【スーパーマイクロシーブ】5ミクロンの丸穴微細加工技術とは？

PR従来の微細穴加工の工法とは異なる　セムテックエンジニアリング　独自の技…

従来のエッチング、レーザー、ドリル、フライス、放電加工では行えない、精度の高い微細な穴加工が行えます。 弊社のスーパーマイクロシーブはエレクトロフォーミング技術による加工により生成されています。 『穴径　5μm～30μm以上の加工』　製造過程で混在する粗粒子を個数レベルで完全に除去できます。 『最小ピッチ　穴径＋10μmの狭さ』　一枚面積における穴数が多いため高効率の分級が可能です。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社セムテックエンジニアリング

【X線CT：受託計測】非破壊内部検査　

PR非破壊による内部の欠陥・状態観察が可能！ X線CTによる受託計測・解析…

進和メトロロジーセンターでは、 カールツァイス社　計測X線CT ZEISS METROTOMを所有し、受託計測業務を実施しております。 これまでの受託実績を踏まえて お客様のご要望にお応えしていきます。 検査内容 〇内部欠陥解析 〇CAD比較 〇寸法測定/幾何公差評価 〇繊維配向観察 〇肉厚測定 ○接合状態の観察　 【受託依頼　フロー】 1）　お問合せ（IPROS, ホームページ、Eメール...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社進和 戦略営業推進室

磁場測定テスラメータ DTMシリーズ

高精度・高分解能かつ安価なホール効果 磁場測定器

Group3 テスラメータは、この価格帯では例の無いほど高性能のホール効果磁場測定器です。Group3 独自のユニークな直線性補正と温度補正技術によりホール効果デバイス特有の問題を解決しました。 Group3 では出荷前にプローブ一本づつ、数百点の磁場強度値、異なる温度の特性データを測定します。測定データはキャリブレーションPCで解析し、校正係数をプローブ自身に記録し出荷しています。 Grou...

メーカー・取り扱い企業： 伯東株式会社 本社

【動画】FX100アナライザ-外部グライドスイープ

モバイル端末のオーディオ試験に最適

FLEXUS FX100オーディオアナライザは、オーディオ入力端子を装備しない例えば、スマートフォン、タブレットコンピュータ、MP3プレーヤー、医療・家庭用電化製品などの再生機器について、簡単で高速な測定を提供します。 連続スイープ解析の利点はテストサイクルタイムの短縮化で、大量生産工程でのアプリケーションに最適です。（例、周波数レスポンス測定20 Hz～20 kHzにおいて200 ms） ...

メーカー・取り扱い企業： エヌティーアイジャパン株式会社

ThetaMetrisis社　非接触ポータブル膜厚計

膜厚の測定に好適。多層膜厚み同時測定も可能な非接触ポータブル膜厚計

非接触ポータブル膜厚計は、PC（USBポート）から電源供給。研究現場や製造現場に持ち込み、瞬時に測定できます。 研究室のみならず、 現場でも使いやすいThetaMetrisis社の非接触型の膜厚計です。 【特長】 ○多層膜厚み同時測定も可能！ →例：PMMA/poly-Si/Si3N4/SiO2 10層までの膜厚を測定できます。 ○リアルタイムモニタリングなど 未乾燥の塗膜、硬化収...

メーカー・取り扱い企業： オーテックス株式会社

電気化学水晶振動子計測システム『ECstat-302-QCM』

SEIKO EG&G社のQCMシステム (QCM922A) および当社…

『ECstat-302-QCM』は、水晶振動子マイクロバランス (QCM) 法は、電極上への吸着や析出およびそれらの溶出に伴う質量変化をngオーダーで測定できる高感度な質量センサーです。電極表面で起きる種々の現象を、電気化学と質量変化の両面から同時に計測することができます。 【特長】 ■コンパクトなEQCMシステムが構築が可能 ■微小な質量変化を共振周波数、粘弾性変化を共振抵抗として...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社イーシーフロンティア

【アプリケーション事例】シグナルアナライザの２波形表示使用例

【アプリケーション事例】MSA500 シリーズシグナルアナライザの２波…

MSA500 シリーズシグナルアナライザのリアルタイムモードではＳＵＢ画面（下段）とＭＡＩＮ画面（上段）の２波形表示が可能です。 ２波形表示では、(1)ＳＵＢ画面（下段）に表示する波形を設定して、”測定”。 →(2)取り込んだ全フレームのＳＵＢ画面（下段）の波形を見ながら、ＭＡＩＮ画面（上段）に表示する解析フレームと波形の種類を設定して、”解析”。上記の２段階の操作を行います。 ...

メーカー・取り扱い企業： マイクロニクス株式会社

R&S RTO、R&S RTEオシロスコープによるEMIデバッグ

解析プロセスを説明するために実際の例も提示！EMI問題を解析方法をご紹…

当アプリケーションノートでは、R&S RTOおよびR&S RTEを使用して、 EMI問題を解析する方法を簡単に説明いたします。 この議論は、不要なRFエミッションを引き起こす可能性のある基本的な メカニズムをカバーするところから始まり、ついで、EMI問題の 解析方法を説明しています。 最後に、解析プロセスを説明するために、実際の例を提示します。 【掲載内容】 ■はじめに ...

メーカー・取り扱い企業： ローデ・シュワルツ・ジャパン株式会社