• 【加工事例】白色干渉顕微鏡による加工面の測定 製品画像

    【加工事例】白色干渉顕微鏡による加工面の測定

    PRmm単位を超える広い面内測定範囲!多結晶セラミックスとSiC単結晶の測…

    当社で新たに導入した、白色干渉顕微鏡による加工面の測定事例をご紹介します。 白色干渉顕微鏡は、光の干渉現象を利用して「表面形状」を計測、解析する 顕微鏡。測定対象材質を問わず、3D計測で面粗さ・線粗さに対応します。 多結晶セラミックスのワイヤースライス面からポリシング面の測定では、 スライス面Sa 0.8446 μm、ラッピング面Sa 0.2506 μm、ポリシング面 Sa 0....

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社新興製作所

  • 汎用型差圧式エアリークテスタ|FLA-0201 series 製品画像

    汎用型差圧式エアリークテスタ|FLA-0201 series

    PR【新発売】様々な測定環境にフレキシブルに対応できる汎用型エアリークテス…

    様々な測定方式(ワークとワークの比較、ワークとマスタの比較、ワークと固定マスタ(マスタレス))や、 測定環境にフレキシブルに対応できる汎用型エアリークテスタ。 圧力範囲により豊富な9種のラインアップは高圧にも対応しています。 マスタリング測定により短時間でも高精度測定が可能な、フクダのフラグシップモデルです。 マスタレス差圧式エアリークテスタ『FLA-0200 series』もございます。 ●予...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フクダ

  • 半導体チップ温度Tj測定法の種類と特長 製品画像

    半導体チップ温度Tj測定法の種類と特長

    試験を実施するにあたりどの方法で測定するのかを選択することが重要な要素…

    半導体チップ温度Tj測定法の種類と特長について説明します。 パワーサイクル試験は、デバイスへの通電電流による発熱により Tj(半導体チップ温度)が一定の温度変化を繰り返した際の 熱ストレスに対し、その耐久性を確認...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • アバランシェ試験/連続アバランシェ試験 製品画像

    アバランシェ試験/連続アバランシェ試験

    パワー半導体の定格限界での信頼性評価や、定格オーバー条件でパワー半導体…

    当社で行う『アバランシェ試験/連続アバランシェ試験』をご紹介いたします。 Tj(接合温度)をリアルタイムに測定しながら、エンジンルームなど 実使用に近い環境下で挙動を確認可能。 また、独自開発した水冷制御システムを用いて、試験中に発生する熱を 冷却しながら、連続で試験を行うことにより、アバランシェ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • パワーサイクル試験:空冷システム 製品画像

    パワーサイクル試験:空冷システム

    恒温槽を使用することで、より強い付加を加える事が可能!信頼性試験をご紹…

    j温度制御事例 について画像付きでご紹介しておりますので、ぜひご覧ください。 【パワーサイクル試験原理】 ■試験期間の短縮や高い信頼性の確認ができる ■試験品のチップ温度をリアルタイムで測定しながら試験を行う ■任意の温度を設定して印加ON/OFFができる ■時間での設定や両者の組合せも可能 ■恒温槽を使用することで、さらに強制的な冷却が行えるため、  より強い付加を加える事が...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

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