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PR製品の耐電圧性能評価にお困りの方へ。最大約200kVの電圧が印加可能!…
当社の絶縁耐力試験装置は、 高圧または特別高圧の機器・機材の耐電圧性能の調査および絶縁破壊電圧の測定が可能です。 最大約200kV/60kVAの電圧が印加可能。 また主変圧器、副変圧器やタップの切り替えにより、幅広い電圧が出力可能となり、 注水試験装置との組み合わせにより、散水状態での試験も実施可能です。 【このような困りごとはありませんか?】 ◆耐電圧性能を評価するため評価先...
メーカー・取り扱い企業: 関西電力送配電株式会社 技術試験センター
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PRPCベースの高電圧ケーブルテスターで、結線内容、不良内容をグラフィカル…
ケーブルテスター「HVX高電圧テストシステム」は、単純なケーブルから、複雑なハーネスケーブルまで、瞬時に検査が出来ます。 PCベースのケーブルテスターの為、結線状態を、グラフィカルに表示して、不良個所を的確に見つける事が出来ます。 また、不良レポートもグラフィカルに出力する事が出来ます。 高電圧テストではDC 10V~1500V, AC 10V~1000V(実効値)で選択でき、様々な漏れ電流の異...
メーカー・取り扱い企業: イーグローバレッジ株式会社 MI本部
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CMOS ICおよびそれを含む半導体製品のラッチアップ破壊に対する耐性…
■電流パルス印加法(JEDEC・JEITA・AEC) ■電源過電圧法(JEDEC・JEITA・AEC) ■電圧パルス印加法(AEC) ■ESDパルス印加法(参考試験) ■ラッチアップ判定法(JEDEC方式・電流定義方式) ■試験前後の保護ダイオード特性測定...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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高温状態での動作が要求されるデバイスに!高温でのラッチアップ試験をご紹…
温状態での動作が要求されるデバイスでは、高温での ラッチアップ試験が推奨されています。 【ラッチアップ試験の主要規格(抜粋)】 ■JEDEC(JESD78E) ・電流パルス印加法、電源過電圧印加法 ・ClassI:室温、ClassII:最大使用周囲温度 ■JEITA{JEITA ED4701/302(試験方法306B)} ・電流パルス印加法、電源過電圧印加法 ・ClassI:室...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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印加ピンの接触確認機能により確実に印加!直接チャージ法と電界誘導法にも…
【装置仕様】 ■印加(充電)電圧:0~±4000V ■ステップ電圧:5V ■印加回数:1~99回 ■ピン数:最大1024ピン ■印加ユニット:JEDEC、JEITA、EIAJ、AEC ■チャージ方法 ・D-CDM(直...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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故障箇所特定から内部観察までを非破壊で実施する事が可能!高精度な発熱箇…
発熱解析は、電圧印加によってリーク箇所に発生する熱を高感度InSbカメラで 検出する事で不良箇所を特定する手法です。 ショートやリークに伴う微弱な発熱を高感度InSbカメラで検出する事で 半導体等の電子部...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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「SEM像」や「吸収電流像(電流センス)」など!配線のオープン不良、高…
ております。 『EBAC(吸収電流)法による不良箇所の絞込み』では、 ナノプローバと高感度アンプを用いたEBAC法により配線の オープン不良、高抵抗不良箇所を特定します。 吸収電流を電圧センスすることで、配線内の抵抗分圧に基づいた コントラストが得られるため、ビアチェーンなどのTEGで⾼抵抗 不良箇所を検出することもできます。 【EBAC法による解析事例】 ■SEM像 ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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ダイオード、MOS-FET、IGBT等のパワーデバイスの不良箇所特定・…
IRCH解析・裏面エミッション解析- IR-OBIRCH解析:~100mA/10V ~100uA/25V まで対応 エミッション解析:~2kV まで対応 *低抵抗ショート、微小リーク、高電圧耐圧不良など幅広い不良特性に対応 ■リーク箇所のピンポイント断面観察-SEM・TEM- 予測される不良に合わせてSEM観察・TEM観察を選択し リーク不良箇所をピンポイントで物理観察/...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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パワーデバイスに対して高温・高湿度環境下で最大1000Vの印加が可能!…
【仕様】 試験電圧 :最大DC1000Vまで印加可能 (正極コモン・保護抵抗110kΩ) 試験数量 :最大30個 (正極側) 対応モジュール :TO-247、TO-220 等 (その他のパッケージは要相...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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デバイス帯電モデル(Charged Device Model)のESD…
■印加電圧0Vから±4000Vまで、5Vステップ ■最大 1024ピン まで対応します。 ■プローブ移動精度:0.1mm ■印加ユニット:JEDEC(JESD22-C101F)、JEITA、EIAJ、A...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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TEM(透過型電子顕微鏡)は電子部品の故障部位観察、長さ測定、元素分析…
■エミッション発光にて特定した故障部位は FIBにより薄片化しながら観察します。 ■電子の透過力の大きい加速電圧400kVのTEMにて 故障部位を試料厚内に閉じ込めた状態での透過観察とFIB加工を繰り返し 最適な像を得ることができます。 ■TEM像倍率をあらかじめ校正しておき 2%以下の誤差...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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