開発元監修 技術資料『3DCAD立上げやDX推進の悩みを解決！』

PR製造業で3次元データを有効活用する方法を解説。設計業務に3次元データを…

3DCADをこれから立ち上げる方や、定着がうまくいっていないという方に向け DX推進につながる3次元データの活用方法を解説した技術資料をご用意しました。 設計業務への3次元データの活用・定着を推進する流れについて 「部品手配のミス削減」を例に挙げ、分かりやすくご紹介しています。 【資料概要】 ■製造業で広がる3次元データ活用 ■設計業務への3次元適用に向けた考え方 ■目指す姿の実現に向けた業務...

メーカー・取り扱い企業： i CAD株式会社 - 機械設計向け3DCAD（3次元CAD）開発元 -

FPD・半導体用 ガラス基板搬送ケース※1個から生産可能

PRG１～G６ｈの様々なサイズにも対応。精密・高品質なガラス搬送ケースの製…

当社の『ケース事業』では、お客様のニーズに合わせて、ケースの製作・ 修理・洗浄・保管から輸送までトータルシステムをご提案します。 精密・高品質なガラス搬送ケースの製造・クリーンルーム洗浄から物流 支援まで幅広く手掛けています。 また、長年培ってきたガラス精密加工技術をベースに、フラットパネル ディスプレイ用（LCD・OLED）フォトマスク用・メタルマスクのケースなどの 先端分野...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ディー・アール・エス（DRS)

【資料DL可・DSC】米・麺類等でんぷんの糊化把握

DSCでは食品加工で重要な要素でんぷんの糊化や老化の様子を把握できます…

でんぷん加工食品においては、糊化(α 化 や、逆反応である老化 (β 化 の様子を把握がとても重要です。 弊社ではその様子をDSC(示差走査熱量計)を用いて把握する技術があります この事例ではその技術の一例として 「米・麺類等でんぷんの糊化把握」 を紹介しています また本技術の応用で老化度も測定可能です。 詳細はPDF資料をご覧ください 弊社はDSCの他、TG-DTA...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

【資料DL可：DSC】シリコンゴムの DSC 測定(低温測定)

一般的に難しい低温度域でも材料の融解、ガラス転移、結晶化、熱硬化等の転…

物質によってはガラス転移、冷結晶化、融点が低温領域に存在することがあります 弊社ではその特性をDSC(示差走査熱量計)を用いて測定する技術があります その技術を活用して材料特性を把握していただければ幸いです この事例ではその技術の一例として 「シリコンゴムの DSC 測定(低温測定)」 を紹介しています 詳細はPDF資料をご覧ください 弊社はDSCの他、TG-DTA、TM...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

【資料DL可】高分子材料のミクロトームによる平滑化とAFM観察

クライオミクロトームとAFMで軟らかい高分子材料の各種高分解能観察が可…

AFM走査型プローブ顕微鏡とは、探針と試料表面の間に働く様々な物理的相互作用を検出し、微少領域の表面形状観察、電気・機械物性計測を行う装置です。 その物理的相互作用には、原子間力、摩擦力、静電気力などがあります。 また、大気中、真空中の様々な環境において測定ができ、導電性、絶縁性を問わず試料表面の観察が可能です。 また、クライオミクロトームを用いることで、凍結下で樹脂など軟らかい高分子材料の...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

【資料DL可：DMA】DMAによる長時間変形予測(ゴムの変形)

DMA測定の結果から材料の長期変形(クリープ測定)の結果を予測可能です…

弊社ではDMA測定の結果にWLF則(時間-温度重ね合わせの定理)を適用することにより、実際には測定していない周波数領域での弾性率等を推測できます(マスターカーブの作成) その技術を活用して材料特性を把握してみませんか この事例ではその技術の一例として 「ゴムの長時間変形(クリープ試験)の結果予測」 を紹介しています 詳細はPDF資料をご覧ください 弊社はDSCの他、TG-D...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

【DSC】温度変調DSC法の紹介(高分子材料の評価)

温度変調DSCはIS法による比熱測定で、困難とされていた高温領域での比…

温度変調DSCは、通常のDSCでは得られない多くの情報が得られ、以下が可能となります ・上記のように可逆成分と不可逆成分の比較による熱履歴等の判別 ・JIS法による比熱測定では困難とされていた、1000℃付近以上の高温領域での比熱測定 ・室温以下の低温領域での比熱測定 その他、緩和現象の解析に用いることが期待できます。 この事例ではその技術の一例として 「PETを評価した事例」 ...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

【資料DL可：EBSD】サマリウムコバルト磁石のEBSD 測定

SEMとEBSDによって磁石の方位分布がわかり、製品の性能や経年による…

電子線後方散乱回折法EBSD（Electron Backscatter Diffraction Pattern）は走査電子顕微鏡SEMと組み合わせることで材料の結晶方位分布を把握できます 本事例では「サマリウムコバルト磁石のEBSD 測定」を紹介しています この技術を各種磁石の性能評価、性能向上に役立てているお客様が多数いらっしゃいます ぜひPDF資料をご覧ください なお、弊社では...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

【DL可】FIBによる微小対象物(ICコンタクト部)の断面作製

FIBで微小対象物(例えばICコンタクト部)の任意箇所、ここという場所…

弊社保有のFIBFIB(Focused Ion Beam：集束イオンビーム)装置では、0.1μm程度の対象物であれば、狙って断面を作製することが可能です。 この技術を用いて、正確な位置でのTEM観察用薄片試料の作製が行えます。 この事例では 「FIB装置によるICコンタクト部の断面作成・断面観察」 を紹介しています。 ぜひPDF資料をご一読ください。 また、弊社はFIB...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社