体後工程のPKG開発、評価、解析までの事業を展開しております。 PKGの設計から製造、テスト、各種設備開発、信頼性試験、開発までを国内の社内インフラで一貫対応しております。 国内の岡山県の工場内...

    • その他.png

    メーカー・取り扱い企業: エスタカヤ電子工業株式会社

  • [スマートサービス]製造工程へのデジタル技術導入 製品画像

    [スマートサービス]製造工程へのデジタル技術導入

    インテリジェントに接続されたデバイスで、スマートファクトリーを設計

    ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 製造業は人工知能とモノのインターネット(AIoT)の導入が活発になっています。効率的な工場、スマートな製造ライン、簡単な監視によりAIoTソリューションは効率、安全性、工場全体の出力の点で計り知れないメリットをもたらすことが期待されています。...工場にAIテクノロジーが導入されたことで、生産ラインに沿ったロボットとデバイス...

    メーカー・取り扱い企業: イノディスク・ジャパン株式会社

  • 高品質メモリ:自社ファブ保有で長期供給が可能! 製品画像

    高品質メモリ:自社ファブ保有で長期供給が可能!

    台湾台中市および高雄市にある12インチファブをベースに、高品質メモリ製…

    12インチウエハ前工程ファブにて、継続的な生産能力を拡大中...

    • HYPERRAMバナー画像(550×550px).png

    メーカー・取り扱い企業: ウィンボンド・エレクトロニクス(Winbond Electronics Corp. Japan) 株式会社

  • フラッシュプラグラミングシステム 総合カタログ 製品画像

    フラッシュプラグラミングシステム 総合カタログ

    総合カタログ進呈中!従来比4倍でマイコンやフラッシュメモリを高速処理

    シュメモリなど幅広いデバイスに対応。べリファイサイクル400ns、従来比4倍の処理速度を実現し、プログラム・ベリファイの高速処理が可能になりました。また、全自動プログラミングシステムを使うことで生産工程の自動化・大量生産ができ、最大64個の同時処理で書き込みがとてもスピーディーです。開発から量産までのサイクルの短縮、低コスト化に役立つフラッシュプラグラミングシステムの総合カタログを無料プレゼント。...

    メーカー・取り扱い企業: ウェーブテクノロジー株式会社

  • 各種メモリ製品の生産 製品画像

    各種メモリ製品の生産

    メモリモジュール生産歴15年の信頼と実績。生産能力は月産34万枚

    【各種メモリ製品生産工程】 ■はんだ印刷 ■マウンター実装 ■リフロー ■実装確認検査 ■基板分割 ■電気特性検査 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社エイム

  • 【分析事例】XPSによる単結晶Si表面のダメージ評価 製品画像

    【分析事例】XPSによる単結晶Si表面のダメージ評価

    高分解能測定と波形解析を利用してc-Siとa-Siの状態別定量が可能

    半導体の製造工程において表面改質を目的としたイオン照射を行うことがあります。その中で、単結晶Si表面に不活性元素のイオンを照射することで構造の損傷が生じ、アモルファス層が形成されることが知られています。 高分解能...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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