温湿度アナログ変換出力モジュール『SCM-DA2』

PR扱いやすい超小型。出力0～3.0Vで、5～24Vの電源供給に対応。セン…

温湿度アナログ変換出力モジュール『SCM-DA2』は、 温湿度測定の負担を減らせる製品です。 電源を入れるだけでセンサを自動認識し、 温湿度センサのデジタルデータをアナログに変換・出力します。 出力は0～3.0Vと分かりやすく、5～24Vの電源供給が可能です。 PLC、電圧データロガー、パネルメータなどに接続して活用できます。 【特長】 ■Sensirion（センシリオン...

メーカー・取り扱い企業： 有限会社シスコム（SysCom）

【三球温度計】気温計測用システム センサー・データロガー

PR測温データをPCで簡単管理！放射の影響を取り除き、高精度な測温が可能

当システムは、感温部のサイズが異なる3本の熱電対の出力値から 放射の影響を理論的な計算で測定する“三球温度計”を活用することで、 省電力で精度の高い測定を実現したシステムです。 強制通風の必要がなく電源が不要で省電力。3チャンネル以上の 熱電対入力可能なデータロガーがあれば測定できます。 また、センサーはコンパクトに折りたたみが可能で、運搬設置が簡単です。 【特長】 ■三...

メーカー・取り扱い企業： 名古屋科学機器株式会社

静電容量変位センサ　非接触測定

接触することなく変位を高精度に測定。一切損傷や負荷を与えることなく、各…

〇ナノメートル・サブナノメートルの精度を実現。 MicoSenseの独自技術による静電容量での高い温度特性・高安定性・高分解能・優れた直線性の実現。 〇被測定物に一切損傷や負荷を与えず測定。 接触することなく各種形状、寸法測定、板厚測定、位置検出などが可能。 〇目的やアプリケーションのに応じてた使用が可能。真空や非磁性対応の製品も含めさまざまなモ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本レーザー

超高安定性 干渉計 フーリエ変換アプローチよるスペクトル測定

NIREOS社のGEMINIは2つのレプリカ間の時間遅延を制御した入力…

力/出力スリットも無い、1cmのクリアーアパーチャーによって、高スループット実現 〇ドライバーを含めた完全な一体型 〇スキャンレンジとスペクトル範囲をユーザーにて設定可能。 ユーザーは簡易的な測定からスタートし、スペクトルを確認後、データ取得時間を延長してSN比を上げ、スペクトル分解能を1nmまで下げることが可能。 ※モデルと波長により異なります。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本レーザー

高分解能型動的画像式粒度・形状分布測定装置 QICPIC

0.55～34,000μmサイズの粒子形状を高精度に解析

○高速撮像で個々の粒子測定をしながらも高い信頼性 ○光源繰返し周期：1ns ○計測ゾーンの位置に関わらず粒子外形をクリアに計測 ○輪郭の明確な粒子から透明粒子まで対応 ○形状の定義を変更し、再解析可能 乾式・湿...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本レーザー

高精度・広範囲・非接触 膜厚計（厚さ計）157/137シリーズ

【※ デモ機あり、サンプル測定可能】 高精度 ±0.1 μm、12μ…

◆ 高性能非接触膜厚計（厚さ計） ●高精度の測定が可能 ±0.1 μm ● 幅広い範囲で測定可能 12μm から 80mm ● 材料の硬さに依らず測定が可能 硬質材料と軟質材料の両方を、損傷や変形なく厚み測定...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本レーザー

光パワーメータ 高速モニタリング対応

波長750～1700nmの光信号出力を-60～+10dBmの範囲で高速…

◀高精度・高信頼性の光ファイバーパワーメータ▶ 光ファイバー部品、光通信、シリコンフォトニクスの試験・測定に使用される、正確で信頼性の高い光ファイバーパワーメータです。 ●光ファイバーパワーメータ　Power 1400 -60～+10dBm、750nm～1700nm、対数アンプ採用、ゲインジャン...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本レーザー

超高安定性 二次元分光干渉計 GEMINI 2D

過渡吸収分光測定を先進の2次元分光装置に変換します

〇お客様がお持ちの既存の光学系に容易に結合が可能 〇頑丈で堅牢なデザイン 〇ドライバーを含めた完全な一体型 〇世界中で迅速なサポート NIREOS社のGEMINI-2Dは、過渡吸収分光測定を最先端の2次元分光装置に変換しする、コンパクト・軽量で安定性に優れた干渉計です。フェムト秒レーザーパルスの入力光を2つのレプリカ間の時間遅延を制御することにより、比類なき安定性と堅牢性を備えていま...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本レーザー

AFMコントローラー Glalxy Dual

24 bit AFMコントローラー サポートの終了した Agilent…

■Galaxy Dual 標準測定モード（Galaxy Dualの本体に標準搭載） ●コンタクトモード ●オシレーションモード ●コンダクティブAFM ●EFM, MFM, PFM, LFM ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本レーザー

光スペクトラムアナライザ SMSR OSNR スペクトル幅解析

光学部品のテストや特性評価用光スペクトラムアナライザ。SMSR OSN…

部品のテストや特性評価のために設計された、超小型で費用対効果の高い光スペクトラムアナライザです。SMSR、OSNR、スペクトル幅などの解析が可能なコンパクトなモジュールで、低コストで高速のスペクトル測定が可能です。Oバンド、Cバンド、Lバンドの特定用途に向けた波長に対応しています。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本レーザー

中赤外パルス レーザー･スペクトラム･アナライザ772B-MIR

QCLに最適高い波長精度､高い光除去比,1〜12μmの波長域。パルスレ…

マイケルソン干渉計技術と高速フーリエ変換分析を組合せ、1〜12μmの幅広い範囲動作を実現。スペクトル分解能は4 GHzで、波長精度は±10 ppm（8μmで±0.08 nm）、光除去比20 dB以上 ●パルス,CWレーザーのスペクトル分析 ●動作範囲：1〜12μm ●スペクトル分解能：4 GHz ●高い波長精度：±0.08 nm @ 8 μm, ±10 ppm ●高い光除去比：20 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本レーザー