• 電気自動車用バッテリー向けレーザ溶接/光計測ソリューション 製品画像

    電気自動車用バッテリー向けレーザ溶接/光計測ソリューション

    PR高精度・高速光計測センサ、レーザ溶接、溶接中モニタリングなどバッテリー…

    ■光計測センサ  ・Enovsaense - 不透明体の厚み測定    バッテリーのグラファイトコーティング厚み  ・Field Sensor - 内部欠陥検査    溶接内部の欠陥をエリア検査    (クラック、ブローホール、ピンホールなど)   ・デュアルポイントセンサ(DPS) - 電極厚み測定    距離センサ2個の挟み込みによる高速・高精度測定  ・FSS -...

    メーカー・取り扱い企業: プレシテック・ジャパン株式会社

  • 超音波スキャニング装置 製品画像

    超音波スキャニング装置

    PR超音波探傷器とデータ処理パソコンでの構成!探傷条件の設定、結果の保存、…

    『超音波スキャニング装置』は、対象ワーク内の欠陥を全没水侵にて検出し、 リアルタイムでデータ収録・画像処理する自動超音波探傷装置です。 検査は、位置情報を基に超音波信号を画像処理し、平面図、 断面図に展開して欠陥の位置、形状をモニタに表示。 内部欠陥、肉厚(厚み)測定、溶接接合部、スパッタ材・ターゲット材などの内部・接合検査など色々な検査に使用できます。 検査結果画像は評価方法に合わせた色表...

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    メーカー・取り扱い企業: 有限会社エヌ・ケイ・システム

  • 断層画像(X線CT/FIB SEM等)3D解析 ExFactVR 製品画像

    断層画像(X線CT/FIB SEM等)3D解析 ExFactVR

    断層画像(X線CT/FIB SEM等)3D解析ソフト ExFact V…

    ズや特注案件等にも柔軟に対応可能。 ■海外顧客も弊社で対応できます。日本語、英語、韓国語のサポートが常時可能。 ■別売りのボイド解析オプションでは、鋳造製品や樹脂などの三次元画像から内部欠陥や粒子を抽出し、カラー表現して可視化/解析が出来ます。品質保証、非破壊検査等に最適。 ※詳しくはカタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。...

    メーカー・取り扱い企業: 日本ビジュアルサイエンス株式会社

  • [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法 製品画像

    [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法

    ナノオーダーでの元素分析・状態評価・粒径解析・三次元立体構築像の取得

    TEMは、薄片化した試料に電子線を照射し、試料を透過した電子や散乱した電子を結像し、高倍率で観察する手法です。 ■長所 ・サブナノレベルの空間分解能で拡大像が得られ、試料の微細構造・格子欠陥等を観察・解析可能 ・試料の結晶性を評価し、物質の同定を行うことが可能 ・FIBで試料作製することにより、デバイス内の指定箇所をピンポイントで観察することが可能 ・オプション機能を組み合わせる...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • X線検査 CRxFlex【受託検査】 製品画像

    X線検査 CRxFlex【受託検査】

    X線検査の受託を行っています!Nadcap/JISQ9100などの認定…

    造業や医療業界において幅広く活用されています。例えば、部品や製品の検査、医療診断、歯科検査などに利用されます。 CRxFlexは、高感度な画像検出器と画像処理技術を駆使することで、被検査物の微細な欠陥や内部構造を詳細に検査することができます。 高度な画像処理機能を備えているため、画像の明暗やコントラストを自在に調整することができます。 さらに、CRxFlexは従来のフィルム方式に比べて、...

    メーカー・取り扱い企業: TANIDA株式会社 かほく本社工場

  • X線検査 大型X線CT装置 【受託検査】 製品画像

    X線検査 大型X線CT装置 【受託検査】

    X線検査の受託を行っています!Nadcap/JISQ9100などの認定…

    X線検査は、CT撮影した画像データから内部構造や、鋳造や溶接欠陥、異物などを観察する非破壊検査です。被検査物を360度回転させ、複数の視点から高精度な3D画像を取得する事が出来ます。国内最大級の出力、高分解能センサーを搭載している為、様々な製品の撮影が可能です。...

    メーカー・取り扱い企業: TANIDA株式会社 かほく本社工場

  • 金属部品の破損事故調査 製品画像

    金属部品の破損事故調査

    金属部品の破損事故の原因調査が可能です。

    そを把握することができます。その次に、目視などによる破面観察で推定した破損原因を明確にするために破面の微細部を観察し、亀裂発生状況、破壊の種類、亀裂伝播の方向を確認します。亀裂発生箇所における異物、欠陥の有無の確認も行います。さらに、必要に応じて金属組織の観察、硬さ測定を行うことにより、素材の状態に異常がないかを確認します。ここで金属の破壊機構は、延性破壊、ヘキ開破壊、粒界破壊、疲労破壊に分類され...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社大同分析リサーチ

  • 受託検査 製品画像

    受託検査

    様々な業界のイノベーションを後押し!X線検査や浸透深傷検査、耐圧試験な…

    検出が期待できる 「浸透深傷検査」、試験片準備から試験までワンステップで対応する 「材料試験」などをご用意しております。 【特長】 ■X線検査 ・内部構造の確認、寸法測定、鋳造や溶接の欠陥などが手に取るように分かる ・航空エンジン部品の検査に求められるNadcap認定を取得 ■浸透深傷検査 ・検出したいキズなどのサイズに合わせて専門検査員が検査し、レポートを作成 ・原理上、幅...

    メーカー・取り扱い企業: TANIDA株式会社 かほく本社工場

  • 光学顕微鏡による受託観察サービス|JTL 製品画像

    光学顕微鏡による受託観察サービス|JTL

    金属顕微鏡・CCDなどの光学顕微鏡による形態観察を実施します。

    料の形態観察を実施致します。光学顕微鏡は凹凸・色合い・コントラストをよりリアルに表現できるため、試料の表面状態を観察評価するのに有用と言えます。 種類によって機能は異なりますが、表面・断面・界面・欠陥部分の形態観察や組織観察、2次元的な寸法測定や面積計算、動画撮影などを行うことが可能です。 観察データのご提供だけでなく、各種の評価試験から試料の前処理(カット・研磨・エッチング等)、表面分析に至...

    メーカー・取り扱い企業: JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

  • 【DL可STEM/EDS】STEM/EDSによる半導体絶縁膜評価 製品画像

    【DL可STEM/EDS】STEM/EDSによる半導体絶縁膜評価

    STEM-EDS観察は半導体のPoly-Si(ポリシリコン)間の絶縁膜…

    を反映したコントラスト像)が取得できます。 加えて以下の特長もあります。 ・電子線の入射角度を変えることで、回折コントラストの変化を観察 ・観察対象が結晶質であるかの判断 ・結晶内にある結晶欠陥(転位、双晶等)の情報の獲得 本事例では 「STEM-EDSによる半導体絶縁膜評価」 を紹介しています。 本事例は問題なしの結果でしたが、異常検出も可能です。 ぜひPDF資料をご一...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社

  • ドイツ サブマイクロフォーカス工業CT diondo d5 製品画像

    ドイツ サブマイクロフォーカス工業CT diondo d5

    熱膨張率が低い花崗岩ステージ!2種類の検出器が搭載可能な高出力 X 線…

    diondo d5 は、性能、サイズ、機器の互換性を必要とするお客様向けに特別に設計されています。 高出力 X 線源と高解像度検出器を最大 9 軸の精密機械システムの組み合わせで、柔軟性とパフォーマンスの革新的な飛躍が可能になります。 ▪ さまざまな組み合わせが可能 特定の試験ニーズを満たすために最大 2 つのチューブと 2 つの検出器を装備 ▪ 革新的なソフトウェア パッケージ...

    メーカー・取り扱い企業: ND GROUP 日本支社 ND精工株式会社

  • 工業用CTスキャン受託サービス 製品画像

    工業用CTスキャン受託サービス

    CTスキャンによる三次元測定!幅広い材料に適用し研究や設計支援に役立ち…

    スト、 電池、CFRP、セラミックス、骨格標本など幅広い材料において三次元測定を 行います。 【特長】 ■CTスキャンによる三次元測定 ■鋳造物、骨格標本など幅広い材料に適用 ■内部欠陥検出、寸法計測、解析 ■不良品検査 ■幾何学形状比較、リバースエンジニアリング ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 中外テクノス株式会社

  • 【STEM/EDS】Auめっきされたコネクタ端子接点不良解析 製品画像

    【STEM/EDS】Auめっきされたコネクタ端子接点不良解析

    STEMでめっきされたコネクタ端子表面の付着物層(20nm程度)の”表…

    子番号を反映したコントラスト像)が取得できます。 以下の特長もあります。 ・電子線の入射角度を変えることで、回折コントラストの変化を観察 ・観察対象が結晶質であるかの判断 ・結晶内にある結晶欠陥(転位、双晶等)の情報の獲得 本事例では 「STEMによるAuめっきされたコネクタ端子接点不良解析」 を紹介します。 ぜひPDF資料をご一読ください。 また、弊社では本STEM...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社

  • SEM-ECCI法による転位観察 製品画像

    SEM-ECCI法による転位観察

    金属材料中の転位の観察にはTEMが用いられてきましたが、SEMを用いた…

    SEM-ECCI法による転位観察の原理  結晶性試料をある特定の電子線の入射条件でSEM観察すると結晶からは均一な輝度が得られますが、転位などの欠陥の周囲では歪により画像にコントラストの変化が生じます。このコントラストを利用して転位の可視化を行う観察方法をECCI法(Electron Channeling Contrast Imaging)と言...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社大同分析リサーチ

  • [C-SAM]超音波顕微鏡法 製品画像

    [C-SAM]超音波顕微鏡法

    C-SAMは、試料の内部にある剥離などの欠陥を非破壊で観察する手法です…

    C-SAMは、SAT:Scanning Acoustic Tomographyとも呼ばれます。 ・X線CTによる観察では確認が困難な「電極の接合状態」や「貼り合わせウエハの密着性」などの確認に有効。 ・反射波のほか、透過波の取得も可能。...音波を用いることから試料の光学的な性質に左右されず、試料表面だけでなく、表面下の内部構造も非破壊で観察する事が可能です。空気との界面での反射が大きいこ...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 電子機器評価サービス 製品画像

    電子機器評価サービス

    24時間365日対応!1日から貸出できます!

    当社では、恒温槽、恒温室など、検査機器を備え、さまざまな環境で 電子機器他のテストを行い、評価・報告いたします。 また、ソフトウエアに欠陥が無いか、効率良く機能を発揮するか、 シュミレーションを行い評価いたします。 ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。 【環境試験 詳細】 ■環境試験室(全4機)では-30℃~80...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ファースター

  • X線検査 X線CT装置【受託検査】 製品画像

    X線検査 X線CT装置【受託検査】

    X線検査の受託を行っています!Nadcap/JISQ9100などの認定…

    ており、製造業や医療業界など様々な分野で活用されています。 CT.Compact X線CT装置は、被検査物を360度回転させながら高速で画像を取得することができ、 被検査物の内部構造や微細な欠陥、異物などを非破壊的に検査することができます。 また、高感度な画像検出器を採用しており、高品質な画像を取得することができます。 画像処理技術を駆使することで、画像の明暗やコントラストを自在に調整...

    メーカー・取り扱い企業: TANIDA株式会社 かほく本社工場

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