• 銅バスバー試作 ※1個からの試作品製作も可能! 製品画像

    銅バスバー試作 ※1個からの試作品製作も可能!

    PR需要の増えている銅製品!設計の強度アップ、軽量化、簡素化への対応も可能

    当社では、ファイバーレーザー加工機及び、ワイヤー加工機を用いて、 製作困難とされている銅板に対し、柔軟に対応致します。 複雑な曲げ加工も自由自在です。柔軟な設計試作に対応。 少量試作専門会社ならではの、1個からの製作が可能です。 必要な数量だけを製作することができます。 【バスバー製作の3つの強み】 ■ファイバーレーザー加工機 ■曲げ加工、自由自在 ■1個からの試作品製...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ウシオ

  • 製品の打痕・キズにお困りではありませんか? ※導入事例集公開中 製品画像

    製品の打痕・キズにお困りではありませんか? ※導入事例集公開中

    PR加工品をキズから守る装置「ダコンアンシン」!打痕不良を低減し、長時間の…

    伊藤精密製作所の『ダコンアンシン』は、NC自動旋盤や鍛造、プレス等で 加工された製品が機械から排出された際、 製品と製品が接触して生じる打痕キズや、擦り傷(擦りキズ)を防止する装置です。 従来、人が付きっきりで品質管理をする必要がありましたが、 当製品を使用することで、ダコンキズ/スリキズを防止し、 自動化(自働化)・省人化・長時間無人での加工を実現。 エアレスでのご提案も可能な為...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社伊藤精密製作所 MSTEC事業部

  • ROM書き後の品質保証に最適 IC外観検査装置『LI700E』 製品画像

    ROM書き後の品質保証に最適 IC外観検査装置『LI700E』

    余分な空トレイ不要で自動外観検査が可能! 基本機能に特化し、省スペース…

    【仕様】 ■対象トレイ:JEDECトレイ ■装置サイズ:1,310(W)×1,660(D)×1,670(H)mm ■装置重量:約900kg ■処理能力:1,200uph(3.0sec/個) ■供給電源:三相AC200V±10% 3.5KVA(ブレーカ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社

  • ICパッケージ自動外観検査装置『LI700E』 製品画像

    ICパッケージ自動外観検査装置『LI700E』

    省スペースで検査の自動化を実現!高精度2次元&3次元寸法計測が可能な検…

    【仕様】 ■対象トレイ:JEDECトレイ ■装置サイズ:1,230(W)×1,235(D)×1,500(H)mm ■装置重量:約900kg ■処理能力:1,000uph(3.6sec/個) ■供給電源:三相AC200V±10% 4KVA ■供給エア...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社

  • パワーデバイス用チップ外観検査装置『CI4000』 製品画像

    パワーデバイス用チップ外観検査装置『CI4000』

    狙った欠陥を確実にキャッチ!パワーデバイス用チップの欠陥検査を高精度で…

    陥を確実に検出します。 【特長】 ■全6面の微細欠陥を自動検査 ■最大25Mpixカメラによる高分解能・高解像度検査 ■オリジナルシームレス・7チャンネル マルチアングル照明 ■Min10msec/画像取込→検査モード毎に複数枚を連続取り込み ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社

  • プレス加工品欠陥検査装置『PK2800』 製品画像

    プレス加工品欠陥検査装置『PK2800』

    プレス加工ワークを高精度欠陥検査で自動選別!金型交換サイクルを数値で管…

    主要諸元(一部)】 ■対象ワーク:別途お打ち合わせ(対象品形状種類により段取り替え要) ■検査部 検査項目  ・レーザセンサ:金型劣化により加工時に発生する 表面の線キズ  ・検出能力:長さ1mm、幅0.1mm、深さ5um以上のもの  ・ラインセンサ:金型劣化により加工時に発生する表面破断(ムシレ)  ・検出能力:正常部とのコントラストが得られる長さ・幅 0.1mm以上のもの ■バ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社

  • 半導体IC 寸法・欠陥用外観検査ユニット『VM-A』 製品画像

    半導体IC 寸法・欠陥用外観検査ユニット『VM-A』

    端子や外観寸法検査、異物・キズ等の欠陥検査に適した高精度検査ユニット

    高速・高精度な2D/3D検査を、1台に統合した画像検査ユニットです。 弊社検査機だけでなく、ハンドラメーカ様への搭載実績も多数あります。 〇寸法検査機能の特徴 JEITA規格に準拠した半導体 IC寸法検査に対応した検査機能...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社

  • 簡易外観装置『LI330』 製品画像

    簡易外観装置『LI330』

    組立工程における工程能力管理の課題を解決!数値による解析と定量化を実現…

    型異常・劣化の兆候などを高精度測定し、 数値による解析と定量化を実現します。 また、金型の寿命管理と延命化を実現。金型交換サイクルの 最大化(金型コスト削減)が可能です。 【活用事例1】 ■統計データグラフから金型異常を早期発見 ■特定リードの曲がり異常を発見 ■原因:成形金型異物付着による成形異常→工程へフィードバック ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽に...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社

  • 高精度3D&2D検査ユニット『VM-A』 製品画像

    高精度3D&2D検査ユニット『VM-A』

    【サンプル評価可能!】コンパクト&スリムで様々な設備へ搭載も容易!3D…

    高精度な2D/3D検査を、1台で高速に行える検査ユニットです。 JEITAで規格されている半導体 ICパッケージの「端子寸法」検査及び2D/3D検査が必要な部品検査に幅広く対応します。 【特長】 ■高速・高精度な3D...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社

  • 6インチ以下各種材料の大量スライスに『SW630DS』 製品画像

    6インチ以下各種材料の大量スライスに『SW630DS』

    ダウンカット工法と業界最狭軸間による高精度・高速加工を実現!

    【主要諸元】 ■最大ワーク寸法:6インチ×長さ300mm×1pc ■軸数:3軸 ■主軸ローラ軸間距離:380mm ■ワイヤ最高線速:MAX 700m/min ■ワイヤ張力:MAX30N ■旋回角θ:±3° ■チルト角tilt:±2° ■母線径:...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社

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