電子機器の受託開発・設計（ハードウェア、FPGA、ソフトウェア）

PR画像技研は、幅広くお客様の開発をお手伝いします。（一貫した開発から部分…

●ハードウェア・ファームウェア・ソフトウェアのすべてにわたって、幅広くお客様の開発をお手伝いします。 ●画像の処理、圧縮、高速伝送、認識などで豊富な経験を持っています。 ●FPGAを使用したハードウェア処理により、高速処理、リアルタイム処理を実現します。...●ハードウェア 仕様書の作成から回路図、部品リストの作成、基板アートワーク、生基板作成、部品手配、実装、評価、調整までお引き受けします...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社画像技研

紹介資料『測定業務によくある問題の改善例3選』

PR測定データの入力・管理業務における課題と解決策を紹介。ヒューマンエラー…

本資料は、ノギスやマイクロによる測定業務の課題解決をテーマに、 品質管理システムによる3種類の改善例を紹介した資料です。 手作業の転記・入力やデータ管理の手間、データ紛失や改ざんリスクなどの 解消を目指す方はぜひご覧ください。 【掲載内容】 ■測定業務によくある問題 ■品質管理システムによる測定業務問題の改善例3選 ■品質管理システム『Mr.Manmos Sora』のご紹介 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アサカ理研

異方性ネオジム磁石の配向評価

ネオジム磁石に代表される異方性磁石X線回折の極点図測定結果から、残留磁…

ネオジム磁石に代表される異方性磁石の着磁前のX線回折の極点図測定結果から、残留磁束密度に対する結晶学的配向度の算出を可能としました。異方性磁石は磁化容易軸の結晶配向度が高いほど、着磁後の残留磁束密度が大きくなることから、着磁前の結晶配向度を把握することは異方...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社大同分析リサーチ

EBSD 主要な解析手法

EBSDにより材料の結晶構造や結晶方位の評価が可能です。

action:EBSD）のことで、走査型電子顕微鏡を用いて、材料のミクロな結晶組織を観察する方法です。結晶性試料に電子線を照射すると、電子は非弾性散乱し、結晶格子面で回折され、菊池パターンと言う回折図形を持った反射電子として放出されます。この菊池パターンに方位の指数付けを行う事で、結晶方位を求めることが出来ます。IPF(Inverse Pole Figure) mapは、結晶方位を示すマップであ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社大同分析リサーチ

EBSD測定によるチタン材料の評価

チタン材料はEBSD用前処理が難しいとされていましたが、独自の前処理に…

BSD測定を用いることでミクロ組織観察だけではわからない結晶学的な情報を取得し、材料開発に有益な知見を提供します。 　 ３．EBSD解析から得られる主な情報 （１）結晶方位（IPFマップ、極点図、Schmid Factorマップ） （２）結晶相(Phaseマップ） （３）歪（KAMマップ、GRODマップ、GAMマップ、GOSマップ） （４）結晶粒径 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社大同分析リサーチ

EVモーター材質調査~磁石の分析調査~

大同分析リサーチは長年培った材料分析技術、磁性材料評価技術でお客様のモ…

1 モーター本体の解体から構成部品を取出し、各構成部品の調査・分析を行います。 2 磁石の磁気特性はステーター側磁束フローの影響を考慮し厚さ方向の特性分布と温度特性を調査致します。 3 極点図測定はφ1以下で局部測定が可能です。弊社独自の手法で磁気配向度への変換が可能ですので、磁石内磁束分布や局部減磁判定に御活用下さい。 4 磁石の組織調査では磁気特性に影響を与える因子としての結晶粒度...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社大同分析リサーチ

【測定事例あり】EBSD解析の非鉄金属材への適用

当社独自の技術を用い前処理方法を最適化！異種多層の観察・解析が可能

属のEBSD解析を 可能としています。 異種多層（特に異種境界層）の観察・解析が可能（単独材質も当然可能）です。 【EBSD解析から得られる主な情報】 ■結晶方位（IPFマップ、極点図、Schmid Factorマップ） ■結晶相（Phaseマップ） ■歪（KAMマップ、GRODマップ、GAMマップ、GOSマップ） ■結晶粒径 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社大同分析リサーチ

X線回折による磁石の配向度および磁化容易軸の評価

異方性磁石の重要な特性の一つの残留磁束密度！結晶学的配向度および磁化容…

て おります。 着磁前の結晶配向度を把握することは異方性磁石の開発や生産ラインの品質 管理の面で極めて重要です。 通常、着磁後の磁気測定結果から算出するものを、着磁前にX線回折の極点図 測定結果から残留磁束密度に対応する結晶学的配向度の算出を可能とし、 加えて、磁化容易軸の角度算出も可能としました。 【調査方法】 ■試料作製 ■磁気測定 ■結晶学的配向度および磁化...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社大同分析リサーチ

【分析事例】（X線CTによる）セラミックス基板の導通不具合調査

供試材における断線箇所の低倍率および高倍率透視観察！クラック進展状態の…

理装置（ユニハイト UH-12）を使用。 試験内容は、X線透視装置を用いて供試材における断線箇所の低倍率および 高倍率透視観察と、クラック進展状態の観察です。関連リンク先では、試験 結果の図と透視像を掲載しております。 【試験内容】 ■X線透視装置を用いて供試材における断線箇所の低倍率および高倍率透視観察 ■クラック進展状態の観察 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社大同分析リサーチ