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PR約1秒で結果を表示する短時間計測が可能!発電システムの竣工点検・定期点…
『イプシロン1500V』は、高圧化する太陽光発電システムの メンテナンスに対応したI-Vカーブトレーサーです。 PVアナライザ「イプシロン400/1000」の特長を引き継ぎながら、 1500[V]計測を実現しました 【特長】 ■短時間計測(結果表示まで約1秒・日射や影の急変の影響を受けにくい) ■シンプルな操作性(事前設定が必要なくワンボタンで計測可能) ■本機と計測ユニット...
メーカー・取り扱い企業: 日本カーネルシステム株式会社 本社
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品質管理・保守向け。1から学ぶ計測器・測定器の『校正 基礎知識』
PR今更聞けない「校正の基礎」を解説。校正とは?成立条件?なぜ必要?トレー…
「ものづくり」の品質管理には、それに関わる機器の”校正”が必須です。 では、そもそも校正とは何?成立条件は?資格や校正周期は?トレーサビリティって何?など、 意味やルールを正しく理解していないと、正しい「校正」はできません。 ここでは「ものづくり」で避けて通れない「校正」についてまとめた資料を進呈中です。 後半では温湿度計・板厚計の校正事例や、校正や計測・測定関連の基礎用語も掲載しています。 ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社レックス
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ハンドヘルド型でありながら、高精度かつ高い検出感度。現場で素早く非破壊…
『ハンドヘルド型蛍光X線式測定器XAN500』は、携帯可能な蛍光X線式の 膜厚測定および素材分析機器です。 シリコンドリフト検出器搭載により、高精度かつ高い検出感度を実現。 品質管理、受け入れ検査、工程管理に適した装置で、小型部品や複雑な 形状の測定にも対応できます。 キャリブレーションの頻度が少なく済むため、時間と手間が削減できます。 【特長】 ■現場に携帯し測定できる...
メーカー・取り扱い企業: アンリツ株式会社 環境計測カンパニー
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ポリキャピラリX線光学系を採用。微小部の薄膜メタライズ、高機能めっきの…
【サンプル試測定実施中】 『XDV-μ』は、ポリキャピラリX線光学系を採用した汎用性の高い エネルギー分散型蛍光X線測定装置です。 当製品は、非常に小さい部品や構造部分を非破壊で膜厚測定・ 素材分析に適した測定器です。 【特長】 ●最小10µmの集光レンズを搭載可 従来では測定できなかった微小部の薄膜メッキでも測定が出来ます。 ●検出器には半導体検出器の中でも最高性...
メーカー・取り扱い企業: アンリツ株式会社 環境計測カンパニー
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汎用性が高く、電子部品やさまざまな形状のめっき加工品などの膜厚測定や素…
電子部品やさまざまな形状のメッキ加工品などの膜厚測定や素材分析が可能です。 『XDLM 237』は、汎用の高い蛍光X線式測定装置です。 当製品は、品質管理・受入検査・生産管性理における、薄膜コーティングの 膜厚測定や組成分析に好適です。 全ての測定における好適な励起条件のための切り替え可能なコリメーターと 一次フィルターを搭載しています。 操作性も簡単に膜厚測定と素材分析...
メーカー・取り扱い企業: アンリツ株式会社 環境計測カンパニー
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アナログ専用回線からのIP化!一筋縄では行かない、その勘所
当社のIPコンバータシリーズは、既存のアナログ設備とIP回線の間につなぐだけで、既存のアナログ専用回線から簡易・経済的にIP回線に移行することができます。 2000年より提供開始以来、IP回線へ5,500回線以上の更新実績のある長寿命・高信頼製品。IP多重化構造で設計されている「NN6001A」をはじめ、1回線タイプなど各種ラインアップを用意。 アナログ専用回線からIP回線への移行を検...
メーカー・取り扱い企業: アンリツ株式会社 環境計測カンパニー
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