• WEB経営セミナー『DXを活用しながらコスト改善を進める方法』 製品画像

    WEB経営セミナー『DXを活用しながらコスト改善を進める方法』

    PR受講特典あり!コストを下げるための具体的な着眼点や改善方法、DXツール…

    近年、製造業においてもDXに対する関心が深まっていますが 簡単なツールの導入やシステムの入れ替えなどに 留まっている企業が多いのが実態です。 しかし本来のDXはデジタル技術を使って業務の仕組みを大幅に変え、 抜本的なコストダウンを進めていくための取り組みなのです。 本セミナーでは、具体的にコストを下げるための着眼点と改善の進め方、 そしてDXツールをどう使っていくべきなのかを具...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アステックコンサルティング

  • 副資材(MRO)調達にお悩みの方必見!【課題解決事例集進呈中】 製品画像

    副資材(MRO)調達にお悩みの方必見!【課題解決事例集進呈中】

    PR副資材(MRO)調達のお悩み解決!年間4,800万円相当のコスト削減事…

    本資料では、調達・購買部門によくある「コスト削減」「脱属人化」「工数削減」といった課 題を、購買管理システムの導入によって解決した具体的な事例を3つまとめてご紹介します。 3つの解決事例、購買管理システムを導入する前に確認しておきたい 5つのポイントなどについて詳しく掲載。 具体的な導入効果をイメージできる資料となっております。 「不要なモノは買わせない!」「必要なモノを、より早く、より安く購...

    メーカー・取り扱い企業: 大興電子通信株式会社

  • EBSD法によるCu結晶解析 製品画像

    EBSDによるCu結晶解析

    Cu板における圧縮前後での変化を観察!圧縮前後の結晶粒径の半化を比較で…

    EBSD(電子線後方散乱回折)は、電子線照射により得られた反射電子回折 パターンから個々の結晶の方位情報を取得しマップ化したもので、さらに 定量的、統計的なデータとして結晶方位(配向性)のみならず結晶粒分布や 応力ひずみ等...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • EBAC(吸収電流)法による不良箇所の絞込み 製品画像

    EBAC(吸収電流)による不良箇所の絞込み

    「SEM像」や「吸収電流像(電流センス)」など!配線のオープン不良、高…

    当社では、分析解析・信頼性評価サービスなどを行っております。 『EBAC(吸収電流)による不良箇所の絞込み』では、 ナノプローバと高感度アンプを用いたEBACにより配線の オープン不良、高抵抗不良箇所を特定します。 吸収電流を電圧センスすることで、配線内の抵抗分圧に基づ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • EBSD法による解析例 製品画像

    EBSDによる解析例

    EBSDパターン(菊池パターン)、金ワイヤーボンド接合部の解析例をご紹…

    EBSD(電子線後方散乱回折)は、電子線照射により得られた反射電子回折 パターンから個々の結晶の方位情報を取得しマップ化したもので、さらに 定量的、統計的なデータとして結晶方位(配向性)のみならず結晶粒分布や 応力ひずみ等...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • LV-SEMとEBIC法によるSiC MOSFETの拡散層の観察 製品画像

    LV-SEMとEBICによるSiC MOSFETの拡散層の観察

    SiCパワーデバイスでも、特定箇所の断面作製、拡散層の形状観察、さらに…

    当社では、LV-SEMとEBICによるSiC MOSFETの拡散層の観察を 行っております。 FIBを用いた特定箇所の断面作製、LV-SEM/EBICによる拡散層の 形状観察、さらにTEMによる配線構造、結晶構造までのス...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • EBSD解析 製品画像

    EBSD解析

    結晶方位や結晶粒径の変化が解析可能!EBSD(電子線後方散乱回折)を…

    EBSDとは、試料の持つ結晶構造の情報を基に連続的に取り込んだパターン の結晶方位を算出することにより、結晶粒の分布、集合組織や結晶相分布を 解析する手です。 金属やセラミック等の結晶質のものは...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 静電破壊した橙色LEDの不良解析 製品画像

    静電破壊した橙色LEDの不良解析

    良品と静電気(ESD)破壊品の輝度・特性の比較、EMS顕微鏡による発光…

    当社では、静電破壊した橙色LEDの不良解析を行っております。 ESD試験にて破壊され、発光強度の低下したLEDはエミッション発光と IR-OBIRCHを用いて解析し、不良現象を明らかにすることが可能です。 「良品と静電気(ESD)破壊品の輝度と特性比較」や「エミッション 顕微鏡による発光解析」などの事例がございます。 【解析例】 ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • FIB-SEMによる半導体の拡散層観察 製品画像

    FIB-SEMによる半導体の拡散層観察

    他手より短納期!FIB-SEMによる形状観察と、拡散層観察の両方を実…

    当社では、『FIB-SEMによる半導体の拡散層観察』を行っております。 FIBによる断面作製とSEM観察によって半導体の拡散層を可視化、 形状評価を行いました。 SEMのInlens 検出器によって内蔵電位の違いを可視化した事例では 内蔵電位によりN型とP型領域で発...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【EBSDによる結晶解析】BGA 製品画像

    【EBSDによる結晶解析】BGA

    EBSDにより、結晶状態や残留応力の推測が可能!BGAの解析例をご紹…

    BGA(Ball Grid Array)の解析例をご紹介いたします。 顕微鏡による観察では、光学顕微鏡とSEMを使用。 EBSDによる結晶解析では、Phaseマップ、SnのGrainマップ、 SnのIPFマップ、SnのGRODマップを使用し、結晶状態や残留応力の 推測が可能です。 【概要】 ■EBSDによる結晶...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【EBSDによる結晶解析】はんだ接合部における金属間化合物 製品画像

    【EBSDによる結晶解析】はんだ接合部における金属間化合物

    はんだ接合部における金属間化合物の結晶解析例をご紹介いたします

    SEM像、Phaseマップ、結晶粒ごとにHigh lightするCu6Sn5のIQマップ、 粒界の回転角をHigh lightするCu6Sn5のIQマップを用いて、 EBSDによる結晶を解析しました。 Cuパッド/はんだ界面にはCu6Sn5やAg4Sn等の化合物が成長しており、 ヒストグラムにより結晶サイズや結晶傾角の分布を示すことができます。 また、マッ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【EBSDによる解析例】カニカン 製品画像

    【EBSDによる解析例】カニカン

    長期の使用により破損したカニカンの破断部に関する解析例をご紹介!

    いて、観察、 元素分析、EBSDによる解析を行いましたので紹介致します。 EDXによる元素分析では、マッピング分析の結果、Pb結晶の 粒界にSbの分布が見られました。 また、EBSDにより結晶粒の配向性や方位差を確認できました。 【解析概要】 ■EDXによる元素分析 ・マッピング分析の結果、Pb結晶の粒界にSbの分布が見られた ■EBSDによる解析 ・EBSDに...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【EBSDによる解析例】ビア 製品画像

    【EBSDによる解析例】ビア

    EBSDにより結晶サイズの分布や、残留応力を推測することができます

    積層基板で形成されるビア(Cu)について、EBSDによる解析例を 紹介致します。 EBSDにより結晶サイズの分布や、残留応力を推測することが可能。 また、マップにHigh lightすることにより、グラフに現れた特長を 可視化できます。 【概要】 ■EBSDにて結晶構造を...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 化学分析のトータルサポートサービス 製品画像

    化学分析のトータルサポートサービス

    表面分析・異物分析・有機組成分析を行っております

    ・酸化状態など、試料最表面の分析を行います。 【サービス一覧】 ■熱分解 GC/MSによるエポキシ樹脂硬化物の成分分析 ■イメージングFT-IRによる微小有機異物の分析 ■顕微ラマン分光による微小異物の分析 ■イオンクロマトグラフ分析(IC) など ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • EBSDによる解析例(セラミック) 製品画像

    EBSDによる解析例(セラミック)

    「観察/元素分析」や「EBSDによる解析」など!EBSDによる解析例を…

    解析例を紹介致します。 「観察/元素分析」では、EDXによる元素分析からAl2O3と判断され、 マップよりSiが点在している様子が観察されました。 「EBSDによる解析」では、EBSDにより結晶サイズの分布や配向性を 確認でき、マップにHigh lightすることにより、グラフに現れた特長を 可視化できます。 【解析概要】 ■観察/元素分析 ・SEMによる観察とED...

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  • 【EBSDによる解析例】ネジ 製品画像

    【EBSDによる解析例】ネジ

    ネジ(Cu2Zn)について、EBSDによる解析例をご紹介致します。

    EBSDにより結晶サイズの分布や、結晶方位の配向性を確認する ことができます。 今回はネジの谷部分の方位差が大きいことがわかり、残留応力が 大きいことが推測されます。 また、ネジ表面には粒径...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【EBSDによる解析例】鉄板 製品画像

    【EBSDによる解析例】鉄板

    グラフに現れた特長を可視化!結晶サイズの分布や、結晶方位の配向性を確認…

    ついて、EBSDによる解析例を紹介致します。 ヒストグラムのグラデーションと対応する結晶粒分布 map、 IPF map、結晶粒分布などを用いて、EBSDにて結晶構造を観察。 EBSDにより結晶サイズの分布や、結晶方位の配向性を確認でき、 マップにHigh lightすることにより、グラフに現れた特長を 可視化できます。 【概要】 ■EBSDにて結晶構造を観察 ・I...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【EBSDによる解析例】高融点はんだ 製品画像

    【EBSDによる解析例】高融点はんだ

    EBSDにて結晶構造を観察!それぞれの金属で各データの取得ができます

    高融点はんだ(Snを少量含むPb基はんだ)について、EBSDによる 解析例を紹介致します。 EBSDにより結晶粒分布や、残留応力を推測することが可能。 また、結晶構造が異なる金属については同時に解析できるものがあり、 それぞれの金属で各データの取得ができます。 【特長】 ■結晶粒分...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【資料】EBSDによるウイスカ解析 製品画像

    【資料】EBSDによるウイスカ解析

    ICパッケージのリード端子に発生したウィスカについて解析した事例を紹介…

    たウィスカについて、 機械研磨にて断面を作製し、SEM観察及びEBSD解析した事例を 紹介しています。 ICパッケージの表面SEM像をはじめ、断面SEM像などを掲載しています。 EBSDにより測定された結晶粒と結晶粒界が一致していることがわかります。 ぜひご一読ください。 【掲載事例】 ■観察/断面作製 ■EBSDによる解析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただく...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【EBSDによる解析例】パイプ 製品画像

    【EBSDによる解析例】パイプ

    パイプ(オーステナイト)について、EBSDによる解析例を紹介致します

    株式会社アイテスは、パイプのEBSDによる解析を実施しています。 EBSDにより結晶サイズの分布を確認することや、配向性を 確認することが可能。 また、マップにHigh lightすることにより、グラフに現れた 特長を可視化できます。 【概要】 ■結晶サ...

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