• 【加工事例】白色干渉顕微鏡による加工面の測定 製品画像

    【加工事例】白色干渉顕微鏡による加工面の測定

    PRmm単位を超える広い面内測定範囲!多結晶セラミックスとSiC単結晶の測…

    当社で新たに導入した、白色干渉顕微鏡による加工面の測定事例をご紹介します。 白色干渉顕微鏡は、光の干渉現象を利用して「表面形状」を計測、解析する 顕微鏡。測定対象材質を問わず、3D計測で面粗さ・線粗さに対応します。 多結晶セラミックスのワイヤースライス面からポリシング面の測定では、 スライス面Sa 0.8446 μm、ラッピング面Sa 0.2506 μm、ポリシング面 Sa 0....

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社新興製作所

  • 工具再研削盤『イプシロン』・画像工具測定器『ジャストスコープ』 製品画像

    工具再研削盤『イプシロン』・画像工具測定器『ジャストスコープ』

    PR多様な工具形状に対応したCNC工具再研削盤、工具寸法の高精度測定が行え…

    当社では、工具を簡単にメンテナンスできる工具再研削盤『イプシロン』や、 寸法を簡単測定できる画像工具測定器『ジャストスコープ』を提供しています。 『イプシロン』は、工具形状を簡単に選択でき、 必要最低限のパラメータを入力するだけで工具データを作成可能。 専門的な知識や研磨の経験がなくても、工具のメンテナンスを行えます。 ※「PDFダウンロード」より製品情報をまとめたカタログをご覧...

    メーカー・取り扱い企業: 菱高精機株式会社

  • 【測定分野】 シート状 等方性、異方性 【TA】 製品画像

    測定分野】 シート状 等方性、異方性 【TA】

    レーザーを用いた非接触で熱拡散率を測定。樹脂系材料の測定も可能

    サーモウェーブアナライザ TAは、レーザーを用いた非接触で熱拡散率を測定します。フィラーと樹脂の複合材料は、配合比率で熱伝導性が大きく変化しますので、熱拡散率の測定が必須です。樹脂系材料の測定も可能です。詳しくはお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ベテル ハドソン研究所

  • 【測定分野】 薄板状 等方性、異方性 【TA】 製品画像

    測定分野】 薄板状 等方性、異方性 【TA】

    レーザーを用いた非接触で熱拡散率を測定。高熱伝導率材料の測定が可能

    サーモウェーブアナライザ TA3は、レーザーを用いた非接触で熱拡散率を測定します。高熱伝導率材料の測定が可能です。外形を気にすることなく測定できます。詳しくはお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ベテル ハドソン研究所

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