• 乾湿粉体原料 連続式『混練・造粒機』※納入事例集進呈! 製品画像

    乾湿粉体原料 連続式『混練・造粒機』※納入事例集進呈!

    PR不等速2軸に各々配列の撹拌羽根で、付着性が高い対象物も効率よく混練・造…

     新日南『混練・造粒機』は、2500台以上の実績がある「ダウミキサー」ノウハウをもとに、製品化しました。    混練機『ダウミキサーPX型』は、回転速度が異なる2軸(不等速2軸)にらせん状配列の1条/2条巻の多様なパドル構成(複数特許取得)で、セルフクリーニング効果が常に作用して付着性が高い対象物でも効率よい混練効果と圧密効果が得られます。また、この作用で等速2軸式では避けられない、繰返し応力...

    • ダウペレ(連続式)造粒実験動画00h00m03s84.jpg
    • ダウペレ(連続式)造粒実験動画00h00m08s08.jpg
    • ダウペレ(連続式)造粒実験動画00h00m17s39.jpg
    • PB260757造粒○00h05m14s11.jpg
    • 南国CF画像2.jpg
    • 南国ダウミキサ画像3.jpg
    • 南国ダウペレ画像1.jpg
    • 混練造粒試験装置和歌山P9291145R4.jpg

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社新日南 京浜事業所

  • 脱墨・脱積層 - プラスチック・リサイクルの革新技術 - 製品画像

    脱墨・脱積層 - プラスチック・リサイクルの革新技術 -

    PRKEYCYCLE DEINKING

    脱墨技術 - KEYCYCLE DEINKING - は、フィルム表面に印刷されたインクを完全に除去することが可能です。この技術は世界でも類を見ないものであり、この技術を応用してフィルムやシート表面に塗工された物質の除去にも活用され、金属箔やMLCC離型フィルムの脱積層(シリコンやセラミックの除去)も可能です。 工程は、特殊なソルベントフリーの洗浄液に破砕した対象物を投入し、一定時間攪拌し、...

    • KCD3.PNG
    • KCG2.PNG

    メーカー・取り扱い企業: 双日マシナリー 株式会社 環境・生活産業システム本部

  • 中・近赤外分光計による製造工程のモニタリングセミナーのご案内 製品画像

    中・近赤外分光計による製造工程のモニタリングセミナーのご案内

    【無料開催!】ガス分析用FT-IR製品と新製品BEAMを含むFT-NI…

    本ウェビナーでは赤外分光計および近赤外分光計を活用した プラント規模の反応追跡や工程管理をテーマとし、 前半では、測定時間やコスト面で課題のあるガスクロの代替手段となる ガス分析用FT-IR製品およびアプリケーション例を 後半では、新製品BEAMを含むFT-NIR製品および ...

    • Reaction Monitory-banner (1).jpg

    メーカー・取り扱い企業: ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部

  • 【分析事例】汚染原因となる工程の調査 製品画像

    【分析事例】汚染原因となる工程の調査

    手袋由来の汚染の評価

    半導体デバイス製造において汚染工程を調べるため、不良の原因となる薄い付着物が何に起因するかを調べる必要があります。EDXでCが検出され、XPSで定量を行った付着物について、TOF-SIMSで分析を行いました。各工程で使用している標準...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】フッ素系潤滑剤・高分子の同定 製品画像

    【分析事例】フッ素系潤滑剤・高分子の同定

    汚染成分を同定し、汚染発生工程を推定

    フッ素系の化合物はさまざまな種類が存在します。汚染原因調査の際、フッ素系の種類の定性を行うことで、原因となった工程を調べることが可能となります。そこで、表面敏感なTOF-SIMSを用いて水はじきのよい場所に何が付着しているか分析を行いました。 各工程で使用しているフッ素系のオイルは、種類によってフラグメントパ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 前処理⾃動化システムによるPCR検査 製品画像

    前処理⾃動化システムによるPCR検査

    【新型コロナウイルス】◆前処理⾃動化システムによるPCR検査◆ 20…

    を目的に、衛生検査所としてPCR検査を受託しているMSTが企画・考案しました。ヤマト科学株式会社に設計・製作を委託し、株式会社デンソーウェーブ社製人協働ロボットCOBOTTAⓇを用いPCR検査前処理工程の自動化を実現しています。 本システムが担う工程の品質・精度を確保するため、検査者の作業動作を解析し、クロス汚染を回避するための注意点をシステムに反映しています。加えて、二次元コードによる検体...

    • ○DSC_0035_1.jpg
    • ○DSC_0060_1.jpg

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 液晶パネルの不良解析 製品画像

    液晶パネルの不良解析

    点灯確認、パネル解体、光学顕微鏡観察により、不良発生箇所を絞り込みます…

    験)、パネル解体、光学顕微鏡観察、 不良症状に合わせて実施。 詳細解析では、初期解析での診断結果をもとに表面分析、断面解析、成分分析 など好適な手法をご提案いたします。 原因となった生産工程の絞り込みなど不良発生メカニズムの推測も可能です。 【解析内容】 ■初期解析 ・現状確認(点灯試験)、パネル解体、光学顕微鏡観察、不良症状に合わせて実施 ・セルパネルや周辺回路などの大ま...

    • image_03.png
    • image_02.png
    • image_04.png
    • image_05.png
    • image_06.png
    • image_07.png
    • image_08.png

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • AI画像解析 Mitani-Eye Solution 製品画像

    AI画像解析 Mitani-Eye Solution

    ■画像処理メーカーが提案するAIソリューション  ■AI運用成…

    活用ください。 ■AI運用成功のカギは「従来の方法を残す」こと AI導入において最も陥りやすい錯覚は「とにかくすべての作業をAIに任せるべき」というもの。実は、従来のやり方を踏襲した方がよい工程は、業種・業界に関わらず存在するものです。従来の画像処理とAIによる画像処理を、最適な組み合わせで運用するハイブリッド方式。これこそが、作業工程の効率化と検査精度向上のカギを握っているのです。...

    メーカー・取り扱い企業: 三谷商事株式会社 ビジュアルシステム部

  • 【分析事例】ギア表面発錆原因調査 製品画像

    【分析事例】ギア表面発錆原因調査

    工程で使用された洗浄液との関係を調査!洗浄液を濃縮し顕微FT-IRの透…

    当社で行った、ギア表面発錆原因調査についてご紹介いたします。 ギア製造工程内で錆発生。工程で使用された洗浄液との関係を調査しました。 洗浄液を濃縮し、顕微FT-IRの透過法で分析したところ、ギア錆部(歯先・ 側面)の有機物における全赤外吸収帯の位置と洗浄液の赤外吸...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社大同分析リサーチ

  • Φ8インチIC・MEMSファウンドリーサービス開始 製品画像

    Φ8インチIC・MEMSファウンドリーサービス開始

    最大8インチMEMSラインを有するオムロン野洲事業所にてウェハ工程の試…

    こののたび当社では、MEMS加工サービス/MEMS ファウンドリサービスを開始いたしました。国内最大規模の8インチMEMSラインを有するオムロン 野洲事業所(滋賀県野洲市)にてウェハ工程の試作から量産までお客様の様々なご要望にお応えいたします。 URL:https://www.ites.co.jp/wafer/foundry.html ■特徴 ・お客様設計仕様に基づく...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【DL可/熱分析】チョコレートのDSC測定4(最適生成条件検証) 製品画像

    【DL可/熱分析】チョコレートのDSC測定4(最適生成条件検証)

    チョコレートのテンパリング工程(ココアバターの6種類の結晶形の内V型の…

    応用できます。 この事例ではDSCを用いた皆様の身近なチョコレートの分析を紹介しています。 その第4弾「チョコレートのDSC測定4(最適生成条件の検証)」です。 チョコレートのテンパリング工程(ココアバターの6種類の結晶形の内、。V型の結晶に揃える作業)で重要なことが分かります。 ぜひPDF資料をご一読ください。 弊社はDSCの他に、TG/DTA、TMAの各種熱分析も強みとしてお...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社

  • 数値解析ソリューション 製品画像

    数値解析ソリューション

    3D CAEを活用した流体解析、構造解析で、お客様の製品開発や課題解決…

    るモデルベース開発において、 開発に必要なCAEによる要求分析、制御設計(制御対象モデル)、 検証ツール(MILS、HILS)をサポートいたします。 そのノウハウを活かして、製品開発の上流工程で製品に求める機能の 物理現象を1D CAEで具体化する解析業務を実施。 モデルベース開発では、コンピュータ上に作成した「モデル」を ベースに検証しながら、開発を進めていきます。その開発工...

    メーカー・取り扱い企業: デジタルソリューション株式会社

  • 【DL可/GD-OES分析・測定】めっき基板の洗浄評価 製品画像

    【DL可/GD-OES分析・測定】めっき基板の洗浄評価

    GD-OES(グロー放電発光分析)によりNiめっきの膜厚、濃度の分析状…

    y:GD-OES)は、スパッタリングにより試料表面から原子を弾き出し原子をプラズマ状態に励起し、生じた発光を測定することで試料の組成を分析する方法です。 この事例ではGD-OESによる「めっき工程前の基板洗浄効果調査」を紹介します。 ぜひPDF資料をご一読ください。 弊社では、本事例以外でもめっき関連の分析実績は多数あります。 また、本GD-OESに加えXPS、オージェなどの各...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社

  • LSIパッケージ設計/評価解析受託サービス 製品画像

    LSIパッケージ設計/評価解析受託サービス

    半導体チップを外部環境から「守る」、電気信号を基板へ「伝える」!

    技術、 評価解析技術を活用して、故障原因の推定やシミュレーションに基づく 好適構造まで把握できるサービスです。 評価解析結果の報告だけでなく、故障原因の推定まで実施。 解析結果から「発生工程の絞り込み」や「構造最適化」に向けた解析を ご提案いたします。 【特長】 ■当社から好適な解析手法、解析ステップをご提案 ■評価解析結果の報告だけでなく、故障原因の推定まで実施 ■解析...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社Wave Technology

  • 不純物分析の受託サービス|JTL 製品画像

    不純物分析の受託サービス|JTL

    ICPによって不純物として含まれる無機物の測定を実施します。

    不純物分析サービスでは、ICPを用いて不純物として試料に含まれる無機物を測定します。 不純物としての評価は製品や材料に対してだけでなく、作業工程上で使用される洗浄液なども対象とすることができます。 洗浄を行うことである元素が増加していく様子をモニターし、その結果から工程管理を行うことも可能です。...

    メーカー・取り扱い企業: JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

  • 【課題解決事例】食品工場の安全確保のためのHACCP 製品画像

    【課題解決事例】食品工場の安全確保のためのHACCP

    製薬工場のGMPにおけるバリデーションや、食品工場の安全確保のためのH…

    【HACCP(ハサップ)とは】 HACCP(ハサップ)とは、食品を製造する際に工程上の危害を起こす要因(ハザード;Hazard)を分析し、それを最も効率良く管理できる部分(必須管理点;CCP)を連続的に管理して安全を確保する管理手法です。 総合衛生管理製造過程には食品の安全性を...

    メーカー・取り扱い企業: 日本水処理工業株式会社 本社

  • 【基板設計・プロダクトデザイン】FPC・フレキ基板 製品画像

    【基板設計・プロダクトデザイン】FPC・フレキ基板

    試作段階から製品要求仕様や量産工程を考慮した設計提案を行います! FP…

    無い案件や、製品の使用環境から配線だけでなく 仕様や形状を検討しながら設計を進める場合が多くございます。 製品全体の使用状況にあったデザイン検討から携わり商品開発の支援をしております。 全ての工程の問題点を予測し、 無駄のない合理的な“誠実な設計”でお客様より喜ばれています。 FPC フレキシブル基板, フレキ基板, FPC, フレキ, リジットフレキ 高耐熱, メンブレンスイッチ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社サーテック   フレキ基板(FPC)ソフトウェア ハードウェア

  • 不良発生を抑える!鋳造シミュレーションで欠陥の種類・箇所を予測! 製品画像

    不良発生を抑える!鋳造シミュレーションで欠陥の種類・箇所を予測!

    好適な鋳造方案!不良発生率を限りなく抑えた高品質な鋳物造りを目指してい…

    当社では『鋳造シミュレーション』を行っています。 鋳造シミュレーションソフトにて、事前に解析し、欠陥の種類・発生箇所・ 程度などを予測。 試作回数等の工程数を減らしつつ不良発生率を限りなく抑えた高品質な 鋳物造りを目指しています。 ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■好適な鋳造方案 ■鋳造シミュレーションソフトに...

    メーカー・取り扱い企業: 前橋橋本合金株式会社 本社・工場

  • 成分分析 製品画像

    成分分析

    クレームや工程トラブルに対し付着物、混入異物等の分析を行っております。

    成分分析とは、製品における様々なクレームや工程トラブルに対し、高精度解析装置を導入し、製品トラブルの原因解析、品質管理のための分析など、テクノリサーチ業務を行っております。製品の付着物の分析や加工食品中の混入異物の分析、製品中の異物の分析などと...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社コーエキ

  • パワーサイクル試験(パワーモジュールの信頼性評価) 製品画像

    パワーサイクル試験(パワーモジュールの信頼性評価)

    パワーサイクル試験前後や試験途中における各種測定、観察、解析も一括で実…

    【その他の特長】 ■破壊の初期状態を検知し、後工程となる故障解析が容易なサンプルの作製が可能 ■MOSFET、IGBT、SBD、FWDなど、全てのパワー半導体に対応可能 ■同時に16素子までの試験が可能(ただし、試験サンプル・試験条件による) ...

    • image_02.png
    • image_03.png
    • image_04.png
    • image_05.png
    • 2023-02-28_10h48_51.png

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • プラスチック成形品の歪、複屈折評価 製品画像

    プラスチック成形品の歪、複屈折評価

    複屈折位相差(歪)や流れ方向・応力方向(主軸方位)の視覚化が可能です!

    射出成形法によるプラスチック成形品は樹脂の溶融、金型への充填、 冷却・保圧といった工程を経ていますが、これらの条件が適切でない場合、 内部に応力が残り(残留応力)、成形不良の原因となります。 二次元複屈折測定システムは、その応力の指標である複屈折位相差(歪)や 流れ方向・応...

    • 複屈折評価_90℃2h.png

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 日邦産業(株)商事本部 設計機能のご紹介 製品画像

    日邦産業(株)商事本部 設計機能のご紹介

    お客様へより高い付加価値をご提供!「受託設計」なら日邦産業にお任せくだ…

    広くお客様のニーズに対応させて頂く事を可能としています。 お客様へより高い付加価値を提供致しますので、お気軽にご相談ください。 【受託設計 項目(一部)】 ■VA/VE提案  ・量産工程治具設計製作/材料、形状、製法のご提案 ■製品・ユニット設計  ・製品デザイン/機構設計/樹脂化設計 ■試作ソリューション  ・rapid prototyping(3D 造形)/デザイン性、...

    • image_03.png
    • image_04.png
    • image_05.png
    • image_06.png
    • image_07.png
    • image_08.png
    • image_09.png
    • image_10.png
    • image_11.png

    メーカー・取り扱い企業: 日邦産業株式会社

  • 【分析事例】めっき・塗装等の剥離原因調査 製品画像

    【分析事例】めっき・塗装等の剥離原因調査

    TOFーSIMSによる剥離面の汚染源の特定

    ことで、剥離原因を調査することが可能です。 TOF-SIMSは有機物の構造を保ったままイオン化した二次イオンを検出し、剥離面に存在した成分が何由来なのかの情報を得ることができるため、剥離原因、及び工程の調査に有効です。 測定法:TOF-SIMS・ピーリング・解体 製品分野:LSI・メモリ・製造装置・部品 分析目的:化学結合状態評価・故障解析・不良解析 詳しくは資料をダウンロード、また...

    • Si_Baのイメージ.png
    • 正イオン.png

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】結晶Si太陽電池の不純物評価 製品画像

    【分析事例】結晶Si太陽電池の不純物評価

    金属元素および大気成分元素の極微量分析

    結晶Si太陽電池の基板成長からセル形成までの各工程で必要とされている不純物量制御のための評価法として、高感度分析による元素濃度測定をご提案します。金属元素はppb以下、Hを含む大気成分元素についてはppm以下の濃度まで計測可能です。 測定法:SI...

    • 深さ2.png
    • 前処理.png

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】粘着シートによる電子部品の汚染評価 製品画像

    【分析事例】粘着シートによる電子部品の汚染評価

    有機汚染の定性・定量・分布を複数手法の組み合わせで評価

    半導体デバイスの製造工程では、ダイシング用テープなど様々な粘着シートが使用されます。粘着シートは異物・汚染の原因となることがあります。そこで、本事例ではTOF-SIMS・SWA-GC/MSを用いて複合 的に評価した結果を...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】緑茶中カテキンのLC/MS/MS分析 製品画像

    【分析事例】緑茶中カテキンのLC/MS/MS分析

    熱異性化体を含むカテキン8種類の一斉分析事例

    中コレステロール低下作用等の機能が知られており、特定保健用食品(トクホ)に指定されています。天然の緑茶には4種類のカテキン(EC、EGC、ECG、EGCG)が含まれていますが、市販のお茶には加熱殺菌工程でそれぞれが熱異性化したカテキン(C、GC、CG、GCG)も多く含まれます。本資料では、市販の緑茶をLC/MS/MSで分析し、熱異性化体を含むカテキン8種の分離・定性を行った事例を紹介します。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】TDSによる銅板・はんだの同時加熱分析 製品画像

    【分析事例】TDSによる銅板・はんだの同時加熱分析

    部材同士を接触させ、実プロセスに近い環境での脱ガス評価が可能

    はんだを用いた金属の接合は、エレクトロニクス分野において欠かすことのできない工程のひとつです。 金属とはんだが接触した状態で加熱した際の脱ガスは、ボイドの原因となることが知られています。 以下に、銅板にはんだを乗せた状態でTDS分析(昇温脱離ガス分析)を行った事例を紹介しま...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】有機成分洗浄効果の評価 製品画像

    【分析事例】有機成分洗浄効果の評価

    300mmウェハをそのまま測定できます

    TOF-SIMSには有機物、無機物を同時評価、微小領域に対応、最表面を感度よく分析できる、300mmウェハのまま評価可能という特徴があり、洗浄工程での残渣調査などに力を発揮します。 Si表面の有機汚染の除去効果の分析事例をご紹介します。XPSでアミン系有機物は極微量であることが確認されている試料について、TOF-SIMS分析を行いました。微...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】ウエハ表面の微小異物分析 製品画像

    【分析事例】ウエハ表面の微小異物分析

    加工無しで30nmサイズの組成分析が可能

    AES分析は最表面から数nm深さまでの組成情報を得る手法であり、製造工程において表面に生じた汚染や異物の組成を調べる際に有効な分析です。基板などの母材の情報を検出することが少ないため、異物など異常箇所のみの情報を前処理加工などを行わず簡便に調べることが可能です。また面分...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】繊維の変色原因調査 製品画像

    【分析事例】繊維の変色原因調査

    繊維表面の有機・無機成分の評価が可能です

    TOF-SIMSは、着目の箇所を局所的に分析し、得られる質量スペクトルにより元素分析と有機物・無機物の分子情報の解析が同時にできるため、各工程における異物・汚れ・変色の原因究明に非常に有効な手段です。また、イメージ分析も可能なため、有機物の分子情報の可視化も可能です。 本資料では、繊維製品であるクリーンスーツの変色の解析結果をまとめま...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】XPSによる単結晶Si表面のダメージ評価 製品画像

    【分析事例】XPSによる単結晶Si表面のダメージ評価

    高分解能測定と波形解析を利用してc-Siとa-Siの状態別定量が可能

    半導体の製造工程において表面改質を目的としたイオン照射を行うことがあります。その中で、単結晶 Si表面に不活性元素のイオンを照射することで構造の損傷が生じ、アモルファス層が形成されることが 知られています。 高分...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】XRD・EBSDによるGaN結晶成長の評価 製品画像

    【分析事例】XRD・EBSDによるGaN結晶成長の評価

    断面マッピングにより、GaNの結晶成長の様子を評価可能

    窒化ガリウムGaNは、熱伝導率が大きい点や高耐圧といった特性のため、LEDやパワーデバイスなどの材料として用いられます。それら製品の製造工程では、デバイス特性に影響を与える結晶欠陥の無い、高品質なGaN結晶の作製が求められます。 本資料では、c面上に形成したGaN基板(c-GaN基板)上に、c-GaN結晶を高速気相成長させたサンプルの...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

1〜30 件 / 全 67 件
表示件数
30件
  • 修正デザイン2_355337.png
  • 4校_0513_tsubakimoto_300_300_226979.jpg

PR