【加工事例】白色干渉顕微鏡による加工面の測定

PRmm単位を超える広い面内測定範囲！多結晶セラミックスとSiC単結晶の測…

当社で新たに導入した、白色干渉顕微鏡による加工面の測定事例をご紹介します。 白色干渉顕微鏡は、光の干渉現象を利用して「表面形状」を計測、解析する 顕微鏡。測定対象材質を問わず、3D計測で面粗さ・線粗さに対応します。 多結晶セラミックスのワイヤースライス面からポリシング面の測定では、 スライス面Sa 0.8446 μm、ラッピング面Sa 0.2506 μm、ポリシング面 Sa 0....

メーカー・取り扱い企業： 株式会社新興製作所

【事例集】レーザー干渉式リニア変位センサによるQA＆QC

PRナノメートル精度で変位・変形・振動を計測。超高真空・高磁場対応。最大５…

attocube(アトキューブ)社のレーザー干渉式変位センサは、物体のリニア運動の変動量を測定する装置です。 さまざまな材料や形状をもつ対象物の変位を、数ミリメートルから数メートルまでの広い範囲で測定できます。 小型モジュール式で、3軸まで構成可能です。 位置信号はクローズドループ位置決めシステムのフィードバックシグナルとして利用できます。 回転の振れ測定、振動測定、工作機械の校正など、高度な...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本レーザー

半導体検査 抵抗測定用 ４探針プローブ（コンタクトプローブ）

最高クラスの動的性能を備えた高品質のプローブヘッドをご提供します！

Micro Point Pro株式会社は、40年の経験と専門知識を備えたウェーハおよび 導電性薄膜の抵抗率を測定するためのFour Point Probe（4PP）ヘッドの大手サプライヤーです。 すべてのプローブパーツヘッドアセンブリ（ボディ、配線、針）は、独自の 高精度のカスタマイズされた機器で内部で製造...

メーカー・取り扱い企業： Micro Point Pro ltd株式会社 本社

半導体検査向け『抵抗測定用 コンタクトプローブ』

高い比抵抗測定実現のために、幅広いラインアップの4探針プローブのご紹介…

プローブ）』は、 高品質のハイスピードスチールを使用し、極めて低い抵抗値が特長です。 先端には超硬合金とオスミウム合金を使用！耐久性と電気的接触性を選択可能。 プローブの本体は、信頼性の高い比抵抗測定のための好適なソリューションを 提供する「Fellプローブ（クロムメッキボディ）」の他、 「ディスポーザブルプローブ（プラスチックボディ）」、 「Alプローブ（アルミボディ）」の3タイプをご用意して...

メーカー・取り扱い企業： Micro Point Pro ltd株式会社 本社