UWBレーダー方式センサー

PRミリ単位以下の微小な変化を検知！医療機器・電子機器への干渉、影響はあり…

株式会社日本ジー･アイ･ティーは、UWBをはじめとする先端技術の 開発・設計・製造・販売を専門とする企業です。 当社が取り扱う『UWBレーダー方式センサー』は、1mm以下の微小な 変化を検知します。 医療機器・電子機器への干渉、影響がなく、プライバシー保護にも寄与。 バイタルセンサーや、工程内異物検知などにも応用が可能です。 【特長】 ■1mm以下の微小な変化を検知 ■...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本ジー・アイ・ティー

MCA4A 4チャンネルMCA（マルチチャンネル・アナライザ ）

PRPHA（パルス波高分析）モードとMCS（マルチチャンネル・スケーラ）モ…

PHAモードでは、16ビットADCを8nsごとに4チャンネル連続して収集し、32kの分解能を実現しています。 ポールゼロ・フィルタと台形波シェーピングを備え、典型的なプリアンプ信号も処理できます。 MCSモードでは、右側の４つのBNCコネクタを用いて、Start, Stop1, Stop2, CHADVの各入力信号を処理します。 内部メモリに、最大16Mbinのスペクトルを蓄積することが...

メーカー・取り扱い企業： 大栄無線電機株式会社

磁場分布測定装置

高速スキャンニング

移動範囲 　X軸　±100mm 　Y軸　±100mm 　Z軸　±50mm 走査分解能 0.1mm 走査プローブ FRP支持　ホール素子...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社システムブレイン 東京営業所

材料劣化診断技術・材料試験技術・環境分析・検定業務

創業以来100年の歴史で培った、技術力やノウハウをもとに材料劣化・破損…

●材料劣化診断技術 ・腐食試験 ・ひずみ測定 ・鋭敏化測定（EPR） ・レーザー顕微鏡観察・サイトでのレプリカ採取、硬さ測定 ・走査電子顕微鏡（FE-SEM）観察・エネルギー分散型X線分析装置（EDS）での定性分析・X線回折測定（XRD） ・携帯型蛍光X線分析装置での材質判定・光学顕微鏡、マイクロウォッチャー観察・σ相観察 ●...

メーカー・取り扱い企業： 日本製鋼所M&E株式会社 営業本部

【DL可/EBSD】EBSDによるはんだ断面の内部歪み測定

「実装条件違いや経年劣化で起きる不具合は何か？」 はんだ内部に潜む問題…

電子線後方散乱回折法EBSD（Electron Backscatter Diffraction Pattern）は走査電子顕微鏡SEMと組み合わせることで以下が可能です ・微小領域での結晶粒径、相構造に関する分析 ・実装部などの微小部における残留応力の評価（約50μｍでの解析事例あり） 本事例では ...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

【DL可/EBSD】EBSDによる2相ステンレスの相解析

金属および金属化合物の硬さや脆さなどの性能比較、変色の不具合がなぜ起こ…

電子線後方散乱回折法EBSD（Electron Backscatter Diffraction Pattern）は走査電子顕微鏡SEMと組み合わせることで以下が可能です ・結晶系の異なる相の分離 ・分離相ごとに分布割合や結晶方位解析 本事例では 【EBSD】EBSDによる2相ステンレスの相解析 を...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

【STEM/EDS】Auめっきされたコネクタ端子接点不良解析

STEMでめっきされたコネクタ端子表面の付着物層(20nm程度)の”表…

STEM(走査型透過電子顕微鏡 )とEDS(エネルギー分散型Ｘ線分析装置)では細く絞った電子線を試料上で走査することで、試料の組成に関する情報（原子番号を反映したコントラスト像）が取得できます。 以下の特長もあ...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

【資料DL可/EBSD】EBSD を用いたアルミスパッタ膜の評価

電子線後方散乱回折法EBSDはアルミスパッタ膜の性能評価や下地材料の選…

電子線後方散乱回折法EBSD（Electron Backscatter Diffraction Pattern）は走査電子顕微鏡SEMと組み合わせることで以下が可能です ●微小領域の結晶粒の形状および方位の測定 ●基準方位に対する結晶の配向の確認 ●結晶方位差の情報から材料内部の歪の測定 本事例では...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

【資料DL可/EBSD】線材の内部歪み測定

EBSDで金属組織の形状変化確認と内部歪み測定を行うことで板バネ、ひげ…

電子線後方散乱回折法EBSD（Electron Backscatter Diffraction Pattern）は走査電子顕微鏡SEMと組み合わせることで以下が可能です ・断面形成後の結晶方位解析 ・金属組織の形状変化と内部歪み分布の確認 本事例では EBSDによる「線材の内部歪み測定」を紹介してい...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

【資料DL可：EBSD】サマリウムコバルト磁石のEBSD 測定

SEMとEBSDによって磁石の方位分布がわかり、製品の性能や経年による…

電子線後方散乱回折法EBSD（Electron Backscatter Diffraction Pattern）は走査電子顕微鏡SEMと組み合わせることで材料の結晶方位分布を把握できます 本事例では「サマリウムコバルト磁石のEBSD 測定」を紹介しています この技術を各種磁石の性能評価、性能向上に役立ててい...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

形状記憶合金ニチノールについて-Ver.1 基礎知識

ニチノールの基礎知識に関する説明資料 - 相変態、変態温度測定方法、超…

チノールの相変態 – オーステナイト ↔ マルテンサイト 　1.1.1 R相 1.2　変態温度測定方法 　1.2.1　Differential Scanning Calorimetry (示差走査熱量計　DSC法) 　1.2.2　Bend and Free Recovery (BFR法) 1.3　ニチノールの機能特性 　1.3.1　超弾性 　1.3.2　形状記憶効果 1.4 温度ヒ...

メーカー・取り扱い企業： サエス・ゲッターズ・エス・ピー・エー 日本支店

【DL可/EBSD】線材(ばね材)の金属組織 観察

EBSDで金属組織を観察することで材料選定や材料変更の検討がスムーズに…

電子線後方散乱回折法EBSD（Electron Backscatter Diffraction Pattern）は走査電子顕微鏡SEMと組み合わせることで以下が可能です ・結晶系の異なる相の分離 ・分離相ごとに分布割合や結晶方位解析 本事例では EBSDによる「線材(ばね材)の金属組織観察」を紹介し...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社