• 【製品総合ガイド】材料研究開発を加速する高速分子シミュレーション 製品画像

    【製品総合ガイド】材料研究開発を加速する高速分子シミュレーション

    PR高速分子シミュレーションによる材料研究開発を支援!当社の製品概要をご紹…

    当社のMaterials Science Suiteは、幅広い材料研究分野への対応が可能です。 ■密度汎関数理論(DFT)計算・周期系第一原理計算による物性予測 HOMO/LUMO/pKa/溶媒効果/IR/Raman/UV-vis/VCD/NMR/ 酸化・還元ポテンシャル/ 3重項励起状態エネルギー/TADF S1-Txギャップ/蛍光/りん光/振動計算/ 構造最適化/遷移状態計算/反応経路...

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    メーカー・取り扱い企業: シュレーディンガー株式会社

  • 3DCADのシュミレーション時間を大幅短縮!AIを用いた工数削減 製品画像

    3DCADのシュミレーション時間を大幅短縮!AIを用いた工数削減

    PR自動車、機械、電子機器などの3DCADエンジニアの方必見!シミュレーシ…

    『3D Surrogate Model』は、既存のCAE解析ソルバーで実施した シミュレーション結果をAIにトレーニングさせ、そのトレーニングされた AIモデルを用いて、同様のシミュレーションをAIに実施させる意図で 開発された製品です。 シミュレーションにAIを利用しており、計算時間が早く、単純な乗算のみのため 発散により解析結果が止まることがありません。 また、メッシュをそのままAIモデル...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アストライアーソフトウエア

  • 【DL可/EBSD】EBSDによる2相ステンレスの相解析 製品画像

    【DL可/EBSD】EBSDによる2相ステンレスの相解析

    金属および金属化合物の硬さや脆さなどの性能比較、変色の不具合がなぜ起こ…

    tron Backscatter Diffraction Pattern)は走査電子顕微鏡SEMと組み合わせることで以下が可能です ・結晶系の異なる相の分離 ・分離相ごとに分布割合や結晶方位解析 本事例では 【EBSD】EBSDによる2相ステンレスの相解析 を紹介しています。 EBSDで2相ステンレスにおいて、α 相とγ 相の分布割合と結晶方位が確認できました この測定技...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社

  • 【STEM/EDS】Auめっきされたコネクタ端子接点不良解析 製品画像

    【STEM/EDS】Auめっきされたコネクタ端子接点不良解析

    STEMでめっきされたコネクタ端子表面の付着物層(20nm程度)の”表…

    とで、回折コントラストの変化を観察 ・観察対象が結晶質であるかの判断 ・結晶内にある結晶欠陥(転位、双晶等)の情報の獲得 本事例では 「STEMによるAuめっきされたコネクタ端子接点不良解析」 を紹介します。 ぜひPDF資料をご一読ください。 また、弊社では本STEMに加えTEM、SEM各種断面解析を行っております。 お気軽にご相談いただければ幸いです。 セイコー...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社

  • 【DL可/EBSD】EBSDによるはんだ断面の内部歪み測定 製品画像

    【DL可/EBSD】EBSDによるはんだ断面の内部歪み測定

    「実装条件違いや経年劣化で起きる不具合は何か?」 はんだ内部に潜む問題…

    action Pattern)は走査電子顕微鏡SEMと組み合わせることで以下が可能です ・微小領域での結晶粒径、相構造に関する分析 ・実装部などの微小部における残留応力の評価(約50μmでの解析事例あり) 本事例では 【EBSD】はんだ断面の内部歪み測定 を紹介しています。 EBSDで熱衝撃試験による”はんだ内部の歪みの変化”が確認できました。 この測定技術は、はんだの条...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社

  • 【資料DL可/EBSD】線材の内部歪み測定 製品画像

    【資料DL可/EBSD】線材の内部歪み測定

    EBSDで金属組織の形状変化確認と内部歪み測定を行うことで板バネ、ひげ…

    電子線後方散乱回折法EBSD(Electron Backscatter Diffraction Pattern)は走査電子顕微鏡SEMと組み合わせることで以下が可能です ・断面形成後の結晶方位解析 ・金属組織の形状変化と内部歪み分布の確認 本事例では EBSDによる「線材の内部歪み測定」を紹介しています この測定技術は、板バネ、ひげぜんまい等の曲げ加工が適切か、加工条件決めに...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社

  • 【資料DL可/EBSD】EBSD を用いたアルミスパッタ膜の評価 製品画像

    【資料DL可/EBSD】EBSD を用いたアルミスパッタ膜の評価

    電子線後方散乱回折法EBSDはアルミスパッタ膜の性能評価や下地材料の選…

    ルミスパッタ膜の性能評価、下地選択に役立ちます 磁石の方位評価や結晶性があればセラミック材料にも応用可能です ぜひお試しください なお、弊社ではEBSDとSEMに加え、TEMによる各種断面解析、XPSによる表面分析なども行っており多面的に解析分析を行えます 営業だけでなく技術者も直接対応しますので、お気軽にご相談いただければ幸いです セイコーフューチャークリエーション 公式HP ...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社

  • 【資料DL可:EBSD】サマリウムコバルト磁石のEBSD 測定 製品画像

    【資料DL可:EBSD】サマリウムコバルト磁石のEBSD 測定

    SEMとEBSDによって磁石の方位分布がわかり、製品の性能や経年による…

    を紹介しています この技術を各種磁石の性能評価、性能向上に役立てているお客様が多数いらっしゃいます ぜひPDF資料をご覧ください なお、弊社ではEBSDとSEMに加え、TEMによる各種断面解析、XPSによる表面分析なども行っており多面的に解析分析を行っております 営業だけでなく技術者も直接対応しますので、お気軽にご相談いただければ幸いです セイコーフューチャークリエーション 公式...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社

  • 【FE-SEM/EBSDなど】断面観察や構造解析に関する事例集2 製品画像

    【FE-SEM/EBSDなど】断面観察や構造解析に関する事例集2

    微小部断面加工と分析、残留応力測定などイオンミリング、FE-SEM、E…

    当事例集では、『断面観察及び構造解析』にかかる事例についてご紹介します。 「EBSDを用いたアルミスパッタ膜の評価」の分析事例をはじめ、 「イオンミリングによる微小部断面加工」の目的や手法、試料と結果、 「はんだ断面の残留応...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社

  • 【DL可/EBSD】線材(ばね材)の金属組織 観察 製品画像

    【DL可/EBSD】線材(ばね材)の金属組織 観察

    EBSDで金属組織を観察することで材料選定や材料変更の検討がスムーズに…

    tron Backscatter Diffraction Pattern)は走査電子顕微鏡SEMと組み合わせることで以下が可能です ・結晶系の異なる相の分離 ・分離相ごとに分布割合や結晶方位解析 本事例では EBSDによる「線材(ばね材)の金属組織観察」を紹介しています ばね材の加工工程(伸線Φ1.00mm、0.07mm)における金属組織変化を調査して、伸線後に金属組織が変化...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社

  • 【資料DL可:XPS/AES/AFM】表面分析に関する事例集2 製品画像

    【資料DL可:XPS/AES/AFM】表面分析に関する事例集2

    変色調査や表面改質評価などXPS、AES、AFMによる事例を厳選しまし…

    「XPSによる材料表面の変色調査」をはじめ、「XPSによるPET表面改質評価」や、 「XPSによる撥水膜の分析」、「メッキ部品の加熱影響評価」などの 特長や分析事例を多数掲載。 他にも、解析結果や変色調査、表面改質評価、撥水膜の分析などご紹介しております。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■XPSによる材料表面の変色調査 ■XPSによるPET表面改質評価 ■XPSに...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社

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