医療機器のODM／OEM【選定ガイド資料無料進呈中！】

PR資材の調達、製造・検査まで一貫して対応！ご用命の際はお気軽にお問い合わ…

当社では、長年に渡り社会インフラ市場向けの大型の監視制御盤、電力向け受配電盤、カスタム制御卓、各種表示装置、小型の電気・電子機器等の受託製造を中心に事業を行ってきましたが、 最近では、長年培ったノウハウを活かし、医療機器に使われる部品や機器、医療向けの検査装置などの設計・製造なども手掛けています。 また開発段階での技術支援や、試作の対応、１００社を超える協力会社や商社のネットワークを活かし...

メーカー・取り扱い企業： 高和電氣工業株式会社

サイクロン式クーラント液浄化装置　※デモ機有り

PR【SDGsに貢献】省電力ながらスラッジを効率的に除去！フィルタレスと液…

「液の入れ替えやタンクの清掃が面倒だ」 「フィルタのランニングコストを下げたい」 「産廃排出量を低減したい」 「液の温度管理がしたい」 「製品の不良率を低減したい」 現場ではこの様な声をよく聴くことがあります。 弊社では省電力ながらスラッジを効率的に除去するサイクロン式クーラント液浄化装置を提供することで、 SDGｓに貢献できると考えております。 スラッジを除去することで液を循環して使用でき、...

メーカー・取り扱い企業： 日本スピンドル製造株式会社 環境事業部

分析と化学反応機構で研究開発をアシストします！

開発の方向性の決定とスピードアップに繋がる！豊富な技術、知見、装置でご…

究開発において、分析や評価はチェックポイントとして欠かせない プロセスであり、その注目すべき対象には製品の構成材料が候補となる ことが多々あります。 アイテスは、保有する多種多様な機器分析装置、観察装置、信頼性試験装置、 そして蓄積された知見と化学反応機構でメーカー様の研究開発をアシストします。 豊富な技術、知見、装置でご対応いたしますので、お気軽にお問合せください。 【特...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

透明素材の曇価（ヘーズ）測定、全光／拡散透過率測定サービス

ガラス、ITOなどの透明素材に！各透明樹脂・紫外線照射前後の測定評価も…

当社では、透明素材（透明フィルム／シート、ガラス、ITOなど）の 『曇価（ヘーズ）測定、全光／拡散透過率測定サービス』を行っております。 曇り度合いや光の拡散度合いを測定するヘーズメーター装置を使用。 平行成分P.Tと拡散成分全てを含めた全光線透過率T.Tと平行成分を除いた 拡散透過率DIFの比で表されます。 当サービスのご提供とともに、分子構造視点のデータ解析考察も ご...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【資料】化学反応機構研究所　材料変色原因解明事例

素材ポリアミドイミドやIR装置による分析結果、データ解析などをを分かり…

構成素材、各種成形品等に使用される スーパーエンプラポリアミドイミド（PAI）膜の変色原因を機器分析、 および反応機構により解明した事例をご紹介します。 素材ポリアミドイミドをはじめ、IR装置による分析結果、データ解析、 および反応機構などを掲載。 製品の製造において、原料となる材料の保存安定性は必須であるが、 加工プロセスにおける環境条件が不具合を誘発させることがあります。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【不良解析事例】ACアダプターのX線観察

非破壊で行えるX線観察は初期観察に有効！不良解析事例をご紹介します

ACアダプターのX線観察による不良解析事例をご紹介します。 出力が安定しないACアダプターをX線観察装置（YXLON社製Cheetah EVO） により観察したところ、断線部位が発見されました。 透視観察で、内部の部品や実装はんだ部に異常は確認されませんでしたが、 配線の付け根に断線が疑われ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

LEDの故障解析

高度な試料作製技術と半導体用の故障解析装置を応用！不点灯や輝度劣化の原…

当社の「LEDの故障解析」では、高度な試料作製技術と半導体用の 故障解析装置を応用し、LEDの故障解析を行い不点灯や輝度劣化の 原因を調査します。 「LED不良モードの切り分け」では、レンズ研磨後の点灯試験、 観察LEDの樹脂をそれぞれ、a, b, c まで研磨し...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

EBSD解析

結晶方位や結晶粒径の変化が解析可能！EBSD(電子線後方散乱回折)法を…

RODマップ、 極点図など、様々なマップを使用します。 【特長】 ■EBSD法は、結晶粒の分布、集合組織や結晶相分布を解析する手法 ■(株)TSLソリューションズOIM7.0結晶方位解析装置を使用 ■結晶格子がどのような方向を向いているのか(結晶方位)を解析 ■加工条件(圧延、押出等)の違いによる結晶方位や結晶粒径の 　変化が解析可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

超微⼩硬度計による材料評価

経年の品質管理にも役⽴つ！⾦属・⾼分⼦・セラミックス等の材料の超微⼩硬…

硬さを数値化できるため、経年の品質管理にも役⽴ちます。 圧⼦に荷重をかけている状態で、くぼみの押し込み深さを直読し、 硬さを求めます。回復挙動における特性値を求めることも可能です。 【装置概要】 ■試験⼒レンジ0.4mN～1000mN 精度±0.02mN ■押し込みレンジ1nm（0.01μm）～700μm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

EPMAによる状態分析

標準スペクトルと比較することで結合状態を推定！EPMAによる状態分析を…

可能です。 また、Al表面の薄い酸化層の測定には最表面分析手法のXPSが有効ですが、 異物等の微小物や塊状物、バルク、複合材等に対して、EPMAによる酸化状態の 把握ができます。 【装置仕様】 ■日本電子（株）製 Jeol-8200 ■分析方式：波長分散型X線分析（WDX） ■分析可能元素：B～U ■エネルギー分解能：20eV（EDXは約130eV） ■検出限界：0.01...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

ICの不良解析

不良モードに適した様々な手法を組み合わせることで、不良ノードの特定から…

【発光解析/OBIRCH解析　特長】 ■発光/OBIRCH解析によりリーク箇所、あるいは関係しているネットを特定 ■Layout Viewerによるレイアウト確認が可能 ■カスタマイズされた装置により、様々なサンプルの解析に対応できる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

EPMA分析

100×100mmサイズも対応！ステージ可動により広範囲のマッピングが…

【装置仕様】 ■日本電子（株）製 Jeol-8200 ■分析方式：波長分散型X線分析（WDX） ■分析可能元素：B～U ■エネルギー分解能：20eV（EDXは約130eV） ■検出限界：0.01...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

液晶中の微量金属元素分析

パネルサイズにより、ICP-AES/MS装置を使い分けて分析する事が可…

信頼性試験前後のパネルを用いてICP測定を行い、定量化を行った事例を ご紹介します。 LCDの液晶分子はパネル内で配向しており、電圧により液晶の配向状態が 変わる事で表示が制御されます。金属元素のようなイオン性物質がパネル 内部に存在すると液晶が正しく駆動せず表示不良が発生。 イオン性物質は、製造時の混入や長期使用で増加することが知られており、 定量化して把握する事がパネル品質...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【資料】液晶材料とその分析技術

分子構造から解析する、アイテスの技術力を図や表とともにわかりやすく解説…

【その他の掲載内容】 ■LCP分子構造解説（一例） ■アイテス保有のGC-MS装置 ■低分子液晶 ■低分子液晶構造解説（一例） ■GC-MS分析による低分子液晶（for LCD）のTICデータ、および検出物質 ■液晶構造機能解説 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

電子部品の信頼性試験・分析・解析を一気通貫で対応します！

過渡熱測定可能パワーサイクル試験、カスタマイズ発光/OBIRCH解析装…

アイテスでは信頼性試験、分析・解析などパワーデバイスのトータルソリューションサービスを行っております。過渡熱測定を同時に行える「パワーサイクル試験機」をはじめ、「化合物半導体の故障解析」「拡散層の濃度解析」「モジュールの断面解析」など。具体的実績を元にご提案させていただきます。 キーワード：■パワー半導体全般（チップ、モジュールTIM素材など）■信頼性試験/評価　■構造解析（出来栄え・他社品...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

信頼性のトータルサポートサービス

環境試験をはじめ、非破壊観察や電気特性測定などを行っております

アイテスでは、JIS・JEDEC・MIL等の標準規格に準じた環境試験装置を使用し、 様々なエレクトロニクス製品、部品および材料の信頼性評価受託試験を承ります。 電気試験をはじめ、非破壊観察やパワーサイクル試験 などがございます。 【環境試験】 ■高度寿...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

EPMAによる微量元素の検出

検出感度が良好！特に微量成分の定量分析やマップ分析等に優れています

分析とEPMA分析を実施しました。 EPMAでは分解能、検出下限、P/B（ピークバックグラウンド）比が、EDXより 優れているため、微量のCl分布が明瞭に把握することができました。 【装置仕様】 ■日本電子（株）製 Jeol-8200 ■分析方式：波長分散型X線分析（WDX） ■分析可能元素：B～U ■エネルギー分解能：20eV（EDXは約130eV） ■検出限界：0.01...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス