• 受託照射サービス(耐候性試験/環境試験/超促進/信頼性評価試験) 製品画像

    受託照射サービス(耐候性試験/環境試験/超促進/信頼性評価試験)

    PRランプメーカーの耐候性試験機を1時間から気軽に使用 【ウェザーメータ…

    自社製品の耐候性試験機を使用した、受託照射サービスを行っています。 耐候性試験機は、製品・材料の長期使用時の信頼性を確認する為の試験機です。 ■ キセノンテスター    世界の規格試験に対応。規格に沿った最終評価試験に好適 ■ UVテスター    紫外線に特化した光で劣化促進を実現。スクリーニングに好適 ■ 4Dマルチチャンバー   広い空間で完成製品や立体成...

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    メーカー・取り扱い企業: 岩崎電気株式会社 光・環境事業部

  • シリコン(Si)粉末 製品画像

    シリコン(Si)粉末

    PRSi純度2N~4N、粒度分布50nm~3mmに対応。ニーズに合わせカス…

    当社は、用途に応じた純度や粒度分布のカスタマイズに対応可能な 『シリコン(Si)粉末』を提供しています。 Si純度は2N(Si>99.0%)、3N(Si>99.9%)、4N(Si>99.99%)、 粒度分布は微粉末(100nm~)、粉末(1.0μm~)、粒体(1~3mm)に対応。 プラズマアーク合成により50nmまでの微粉化を実現した『超微粉末』もあり、 超微粉末はSi純度2Nに...

    メーカー・取り扱い企業: 日本NER株式会社

  • 【設備紹介】光学式3次元測定機 製品画像

    【設備紹介】光学式3次元測定機

    自由曲面の素材検査に好適!精緻な3Dモデルを即座に作成することができま…

    当社が保有する光学式3次元測定機「Steinbichler COMET L3D 2 5M」は、 試料に模様を投影しそれをカメラで撮影することにより、精緻な3Dモデルを 即座に作成することができます。 自由曲面を持つ素材の3Dモデルを製造用3Dモデルと比較することで、表面の 凹凸の差を視覚的にわかりやすく確認することが可能。 当社の寸法検査では、測定結果の信頼性はもちろん、測定結果...

    メーカー・取り扱い企業: TANIDA株式会社 かほく本社工場

  • 【設備紹介】FF85-CT<コンピュータ断層撮影> 製品画像

    【設備紹介】FF85-CT<コンピュータ断層撮影>

    大型試料に対応!内部構造を余すことなく3Dモデル化し、複雑形状を容易に…

    「FF85-CT」は、様々な試料に適用可能なハイエンドX線CTシステムです。 トップクラスの高出力(600kV)/高分解能(139μm)かつ大型試料 (最大φ900x1000mm)のCT撮影に対応。2種類のX線管と検出器を搭載し、 ご要望に応じて多様な製品に適した撮影が可能です。 当社では、生物のように繊細な画像が求められるモノから、重金属のように X線が透過しづらいモノまで、様...

    メーカー・取り扱い企業: TANIDA株式会社 かほく本社工場

  • 浸透探傷検査:軽金属から炭素繊維まで幅広い試料に対応【受託検査】 製品画像

    浸透探傷検査:軽金属から炭素繊維まで幅広い試料に対応【受託検査】

    試料の材質を問わず、表面に開口している微細な欠陥を検出することが可能!

    樹脂、セラミックス、金属や炭素繊維など、試料の材質を問わず、 表面に開口している微細な欠陥を検出することができます。 また、素材欠陥、溶接欠陥などの他に、重切削による割れや 耐圧試験によるリーク部の特定なども確認できます。 ご用命の際は、当社へお気軽にご相談ください。 【検査実績】 ■ASTM E1417:蛍光探傷検査基準 ■AMS 2175:鋳造品判定基準 ■NAS ...

    メーカー・取り扱い企業: TANIDA株式会社 かほく本社工場

  • 【設備紹介】接触式3次元測定機「CARL ZEISS」 製品画像

    【設備紹介】接触式3次元測定機「CARL ZEISS」

    最高水準の測定設備!国家標準にトレース可能な校正を定期的に実施していま…

    KILTは、信頼性の高い「CARL ZEISS」の測定機のみを使用しています。 小型から大型試料の高精度測定に対応。国家標準にトレース可能な校正を 定期的に実施し、精度のみならず測定結果の信頼性においても最高水準を 維持しています。 当社の寸法検査では、測定結果の信頼性はもちろん、測定結果の納品 タイミングにも自信があります。専門検査員がお客様のご要望をお聞きし、 3つの測定方...

    メーカー・取り扱い企業: TANIDA株式会社 かほく本社工場

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