• 技術情報誌 202102-01 新規蛍光分光装置 製品画像

    技術情報誌 202102-01 新規蛍光分光装置

    技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

    【要旨】 新規蛍光分光装置を導入し、紫外可視領域の測定に加えて近赤外領域の発光測定、またナノ秒程度の蛍光寿命測定が可能となった。新規蛍光分光装置の特徴とそれらの測定例について紹介する。 【目次】 1.はじめに 2.新規蛍光分光装置の特徴 3 近赤外発光スペクトルの測定事例 4.おわりに...技術情報誌The TRC News「新規蛍光分光装置を用いた近赤外発光、ナノ秒蛍光寿命測定」 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • 【分析事例】X線吸収・発光分光によるバンド構造評価 製品画像

    【分析事例】X線吸収・発光分光によるバンド構造評価

    材料の価電子帯・伝導帯・ギャップ内準位の詳細な情報が得られます

    価電子帯・伝導帯・ギャップ内準位といったバンド構造の把握は極めて重要な評価項目となっていますが、それらを直接的かつ詳細に評価する分析手法は限られています。放射光を用いたX線吸収分光(XAS)とX線発光分光(XES)の同時測定からはバンド構造の全容が把握できると共に、それらを構成する元素・軌道の帰属といった詳細な情報も得ることが可能です。 本資料では測定例としてGaN基板のXAS・XESスペクトル...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【資料】ICP発光分光分析(ICP-AES) 製品画像

    【資料】ICP発光分光分析(ICP-AES)

    原子が励起状態から基底状態に戻るときに生じる原子発光を検出し分析を行い…

    ICP発光分光分析では、試料中に含まれる金属元素などを複数同時に 検出することが出来ます。 当資料では、液晶中に含まれる微量な金属元素の分析例をご紹介。 ICP-AES分析の原理・概要や測定事例を掲載...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • ICP-AES分析(誘導結合プラズマ発光分析) 製品画像

    ICP-AES分析(誘導結合プラズマ発光分析)

    試料中、溶出液中の元素(金属元素が主)分析。前処理にも対応いたします。

    ICP-AESは溶液試料が対象なため、固体試料の場合は何らかの方法で溶液化しなければなりませんが、多元素を同時に分析できる、ダイナミックレンジが広い、といった特長があります。このICP発光分析で試料中の金属の定性・定量分析や溶出金属の定性・定量分析等が可能です。 ...【特徴】 ○金属元素を主とする約70元素の分析が可能 ○プラズマ中に霧化した液体試料を導入 ○プラズマ内で観測される発光...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社DJK

  • [PL]フォトルミネッセンス法 製品画像

    [PL]フォトルミネッセンス法

    PL:PhotoLuminescence

    フォトルミネッセンス法とは、物質に光を照射し、励起された電子が基底状態に戻る際に発生する光を 観測する方法です。得られる発光スペクトルから、様々な情報を得ることが可能です。 ・バンドギャップ約3.5eVまでのサンプルを励起することが可能 ・マッピング機能により、広範囲の情報を得ることが可能 ・約10Kまでの測定が可能 ・一般的に非破壊の測定であり、特殊な前処理が不要 ...フォトルミ...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 化学分析・機器分析のサービス 製品画像

    化学分析・機器分析のサービス

    化学薬品メーカーならではの経験と提案力を活かし、形態観察・異物・Roh…

     ■形態観察分析サービス  ■異物分析サービス  ■RoHS分析サービス  ■レジオネラ分析サービス  ■その他分析サービス また伯東では、各種クロマト装置やX線分析装置、ICP発光分光分析装置など多彩な機器を有しております。 ※詳しくは、お気軽にお問合せください。 ...

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    メーカー・取り扱い企業: 伯東株式会社 本社

  • 受託分析評価サービス 製品画像

    受託分析評価サービス

    長年培ってきたノウハウを活かし好適な分析手法をご提案します!

    当社では、卓越した分析力と先進の分析設備で、迅速・的確に お客様のニーズにスピーディーにお応えする『受託分析評価サービス』を 提供しております。 単に結果を得るために分析するのではなく、その結果から課題解決の 指針を見いだすことを常に念頭に置きながら、経験豊富な技術者集団が 先進の分析機器・分析技術、今まで培ってきたノウハウを活かし、 好適な分析手法をご提案いたします。 【分...

    メーカー・取り扱い企業: メルコセミコンダクタエンジニアリング株式会社

  • 膜厚評価のための深さ方向分析 製品画像

    膜厚評価のための深さ方向分析

    弊社では表面処理層や表面酸化層について、目的に応じて最適な方法を提案す…

    薄膜は多様な分野で応用されており、膜の厚さが製品の性能を決定する一要因であるため高精度な膜厚評価を行う必要があります。弊社では目的に応じて最適な方法を提案することによりお客様のご要望にお応えします。...弊社では目的に応じて最適な方法を提案することによりお客様のご要望にお応えします。光学顕微鏡では≧50μm、電子プロ-ブマイクロアナライザー(EPMA)では2μm≦ ≦2mm 、グロー放電発光分析(...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社大同分析リサーチ

  • 【DL可:XPS/AES/GD-OES】表面分析に関する事例集1 製品画像

    【DL可:XPS/AES/GD-OES】表面分析に関する事例集1

    Niめっきの膜厚や濃度測定、表面汚染レベル測定などXPS、AES、GD…

    当事例集では、『表面分析』にかかる事例をご紹介します。 「めっき基板の洗浄評価(GD-OES測定)」の目的や手法と結果をはじめ、 「XPSによる表面汚染分析」の特長や分析事例、「鉄サビの分析 (ラマン分光分析)」の特長や分析事例など多数掲載。 他にも、解析結果や状態解析、組成測定などご紹介しております。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■めっき基板の洗浄評価(GD-...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社

  • 材料・品質分析のご案内 製品画像

    材料・品質分析のご案内

    製品や部材等の品質に関する様々な分析・試験を受託!是非ご用命下さい

    測定条件などで異なります。 【主な品質分析用装置(一部)】 ■蛍光X線装置(波長分散、エネルギー分散) ■X線回析装置 ■イオンクロマトグラフ分析装置 ■顕微赤外分光装置 ■ICP発光分光装置(シーケンシャル型) など ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人東海技術センター

  • 材料・微量成分分析 製品画像

    材料・微量成分分析

    分析の目的や試料の状態に合わせて、適切な処理を実施!精度の良い分析結果…

    【主な分析装置(抜粋)】 ■誘導結合プラズマ(ICP)発光分光分析計:無機・有機化合物中の主に金属元素の定性・定量 ■原子吸光光度計:無機・有機化合物中の主に金属元素の定量 ■ガスクロマトグラフ ・FID:揮発性有機化合物全般 ・TCD:無機ガス・揮...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アサヒテクノリサーチ

  • 【資料】解析事例 製品画像

    【資料】解析事例

    リポソームの構造解析や皮膚ラメラ構造解析など!30nmから5μmの切片…

    マトグラフ質量分析計) ■LC-MS/MS(液クロマトグラフ質量分析計) ■TG/DTA(熱重量測定/示差熱分析) ■IC(イオンクロマトグラフ) ■ICP-AES(高周波誘導結合プラズマ発光分光分析) ■ICP-MS(高周波誘導結合プラズマ質量分析) ■ICP-MS/MS(高周波誘導結合プラズマ質量分析) ■HPLC(液体クロマトグラフ) ■AAS(原子吸光光度計)など ※...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社花市電子顕微鏡技術研究所

  • 株式会社ユニケミー  事業紹介 製品画像

    株式会社ユニケミー 事業紹介

    理化学技術を通じて社会に貢献。私たちは検査・分析のソリューションパート…

    ・振動レベルの測定 →高分解能ガスクロマトグラフ質量分析 ○材料科学 →各種原材料の分析 →石油分析 →抗菌・抗かび試験 →食品分析 ○物理試験 →金属の試験 →誘導結合プラズマ発光分光分析 →熱分析(TG・DTA・DSC) ○研究・調査 →受託試験 →特許・文献の技術調査 →研究・共同開発 →コンサルティング ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロー...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ユニケミー

  • 【分析事例】軟X線発光分光によるGaNの評価 製品画像

    【分析事例】軟X線発光分光によるGaNの評価

    価電子帯・ギャップ内準位について元素別の情報が得られます

    放射光を用いた軟X線発光分光(SXES)は材料を構成する各元素について、フェルミ準位近傍の部分状態密度(pDOS)を直接的に得られるため、材料の電子状態を評価する手法として幅広く用いられています。さらに本手法の特長として、1...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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