• 【カタログ進呈!】高性能オシロスコープ PicoScope  製品画像

    【カタログ進呈!】高性能オシロスコープ PicoScope

    PR先端デバイスの開発など、優れた信号解析性能が要求されるアプリケーション…

    高性能オシロスコープPicoScope 6428E-Dは、 既存のPicoScope 6000Eシリーズの性能を拡張したもの。 高エネルギー物理学、LIDAR、VISAR、分光分析、加速器、 および他の高速信号解析に取り組む科学者や研究者にとって理想的なツールです。 【特徴】 ・周波数帯域 3 GHz ・最高サンプリング速度 10 GS/s ・分解能可変8-12ビット ・メモリ4GS ・アナロ...

    メーカー・取り扱い企業: Pico Technology Ltd.

  • ICカードリーダー『IC SCAN』 製品画像

    ICカードリーダー『IC SCAN』

    PRFeliCa/Mifare対応!ICカードの読み取りが簡単にできます

    『IC SCAN』は、多機能で簡単操作のIC読み取り専用システムです。 DES/AES鍵ありデータエリアの読み取りも可能。 FeliCaサービスの読み取り制限がないほか、 Excelなどにキーボード出力可能など多機能です。 また、SIP独自開発ソフトのため、多種カスタマイズの開発も 受け付けます。(有償) 【特長】 ■IDm、UIDの読み取りができる ■読み取ったデータ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社システムズ・インテリジェンス・プロダクツ(SIP)

  • 【測定分野】 微小サイズ 【TM3】 製品画像

    【測定分野】 微小サイズ 【TM3】

    薄膜と微小領域の熱物性測定に。微小サイズ粒子も自在に測定可能

    サーマルマイクロスコープ TM3は、試料に金属薄膜を成膜し、加熱用レーザにより周期加熱します。従来困難だった微小サイズ粒子も自在に測定可能です。詳しくはお問い合わせ下さい。...【主な特長】 ○薄膜と微小領域の熱物性測定に ○試料に金属薄膜を成膜し、加熱用レーザにより周期加熱 ○従来困難だった微小サイズ粒子も自在に測定可能 【その他の特長】 ○SiC複合材料の評価 →粒子サイズは約...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ベテル ハドソン研究所

  • クロマト μ7 Data Station 製品画像

    クロマト μ7 Data Station

    使いやすさ、それはSICの基本設計思想です!

    【特徴】 ○使い易さ、それはSICの基本設計思想です! ○超小型A/Dユニット搭載、かつ超低価格で完全独立2CHを実現!! ○不分離(ショルダー等)ピークのシミュレーション機能! ○充実したレポート機能。クロマト貼り付け、デ...

    メーカー・取り扱い企業: システムインスツルメンツ株式会社

  • 【測定分野】 シート状 等方性、異方性 【TA】 製品画像

    【測定分野】 シート状 等方性、異方性 【TA】

    レーザーを用いた非接触で熱拡散率を測定。樹脂系材料の測定も可能

    サーモウェーブアナライザ TAは、レーザーを用いた非接触で熱拡散率を測定します。フィラーと樹脂の複合材料は、配合比率で熱伝導性が大きく変化しますので、熱拡散率の測定が必須です。樹脂系材料の測定も可能です。詳しくはお問い合わせ下さい。...【主な特長】 ○レーザーを用いた非接触で熱拡散率を測定 ○有機フィルムからダイヤモンドまで評価 ○樹脂系材料の測定も可能 【その他の特長】 ○フィラ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ベテル ハドソン研究所

  • 【測定分野】 熱物性分布 【TM3】 製品画像

    【測定分野】 熱物性分布 【TM3】

    薄膜と微小領域の熱物性測定に。SiC多結晶の熱伝導率分布を測定可能

    サーマルマイクロスコープ TM3は、試料に金属薄膜を成膜し、加熱用レーザにより周期加熱します。SiC多結晶(セラミックス)の熱伝導率分布を測定可能です。詳しくはお問い合わせ下さい。...【主な特長】 ○薄膜と微小領域の熱物性測定に ○試料に金属薄膜を成膜し、加熱用レーザにより周期加熱 ○SiC多結晶(セラミックス)の熱伝導率分布を測定可能 【その他の特長】 ○SiC多結晶の熱伝導率分...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ベテル ハドソン研究所

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