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PR総合案内プレゼント!多用途接触端子など多数掲載!
【湘南エンジニアリング株式会社 総合案内】はプリント基板関連検査機機「SE-108A(操作パネル付)」をはじめ、 電子部品関連検査装置「レーザダイオード特性検査装置」や、通信機器関連検査装置「携帯電話開閉耐久試験機」など、 用途にあわせた幅広いラインナップを掲載しております。 *総合案内プレゼント中です!* 【掲載内容】 ○主要設備機械 ○会社概要 ○組織図 ○沿革 ○売上高推移グラフ 【掲...
メーカー・取り扱い企業: 湘南エンジニアリング株式会社
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高分子材料研究、医薬品や電子・化学分野の異物分析や品質管理等に!
PR化学結合状態分析、バイオロジーからナノテクノロジー・ポリマー・最先端材…
様々な分野で活躍できる、日本電子株式会社の商品を3つご紹介いたします。 ご興味のある方はお気軽にお問い合わせください。 〇JPS-9030 光電子分光装置(XPS) 「誰もが、簡単に、直ぐに使えること」を実現した汎用型XPSです。カウフマン型エッチングイオンソースやツインアノードを標準装備の上、汎用XPSでありながら高温加熱システムやガスクラスターイオンソース等幅広い拡張性も備えています。 ...
メーカー・取り扱い企業: アズサイエンス株式会社 松本本社
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試料の観察や元素分析が可能!半導体、電子部品分野のみならず、ライフサイ…
当社では、日立ハイテク社製の卓上型SEM(電子顕微鏡)『TM3030Plus』を 取り扱っています。 SEM観察が一般化されて半世紀。様々な分野にてSEM観察は重要な観察手段と なっています。 卓上型SEMの"帯電軽減モード"な...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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TEM(透過型電子顕微鏡)は電子部品の故障部位観察、長さ測定、元素分析…
TEMは高倍観察のみならず、EDS、EELSによる元素分析、 あるいは電子線回折による結晶構造、面方位、格子定数等の 解析を行う事ができます。...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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故障箇所特定から内部観察までを非破壊で実施する事が可能!高精度な発熱箇…
、電圧印加によってリーク箇所に発生する熱を高感度InSbカメラで 検出する事で不良箇所を特定する手法です。 ショートやリークに伴う微弱な発熱を高感度InSbカメラで検出する事で 半導体等の電子部品の故障部を非破壊で特定する事が可能。 更にX線検査装置を用いる事で非破壊での観察もできます。 【特長】 ■リーク箇所に発生する熱を高感度InSbカメラで検出する事で不良箇所を特定 ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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微細なクラックが見やすい!導電処理が不要で、すばやく詳細な観察が出来ま…
『卓上型SEM(電子顕微鏡)によるクラック観察』についてご紹介です。 製品の信頼性評価において、クラックの断面観察は欠かせません。 光学顕微鏡観察では見落とす可能性がある微小なクラックもSEM観察では 明確に...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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特長を当社のFT-IR、熱分解GC-MSを使用して分子レベルで解き明か…
にない高い強度や 耐久性を持ちます。 その特長を当社のFT-IR、熱分解GC-MSを使用して分子レベルで 解き明かしていきます。 【ナイロン6.10 界面重合反応機構】 1.塩素の電子吸引により隣接炭素の電子が不足 2.アミンの非共有電子が炭素を求核攻撃する 3.酸素原子が活性化して不安定な中間体を形成 4.塩化水素が脱離して、アミド結合を形成 5.界面重合が進み、ポリマ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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過渡熱測定可能パワーサイクル試験、カスタマイズ発光/OBIRCH解析装…
アイテスでは信頼性試験、分析・解析などパワーデバイスのトータルソリューションサービスを行っております。過渡熱測定を同時に行える「パワーサイクル試験機」をはじめ、「化合物半導体の故障解析」「拡散層の濃度解析」「モジュールの断面解析」など。具体的実績を元にご提案させていただきます。 キーワード:■パワー半導体全般(チップ、モジュールTIM素材など)■信頼性試験/評価 ■構造解析(出来栄え・他社品...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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GC-MSは低分子有機物質の定性定量分析に利用!線香と白檀にてデータを…
が起因であると推測する ■全般的に水酸基(OH)および二重結合を有することが特長であるが、 その分子間力により香りを持続させていることが示唆される ■スパイス ・エーテル結合を有し酸素Oの電子供与(正のメソメリー効果)によるベンゼン環内の電子密度向上 および、分極とn/nスタッキングが独特の香りと持続性を醸し出す所以であると推測する ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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低分子シロキサンの確認手法!どの程度の発生量であるかなども分析可能
シリコーン製品から発生する低分子シロキサンが電子部品の接点周囲に 存在すると、電気火花の熱により絶縁物である二酸化ケイ素を生じ、 接点障害を引き起こす事が知られています。 こちらでは、低分子シロキサンの確認手法としてHS-GCMSによる...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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Cu板における圧縮前後での変化を観察!圧縮前後の結晶粒径の半化を比較で…
EBSD(電子線後方散乱回折)法は、電子線照射により得られた反射電子回折 パターンから個々の結晶の方位情報を取得しマップ化したもので、さらに 定量的、統計的なデータとして結晶方位(配向性)のみならず結晶粒分布...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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製品企画段階から性能、信頼性、廃棄、リサイクルまで考慮した品質への取組…
●製品ライフサイクル全般をカバーする総合的な技術サービス 電子部品の品質向上のために必要な開発時の原材料評価、信頼性試験と結果解析、出荷後の故障解析と結果の開発・製造現場へのタイムリーなフィードバック、さらには品質問題解決のコンサルティングまで、製品ライフサイ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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特性X線を検出!微小領域や微小異物等の元素情報を得たいときに有効な分析…
『エネルギー分散X線分光法(EDSまたはEDX)』は、電子顕微鏡(SEMやTEM)に 取り付けられた検出器で電子線照射により発生する特性X線を検出し、 試料や異物の元素情報を得る手法です。 物質に電子線を照射することにより発生する特性X線が検出器...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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EBSDパターン(菊池パターン)、金ワイヤーボンド接合部の解析例をご紹…
EBSD(電子線後方散乱回折)法は、電子線照射により得られた反射電子回折 パターンから個々の結晶の方位情報を取得しマップ化したもので、さらに 定量的、統計的なデータとして結晶方位(配向性)のみならず結晶粒分布...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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株式会社電子技研 -
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金型設計・射出成形・切削加工の一貫生産体制で品質安定加工、大量…
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ソレノイド【エア駆動レスをご検討中のお客様は是非ご相談ください】
既存設備の「エア駆動レス化」を解決!エア駆動レスをご検討中のお…
株式会社エスクラフト -
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アルミ型材により成形しているため、銅製と比べ3~4割の低コスト…
LSIクーラー株式会社