• 【歩留り率99%】高歩留まり・低コストなパイプ成型加工技術 製品画像

    【歩留り率99%】高歩留まり・低コストなパイプ成型加工技術

    PR【技術資料無料進呈中】L/D=30倍達成しコストも60%改善!φ3.0…

    多段フォーマーにて中実ワイヤー材から細径パイプを一貫性径することが可能です。 中実ワイヤーから一貫性径することで、細径のSTKM材に比べ、大幅なコスト低減を実現できます。 また、銅板からの深絞りパイプ工法に対しても材料スクラップを 低減(材料歩留まり向上)でき、生産性向上はもちろん環境にも配慮された技術です。 <採用実績> ■大手自動車OEM様向けエンジンピストン用オイルジェットパイプに採用 ...

    メーカー・取り扱い企業: 伊藤金属工業株式会社 本社

  • 樹脂用セルフタッピングねじの基礎を解説!無料セミナーのご案内 製品画像

    樹脂用セルフタッピングねじの基礎を解説!無料セミナーのご案内

    PRテクノアソシエ第4弾 樹脂用セルフタッピングねじ「基礎セミナー(Web…

    近年は、機能性樹脂材料の開発スピードが上がっており、また、自動車業界においては、EVシフトの大きな流れが発生し、 100年に1度の大変革期が到来しており、自動車部品の樹脂化も進んでいます。 テクノアソシエは、この樹脂化へのトレンドに対応すべく、樹脂部品への締結技術に着目をおき、技術開発を行っています。 本セミナーでは、樹脂製品に対して正しい締結方法を選択いただくために、樹脂セルフタッピングねじの...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社テクノアソシエ 製品本部 鋲螺推進部

  • 非破壊解析技術 C-SAM(2D~3D) 製品画像

    非破壊解析技術 C-SAM(2D~3D)

    2次元像が標準的ですが、より視覚的・立体的に状態を捉えるために3次元化…

    非破壊解析技術である「C-SAM(2D~3D)」についてご紹介いたします。 超音波顕微鏡では、主にA-Scanデータを基にして、外観上では確認できない 内部領域の空隙やクラック等の有無を評価しています。 ...

    • image_34.png
    • image_35.png
    • image_36.png
    • image_37.png
    • image_38.png
    • image_39.png

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 【分析】新しい半導体開封技術(Agワイヤ・パワーデバイス) 製品画像

    【分析】新しい半導体開封技術(Agワイヤ・パワーデバイス)

    事例あり。車載向けパワーデバイス開発の活発化に伴い、デバイスの故障解析…

    ■Cuワイヤと比べてボンディング設備への投資負担が少ない その一方で、 Cuワイヤよりも開封時の薬品ダメージが大きく、開封条件の再検討が必要となっています。 弊社では、Au・Cuで長年蓄積した技術に基づき、Agワイヤの開封も可能にしました。 ※詳細は下記までお問い合わせください。...

    • 図1.png
    • 図3.png
    • 図4.png

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 半導体パッケージ開封技術(Cuワイヤ・Auワイヤ) 製品画像

    半導体パッケージ開封技術(Cuワイヤ・Auワイヤ)

    薬液ダメージ低減、高い加工位置精度!IC等のパッケージ開封サービスをご…

    【Cuワイヤ・パッケージのレーザ&薬液による開封技術】 1.X線透視観察 2.サンプル前準備 3.レーザ開封 4.薬液開封および洗浄 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    • 半導体パッケージ開封技術-2.PNG
    • 半導体パッケージ開封技術-3.PNG
    • 半導体パッケージ開封技術-4.PNG
    • 半導体パッケージ開封技術-5.PNG
    • 半導体パッケージ開封技術-6.PNG
    • 半導体パッケージ開封技術-7.PNG
    • 半導体パッケージ開封技術-8.PNG
    • 半導体パッケージ開封技術-9.PNG
    • 半導体パッケージ開封技術-10.PNG

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 解析技術:静電気破壊 製品画像

    解析技術:静電気破壊

    SiC-MOSFET/ロックイン発熱解析/プラズマFIBの活用!IR-…

    当社で行った「静電気破壊」の故障解析をご紹介いたします。 破壊したサンプルの外観観察、及び非破壊検査においては異常は確認 されず、このことから、故障規模が微小であることを推察。レーザーと 薬液開封によりSiCチップを露出し、LITによる発熱解析を行うことで 微小な故障箇所を絞り込みました。 アルミ電極を除去後にIR-OBIRCHで故障箇所を特定し、プラズマFIB装置を 用いてS...

    • ?.PNG
    • ?.PNG
    • ?.PNG

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 【課題事例】パワー半導体の故障部位が深い / 分析・故障解析 製品画像

    【課題事例】パワー半導体の故障部位が深い / 分析・故障解析

    3つのカタログと動画も掲載。「パワー半導体の故障部位が深くて観察しづら…

    します。 ソースやゲートがある構造物まで、加工・観察・分析が可能。 数十μmの通常加工から500μmまでの断面加工が可能で、加工しながら 断面像も確認できます。 また、当社の特殊加工技術により、50μm以上の深い箇所のEDS分析が可能です。 故障原因の解析もお任せください。 【サービスの特長】 ■ソースやゲートがある構造物まで、加工・観察・分析が可能 ■数十μmの通常加...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

1〜5 件 / 全 5 件
表示件数
60件
  • < 前へ
  • 1
  • 次へ >

※このキーワードに関連する製品情報が登録
された場合にメールでお知らせします。

  • 4校_0513_tsubakimoto_300_300_226979.jpg
  • bnr_2403_300x300m_ur-dg2_dz_ja_33566.png

PR