熱中症指標計 WBGT-300シリーズ【黒球付 暑さ指数計】

PR■JIS クラス1.5適合　■IP65の防水性能 労働現場や学校、ス…

WBGT-301/302は、測定値のメモリ機能や有線通信機能など、高性能かつ高機能なモデルです。 WBGT-301plus/302plusは、WBGT-301/302に無線通信機能を内蔵したモデルです。 洗練されたデザインにより操作性を向上させるとともに、ハンディタイプの熱中症指標計で最高基準の高精度（クラス1.5）を実現いたしました。 また、防塵防滴構造についてはIP65相当に対応しました...

メーカー・取り扱い企業： 京都電子工業株式会社 東京支店

『３Ｄ溶接検査装置システム』高速ビート検査

PR『溶接対象形状をロボットで正確にトレース！　寸法検査・形状検査も可能』…

『3D溶接ビード検査装置』は、ライン状のレーザ光源を検査ワークに 照射し、その反射光を高さデータとして取得する「光切断法」を 採用しています。 ロボットに取付けた3Dカメラでスキャンニングすることにより 三次元形状を計測できます。 また、検査中、通信でロボット位置・姿勢 情報を取得しているため、 加減速や姿勢変化にも対応可能です。 【特長】 ■自動での高速ビード検査 M...

メーカー・取り扱い企業： 東日本イワタニガス株式会社 開発本部

SUSS MicroTec 両面位置精度測定器 DSM8Gen2

ウェハ表面/裏面のパターンの位置ズレを高精度で測定

DSM8/200 Gen2は2～8インチウェハに対応した両面位置測定装置です。 TIS（装置起因誤差）を除去する機能を備えており、MEMS、パワーデバイス、光デバイスといった分野の両面パターニング基盤において、高精度な測定を実現しています。...

メーカー・取り扱い企業： 兼松ＰＷＳ株式会社

水銀プローバ　CV/IV測定システム

水銀プローバ　CV/IV測定システム

アメリカFour Dimensions社の再現性、安全性に非常に優れた水銀プローブ方式を用いたCV/IV測定システムです。Si、化合物、SOI、バルクといった様々なウェハの特性を測定できます。 【特長】 ◆電極作製が不要。水銀自体が電極となるため、コスト／時間の掛かる 　パターン形成工程が不要。...

メーカー・取り扱い企業： 雄山株式会社 東京支店

抵抗率／シート抵抗測定器【CRESBOX】

抵抗率／シート抵抗測定器【CRESBOX】

ナプソン株式会社は、半導体ウエハやFPD基板の各種測定システムを開発・製造・販売しております。 抵抗率/シート抵抗に関するあらゆるニーズにお応えし、仕様設計からアフターケアまで、最新の技術と豊富な経験を活かして、高精度・高性能なシステムをご提供いたし...

メーカー・取り扱い企業： ナプソン株式会社

膜厚測定装置『LF-1000』

ウェハ・ガラス基板+鏡面基板上の膜厚測定も可能な膜厚測定装置

『LF-1000』は、分光器と光干渉式膜厚解析ソフトを搭載し、各種パラメータの 設定をする事により膜厚測定を可能とした非接触式自動膜厚測定装置です。 本解析ソフトは薄膜の表面及び基盤との界面からの干渉波形を解析することにより、 非接触で、透明もしくは半透明の薄膜の膜厚、屈折率及び吸収係数を簡単に...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ラポールシステム

半導体パラメータ測定ソフト

簡単操作、高精度測定！安価で、初心者でも使いやすい半導体パラメータ測定…

最大12種類のパラメータを全自動で測定し、そお結果をexcelシートに出力します。その測定したトレースデータをexcelに出力し、同時にI-V特性の作図を行うことも出来ます。さらにパラメータの温度特性の測定ができます。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社システムハウス・サンライズ

高精度測定・簡単操作　有機トランジスタ測定ソフト

高精度測定・簡単操作

MS-Excel上で測定する有機トランジスタ測定ソフト ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社システムハウス・サンライズ

半導体　簡易型　測定　マークハンドラー　『TM226』

簡易型　測定検査　　測定　マーク　分類　収納　する装置です。

プラステイックステイックに収められた　ICデバイス デイスクリートデバイスを取り出し　接続されたテスターで電気的特性を測定して、レーザーマーキングする　簡易型　常温 測定　マーク　ハンドラー　です ...

メーカー・取り扱い企業： 綜和機電株式会社

半導体チップ温度Tj測定法の種類と特長

試験を実施するにあたりどの方法で測定するのかを選択することが重要な要素…

半導体チップ温度Tj測定法の種類と特長について説明します。 パワーサイクル試験は、デバイスへの通電電流による発熱により Tj(半導体チップ温度)が一定の温度変化を繰り返した際の 熱ストレスに対し、その耐久性を確認...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

拡がり抵抗測定装置『SRP-170/2100』

PN接合の深さおよびキャリヤ濃度分布を測定！オプションにより表面抵抗測…

当社が取り扱う、拡がり抵抗測定装置『SRP-170/2100』をご紹介します。 斜め研磨したSiウェハーを深さ方向に2探針をコンタクトさせ、 そのプローブ間の拡がり抵抗値からSiの深さ方向の比抵抗プロファイル、 EPI...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

抵抗率・厚み測定器 【EC-80SCAN】

抵抗率・厚み測定器 【EC-80SCAN】

ナプソン株式会社は、半導体ウエハやFPD基板の各種測定システムを開発・製造・販売しております。 抵抗率/シート抵抗に関するあらゆるニーズにお応えし、仕様設計からアフターケアまで、最新の技術と豊富な経験を活かして、高精度・高性能なシステムをご提供いたし...

メーカー・取り扱い企業： ナプソン株式会社

非接触表面抵抗測定器

最大20mm！広い測定ギャップにて測定することが可能！

ドイツNAGY社による渦電流磁界を利用したオンライン、オフラインに対応可能な非接触表面抵抗測定器です。最大20mmという他社製品と比べて広い測定ギャップにて測定することが可能であるため、お客様の様々なアプリケーションにも対応いたします。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社マツボー

超高感度DLTS　バルク内欠陥・界面準位測定装置

不良及び結晶欠陥の解析に有効！幅広いクライオスタット用のインターフェイ…

『DLS-83D/1000』は、温度、周波数スキャン、C-V特性等の測定が可能な バルク内欠陥・界面準位測定装置です。 「DLS-1000」は、10^8cm3レベルのバルク内欠陥、界面準位の高感度な 測定に対応。ライブラリーを標準装備しておりますので解析が容易...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

評価試験サービス(過渡熱抵抗測定)

使用材料別の放熱特性を比較！過渡熱抵抗測定を行った事例をご紹介

当社では、半導体関連製品の放熱特性評価などの「評価試験サービス」を 行っております。 サンプル3種類(接合材違い)の放熱特性を、過渡熱抵抗測定で確認して 比較した事例をご紹介。 各サンプルを比較したとき、熱抵抗の差が一番大きく見れるのが 「接合材」の領域であり、接合材の選定は放熱特性に大きな影響を 与えることが確認できました。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社佐用精機製作所

測定ハンドラー テーピング装置『TH288LD』

パワートランジスタ　測定検査　外観検査　テープ収納　チューブ収納

『TH288LD』は、プラステイックチューブに収められた ガルウイングリード形状のパワートランジスターを高温状態および 常温状態で接続されたテスターで電気的特性を測定し、その後 外観検査を行い、チューブ収納または、テーピング収納する装置です。 各構成は必要に応じて変更可能。また、デバイスのリード形状について ストレートリードL曲げ品など対応も可能です。...

メーカー・取り扱い企業： 綜和機電株式会社

抵抗率／シート抵抗測定器【WS-3000】

抵抗率／シート抵抗測定器【WS-3000】

ナプソン株式会社は、半導体ウエハやFPD基板の各種測定システムを開発・製造・販売しております。 抵抗率/シート抵抗に関するあらゆるニーズにお応えし、仕様設計からアフターケアまで、最新の技術と豊富な経験を活かして、高精度・高性能なシステムをご提供いたし...

メーカー・取り扱い企業： ナプソン株式会社