【X線CT：受託計測】非破壊内部検査　

PR非破壊による内部の欠陥・状態観察が可能！ X線CTによる受託計測・解析…

進和メトロロジーセンターでは、 カールツァイス社　計測X線CT ZEISS METROTOMを所有し、受託計測業務を実施しております。 これまでの受託実績を踏まえて お客様のご要望にお応えしていきます。 検査内容 〇内部欠陥解析 〇CAD比較 〇寸法測定/幾何公差評価 〇繊維配向観察 〇肉厚測定 ○接合状態の観察　 【受託依頼　フロー】 1）　お問合せ（IPROS, ホームページ、Eメール...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社進和 戦略営業推進室

鋼材製品／多様な材料知見と、大型設備を生かした取り組み

PRクラッド鋼板供給以外の製品・サービス、当社設備を活用しお客様の問題を解…

鋼材製品について、主力製品であるクラッド鋼板以外の製品・サービスにも取り組んでいます。 例えば、当社の大型圧延機を活用した委託圧延は、材質に関わらず、板厚600mm超の素材圧延が可能です。 完成品としては板厚・幅・長さのバランスを要考慮ながら、最大重量15トン超、最大幅4メートル超、最大長さ12メートル超の製品ハンドリングも可能です。 委託熱処理についても、バッチ式大型加熱・熱処理炉を保有し...

メーカー・取り扱い企業： 日本製鋼所M&E株式会社 営業本部

X線TV検査装置『SOFTEX SHR-90』

SOFTEX製Micro-focus搭載！超高解像度を実現したX線TV…

さらに、ハイズピードX線画像の為、ストレスを感じることなく X線検査を行う事ができます。 【特長】 ■ランニングコストの軽減を実現 ■超高解像度を実現 ■FPD傾斜により多彩な非破壊検査が可能 ■ハイスピードX線画像、マッピング機能を搭載しており操作性が大幅に向上 ■高出力X線発生器・CTスキャンシステム・自動判定ソフト等を搭載可能 　（オプション機能） 詳しくはカ...

メーカー・取り扱い企業： ソフテックス株式会社 営業本部

卓上AFM

電磁スキャナー式（特許取得済み） ダメージレスで非破壊で測定可能 …

初心者でも正確な測定が可能です！ サンプルをセットするだけで非破壊で測定できます！ ハンディタイプからカセット付の全自動測定までラインナップがあります。 【製品特徴】 　・奥行幅、共に１５cmの超小型でどこにでも手軽に持ち運び可能 　・評価、デモ機貸出可能。豊富な測定検査実績 　・低コストを実現。高額なAFMと同等の機能を有します 　・スキャンに電磁スキャナー（特許取得済み）を使用す...

メーカー・取り扱い企業： ブルーオーシャンテクノロジー株式会社

結晶欠陥検査装置『EnVision』

非破壊/非接触！nmスケールのウェハー内部の拡張欠陥の検出とモニタリン…

『En-Vison』は、転位欠陥、酸素析出物、積層欠陥などのウェハー内部の 結晶欠陥を非接触・非破壊で測定・評価ができる結晶欠陥検査装置です。 欠陥サイズ（15nm～サブミクロン）と密度（E6～E10/cm3）の両方で ハイダイナミックレンジを提供。 ウェハー深さ方向の検出感度を大幅に向上させ、幅広い密度とアプリケーションを カバーすることで、表面近傍では確認ができない深さ方向の...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

携帯型鉄筋腐食診断器 CM-V　レンタル

コンクリート構造物をより長く・より美しく！

携帯型鉄筋腐食診断器 CM-V」は、表面の劣化・はく離を測定するとともに、独自の研究により表面劣化の影響を受けにくいコンクリートの強度推定を実現しました。 測定結果は従来のハンマータイプの非破壊検査装置に比べ、格段に精度を増しています。 パソコンでデータを出力、加工もできるので報告書の作成も容易です。 簡単かつスピーディな測定方法で現場の作業を効率化し、徹底したデータ分析を実現...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社レックス

携帯型 軟X線撮影装置『K-4』

移動できない、防X線暗箱に収容できない、検査物用。高解像のX線写真が撮…

『K-4』は、移動できない検査物や、防X線暗箱に収容できない検査物用に 開発された、利用範囲の大きいコンパクトな携帯型非破壊検査装置です。 実績の高い専用軟X線管の使用で、高解像のX線写真を撮ることができ、 自由度の高い照射方向の選定を簡単に行うことができます。 組立式の四脚なので、現場での作業がスムーズで...

メーカー・取り扱い企業： ソフテックス株式会社 営業本部

SiC半導体評価装置「SemiScope」

フォトルミネッセンス(PL)イメージング法を用いたSiC半導体評価装置

。 試料を移動させながらイメージング測定を行うタイリング機能を用いることで、約33億画素の解像度で6インチウェハ全面のPL画像を得ることができます。 SiCウェハの結晶欠陥を可視化。非接触・非破壊検査がPLイメージング法で短時間測定可能です。 【特徴】 ○SiC半導体評価装置 ○SiCウェハの結晶欠陥を可視化 ○非接触、非破壊検査 ○PLイメージング法のため短時間測定が可能 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フォトンデザイン

【撮影画像 写真集進呈】X線非破壊査装置　SHRシリーズ

操作性が大幅アップ！ハイスピードX線画像・マッピング機能を搭載したX線…

さらに、ハイズピードX線画像の為、ストレスを感じることなくX線検査を行う事ができます。 【特長】 ■ランニングコストの軽減を実現 ■超高解像度を実現 ■FPD傾斜により多彩な非破壊検査が可能 ■ハイスピードX線画像、マッピング機能を搭載しており操作性が大幅に向上 ■高出力X線発生器・CTスキャンシステム・自動判定ソフト等を搭載可能 　（オプション機能） 詳しくはカ...

メーカー・取り扱い企業： ソフテックス株式会社 営業本部