加工 | イプロスものづくり

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【加工事例集贈呈中】幅広い対応が可能な板金加工

PRベンディング金型60種以上を保有！R曲げ、プレーナー曲げを含めた特殊な…

当社では、小物から大物・長尺までの幅広い板金加工を行っております。レーザー切断、タレパン、曲げ加工、プレーナー、レーザー溶接と加工範囲が広く、ワンストップ加工で短納期も対応が可能。 6Mのレーザー切断と曲げ加工もできます。ステンレス鏡面800番やバイブレーション、両面研磨などの特殊材を通常在庫しており、板厚は0.8t～12.0t、サイズは6Mまで対応します。加工事...

メーカー・取り扱い企業：株式会社エッジ・エンタープライズ
【サンプル進呈】5μm微細・極薄・極小のエッチング加工をお手元に

PR毎月先着50社限定｜短納期、小ロットから対応の「エッチング加工」サンプ…

エッチング加工をご希望の企業様向け！毎月先着50社様限定で、ケミカルプリントが誇る技術を詰め込んだ無料サンプルを進呈致します！切削加工や機械加工に比べ、エッチング加工は加工精度が高く、また、ケミカルプリントなら短納期・小ロットから対応が可能です。サンプルご希望の企業様はイプロスもしくは、下記お問い合わせからとご連絡くださいませ。 https://www.chemical-print.c...

メーカー・取り扱い企業：株式会社ケミカルプリント
3D受託サービス『3Dスキャンサービス』

通常のCADでは難しい形状も、現物からスムーズに3Dデータを作成可能！

ーを用いて点群データを取得し、各種CADデータに変換します。 ●活用事例・検査・測定、リバースエンジニアリング、デジタルアーカイブなど・CADデータを作成し、3Dプリンターによる造形や切削加工等に利用・変形解析やCADデータとの比較レポートの作成 ●3Dデータ作成サービスも承ります。 2D図面から3Dデータの作成も承っております。また、ポリゴンデータやCG系のソフトでのモデリ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社システムクリエイト
SiCデバイスの裏面発光解析

SiCデバイスの前加工→リーク箇所特定→物理解析/成分分析までスルー対…

当社では、『SiCデバイスの裏⾯発光解析』を行っております。 SiCは従来のSi半導体と比べ、エネルギーロスの少ないパワーデバイスであり注目を集めていますが、Si半導体とは物性が異なるため、故障解析も新たな手法が必要となります。 SiC MOSFET裏面発光解析事例では、海外製SiC MOSFETをESDにより、 G-（D,S）間リークを作製、発光解析にて、リーク箇所を示す多...
メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス
TEMによる電子部品・材料の解析

TEM（透過型電子顕微鏡）は電子部品の故障部位観察、長さ測定、元素分析…

ッション発光にて特定した故障部位は　FIBにより薄片化しながら観察します。 ■電子の透過力の大きい加速電圧400kVのTEMにて　故障部位を試料厚内に閉じ込めた状態での透過観察とFIB加工を繰り返し　最適な像を得ることができます。 ■TEM像倍率をあらかじめ校正しておき　2%以下の誤差で測長することもできます。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス
実装部品接合部の解析

機械研磨法に化学エッチング、イオンミリング、FIB加工を施すことにより…

電子部品の接合部は基板全体の信頼性に大きな影響を及ぼします。特にはんだ接合部においては、形状のみならず、金属組織の観察が重要になります。...■基板接合部機械研磨　＋化学エッチング　＋イオンミリング　光学顕微鏡、SEMによる観察 ■FIBによる断面作成　SEMによる観察...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス
ブラインドビア（BVH）接続フレキ基板 (FPC)

高密度配線に有効なフレキシブル基板です。 FPC

通常のスルーホールと違い、穴を貫通させない為、パット直下に導通ビアを設置します。レーザーによる微細穴加工が可能で、超高密度配線等に有効です。モバイル機器の小型化、薄型化及び通信機器の高機能化により、狭ピッチ、多ピンパッケージを高密度実装する要求が高まってきています。それに伴いフレキシブ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社サーテック　　フレキ基板（FPC）ソフトウェアハードウェア
スライス画像(FIB-SEM/医用/連続切片)位置合わせソフト

ExFact Slice Alignerは、5種類の自動位置合わせ、2…

Templateマッチング画像に共通した画像領域(テンプレート)を設定し、それを基準として自動位置合わせします。共通の画像領域を設定できる場合に有効です。FIB-SEMでは事前に基準となる構造を加工しておくのもオススメです。 ◆ROIマッチング ROIツールで指定した矩形領域と、近い画像が次にも現れると仮定して、テンプレートマッチングを繰り返して、自動位置合わせをします。前後画像のXY...

メーカー・取り扱い企業：日本ビジュアルサイエンス株式会社
［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法

ナノオーダーでの元素分析・状態評価・粒径解析・三次元立体構築像の取得

■短所・試料を薄片化する必要がある（一部の試料において薄片化が困難な場合もある）・単原子を見ているのではなく、試料の厚み方向（通常約0.1μm厚）の平均情報を映し出している・試料加工および観察により、試料が変質・変形することがある...
メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
【分析事例】核融合炉用バナジュウム合金

低放射、高温強度、耐照射性！大同分析リサーチは新材料の開発をお手伝いも…

的に合わせた成分の提案も可能です。【特長】 ■EB,VAR溶解による極低O, N, C 溶製材 ■低不純物化による良好な破壊靭性，溶接性 ■大型溶解による世界標準試験材 ■優れた熱間加工性，冷間加工性（文部科学技術省核融合科学研究所殿ご指導） ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社大同分析リサーチ
［SEM］走査電子顕微鏡法

高倍率観察(30万倍程度まで)が可能

を得ることが可能　EDX検出器による元素分析が可能　電子線誘起電流（EBIC）を測定し、半導体の接合位置・形状を評価　電子後方散乱回折（EBSD)法により、結晶情報を取得可能　FIB加工とSEM観察の繰り返しにより、立体的な構造情報を取得可能（Slice & View）　冷却観察・雰囲気制御観察...
メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
よくあるご質問（FAQ）　サンプルについて

サンプルについて、よくお問い合わせいただくご質問を、FAQ形式でまとめ…

◆サンプルは返却してもらえますか？ →基本的に全て返却いたします。加工を施したサンプルについては一部返却できないものがあります。 ◆サンプルはどこに送ればよいですか？ →担当宛にお送りください。担当が不明の場合にはサンプル受付係宛てにお送りください。〒15...
メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
雰囲気制御下での処理

サンプル本来の状態を評価することが可能

■特徴・雰囲気（水分・酸素）を制御したグローブボックス内でサンプルを扱うことで、反応性の高いサンプルについても変質・変化を最小限に抑えることが可能・雰囲気制御下での切断・剥離・測定面出し加工により、大気の二次汚染・酸化を抑えることが可能・大気に暴露すること無く、評価装置に搬送・移動することが可能適用可能な手法：SIMS、XPS、SEM、TEM、STEM、FIB、AES、XRD、...
メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
LV-SEMとEBIC法によるSiC MOSFETの拡散層の観察

SiCパワーデバイスでも、特定箇所の断面作製、拡散層の形状観察、さらに…

電子（SE2）をInlens検出器で検出。 FIB断面でのSEM観察で拡散層の形状が可視化できます。【EBICを用いた解析手法】 ■PEM/OBIRCH 不良箇所特定 ■FIB断面加工 ■低加速SEM ■EBIC解析 ■TEM ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス
【分析事例】X線CT・クライオSEMによる化粧品の3D観察

乳化粒子や無機粉体の形状確認が可能！リキッドファンデーションの塗膜をマ…

【概要】 ■測定法：X線CT法・SEM・クライオ加工・Slice&View ■製品分野：化粧品・日用品 ■分析目的：構造評価・製品調査 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
【分析事例】めっき・塗装等の剥離原因調査

TOFーSIMSによる剥離面の汚染源の特定

剥離不良が起こった際、界面の密着性を悪化させた成分を同定することが重要です。ピーリング加工により、着目の界面で物理的に剥離させ、その表面に存在する成分をTOF-SIMSによって測定することで、剥離原因を調査することが可能です。 TOF-SIMSは有機物の構造を保ったままイオン化した二次...
メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
【分析事例】ステンレス不動態皮膜の深さ方向状態評価と酸化膜厚評価

TOF-SIMSで無機物の分子情報を深さ方向に捉えることが可能

ステンレス(SUS)は耐食性に優れ、様々な工業製品・部品として使用されています。腐食に強い材料ですが、経年劣化や加工処理によって表面不動態皮膜の組成に変化が生じると不具合の原因につながります。今回、TOF-SIMSを用いてステンレス表面の金属酸化膜の状態について分析した事例をご紹介します。TOF-SIMSでは酸化...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
【分析事例】Si系太陽電池のBSF層の評価

断面イメージングSIMSにより面内分布のある不純物評価が可能

表面に凹凸のある太陽電池について、凹凸の影響を避けて面内分布評価を行う方法として、断面加工試料をイメージングSIMSにより評価した事例を紹介します。断面SCMによりp+ Si層と判定された領域では、BとAlが高濃度存在することが分かりました。さらに、ラインプロファイルを用いてドーパント分...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
【分析事例】リチウムイオン二次電池　Si負極の評価

サンプル冷却により充電後のSi負極の構造を評価可能

iは高容量負極活物質の候補の一つですが、充放電時の非常に大きな体積変化のためにサイクル劣化が激しいと言われています。今回、充電後のSi負極の状態を確認するために、雰囲気制御環境下で解体して冷却FIB加工を行い、SEMにて断面形状を観察しました。室温で断面観察を行った場合は、膜の収縮・観察面の荒れ・孔発生等の大きなダメージが見られる一方で、冷却しながら観察を行うことでSi負極の変質を抑えて試料本来の...
メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
【分析事例】リチウムイオン二次電池電極の三次元的観察

Slice and Viewによる充填度・ボイドの観察

インダから構成されています。電池の容量や信頼性等の特性には、材料の組合せや配合比・活物質の充填度・ボイド等が大きく影響していますが、このうち、充填度やボイドを観察する方法として完全ドライ雰囲気で加工・観察が出来るFIB-SEM観察が非常に有効です。更に三次元的な観察(Slice & View)を行うことで電極の様子を直接的に評価することが出来ます。...
メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
【分析事例】有機EL素子中不純物の深さ方向分析

有機EL素子を深さ方向分解能よく評価

、陽極側からSSDP法*により分析しても、深さ方向分解能が低下し、界面から有機層への拡散を評価することは困難でした。（*SSDP法：裏面側からの分析。分析手法詳細編B0013参照。）そこで、特殊加工によって、陰極/有機層界面および有機層/陽極界面を露出させ、そこから有機層を分析することにより、有機層中を高い深さ方向分解能で評価することが可能になりました。...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
分析事例】XRDを用いた負荷印加前後における金属材の残留応力測定

非破壊で引張・圧縮応力を定量することが可能です

部材が様々な応力条件下に耐えられるかを調べる重要な方法の一つです。XRD（X線回折法）では、格子面間隔を測定することで残留応力を求めることが可能です。本資料では引張試験用にアルミニウム板の左右をＶ字加工した試料を作製し、引張試験用装置で引張負荷を印加する前後の残留応力の比較および、印加後の試料で残留応力の分布を確認した事例について紹介します。なお、残留応力値はsin2ψ法を用いて求めています。 ...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
【分析事例】セラミックスのぬれ性原因評価

無機材料の親水・撥水箇所に特徴的な有機物の分析ができます

は日用品から電子部品まで幅広く利用されている無機化合物材料です。耐熱性・耐薬品性などの特徴を有しており、表面状態の評価をすることはセラミックスの機能を活かすために重要です。本資料では、表面が撥水加工されているZr酸化物セラミックス材料において、撥水性低下の原因をTOF-SIMSを用いて評価した事例を紹介します。測定法：TOF-SIMS 製品分野：製造装置・部品分析目的：組成評価・同定...
メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
【分析事例】LIB(リチウムイオン)正極材料の解析

雰囲気制御＋冷却下での原子レベル観察

STでは、雰囲気制御（＋冷却）下で原子レベルのTEM分析が可能です。本資料では、リチウムイオン二次電池から大気非暴露で解体して取り出した正極材料のLiCoO2粒子を、雰囲気制御＋冷却下でFIB加工・TEM分析した事例をご紹介します。-174℃に冷却しながらSTEM観察とEDX分析を行い、視覚的に原子配列を確認しました。熱的安定性の低い材料や、大気下で変質する結晶材料の高分解能分析に適用...
メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
【分析事例】リチウムイオン二次電池内部の非破壊観察

X線CTによる観察事例

いる電池です。リチウムイオン二次電池は充放電を繰り返すことで劣化し、電池が膨らむ現象が発生することがあります。この現象が発生した電池を調査する場合、内部に溜まったガスや電解液等による反応が懸念され、加工には危険を伴うことから非破壊で内部の構造を確認する必要があります。本事例では充放電を繰り返したリチウムイオン二次電池の内部をX線CTを用いて観察しました。...
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【分析事例】有機EL素子の成分分析

Slope面出し加工された有機多層構造試料のTOF-SIMS成分分析

XPSで4層の異なる有機化合物(或いは有機金属錯体)で形成されていると推定された有機EL素子（図1）について、TOF-SIMS分析を行いました。多層構造試料についてはスパッタを併用した深さ方向分析も行われますが、今回は構成成分の結合を壊さずに測定するために、Slope面を作製して各層を露出させました。Alq3, NPD, CuPcと推定される分子量関連イオン・フラグメントイオンが得られ、Slope...

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【分析事例】アクリル樹脂の定性

TOF-SIMS分析による成分の推定が可能です

アクリル樹脂は、ケイ酸塩ガラスに比べ、加工性・透過率・安全性などが優れているため、有機ガラスとして航空機や自動車などの窓ガラス、レンズやプリズムなどの光学用器具・医療用材料・日用品・工芸品などの広い用途があります。代表的なアクリル系の標準試...

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【分析事例】こんにゃく中のグルコシルセラミド定量分析

作物や加工品中のグルコシルセラミド定量分析が可能

保湿効果やアトピー性皮膚炎に対する改善効果があることから、近年注目されている成分です。肌に直接塗布する化粧品だけでなく、グルコシルセラミドを配合したサプリメントなどの健康食品や一般食品、飲料等多くの加工品が販売されています。 HPLCを用いることにより、原料となる作物や加工食品に含まれるグルコシルセラミドの量を高精度に分析することが可能です。ここではこんにゃくの分析事例を紹介します。...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
【分析事例】眼球に投与した薬剤成分の分布評価

眼球の加工と薬剤成分の可視化（イメージング）が可能です

投与薬剤が生体内でどのように分布しているかを知ることは、薬剤開発のうえで重要な情報となります。本事例では魚類の眼球硝子体内に薬剤を直接投与し、眼球断面で薬剤成分の分布を評価しました。結果、薬剤を投与した付近から薬剤成分が強く検出され、眼内に分布している様子が得られました。質量顕微鏡であるTOF-SIMSを用いることにより、眼球をはじめとした様々な生体器官の薬物動態への応用が可能です。....

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
【分析事例】有機多層膜のラマン3Dマッピング

表面からの測定で、深さ方向の成分分布を確認可能です

ラマン分析では、表面からの測定で深さ方向の成分分布が確認できます。光を透過し易い物質に有効で、断面加工やイオンスパッタエッチングを併用せず非破壊での評価が可能です。本資料では、有機多層膜の各層について、ラマン3Dマッピングで評価した例を示します。結果より、有機多層膜は四層で構成されていることが分...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
【分析事例】三次元SEMによる活物質体積の数値評価

Slice&Viewデータから各物質の体積計算が可能

Slice&View（FIB加工とSEM観察を繰り返し数十枚の連続画像を得る手法）のデータを用いて、粒子などミクロンオーダーの体積計算を行うことが可能です。これにより、一定体積中の各物質の存在比率や平均体積等の情報を得ることができ...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
【分析事例】ホール側壁ONO膜の構造観察

FIB法による特定箇所の平面TEM観察

ナノオーダーでの加工が可能なFIB技術を用いることにより、特定箇所の平面TEM観察が可能です。これにより、断面からの観察では構造の確認が困難なホール側壁のキャパシタ絶縁膜のONO三層構造（シリコン酸化膜／シリコン窒...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST