• 光学膜厚測定システム『DF-1045R1』 製品画像

    光学膜厚測定システム『DF-1045R1』

    多層膜解析などの様々な膜解析アプリケーションに対応!

    光学膜厚測定システム『DF-1045R1』は、反射率スペクトル測定光学系と スペクトル解析ソフトウエアの連携により、薄膜の膜厚・光学定数を 簡便に測定することができる分光システムです。 小型CCD分光器の採用により、省スペース、高速スペクトル測定を実現しました。 柔軟で高機能なスペクトル解析ソフトウエアSCOUTを搭載しているため、 多層膜解析などの様々な膜解析アプリケーションに対応...

    メーカー・取り扱い企業: 有限会社テクノ・シナジー

  • 紫外線強度計・照度計『XRP-3000』【レンタル】 製品画像

    紫外線強度計・照度計『XRP-3000』【レンタル】

    XRP-3000は、紫外線強度と照度を同時に測定することができる高精度…

    操作性にも優れており、誰でも簡単に使用することができます。ブラックライトの紫外線強度の測定や、暗室での照度の計測など、非破壊検査(NDT)での使用に最適な、非常に高精度な装置です。航空業界で必須のNIST(National Institute of Standards and Technology)へのトレーサビリティーも付属しています。 ■測定範囲:紫外線強度 0~100mW/cm2(0-...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ソーキ

  • 粒度分布・ゼータ電位測定器『Nicompシリーズ』 製品画像

    粒度分布・ゼータ電位測定器『Nicompシリーズ』

    DLS 式粒度分布とELS 式ゼータ電位測定を一台で迅速かつ簡単に行え…

    『Nicomp Nano 3000シリーズ』は、動的光散乱法(DLS)による粒度分布測定と電気泳動光散乱法(ELS)によるゼータ電位測定を、一台で迅速かつ簡単に行えます。 粒度分布測定においては、高出力レーザーと高感度検出器の組合せにより、シングルナノ粒子からの測定を実現させます。 ゼータ電位測定においては静止層へ光学的調整が一切不要な構造を採用しているため、どなたでも簡単にゼータ電位を測...

    メーカー・取り扱い企業: 日本インテグリス合同会社

  • レーザー受光器 LR30 レンタル 製品画像

    レーザー受光器 LR30 レンタル

    レーザー測量機/マシンコントロールセンサ

    レーザーレベル、ローテーティングレーザーとの組み合せで、重機による造成・圃場整備の仕上げ精度向上などにご利用ください。 ○取付可能寸法 単管(丸パイプ):42.50mm 角材(角パイプ):38mm...型式はLR30です。 受光角度は360 °で、検出範囲は171mm、検出精度はファインで±5mm、スタンダードで±12mm、ワイドで±32mmになります。 表示方法は5段階表示で、使用温度...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社メジャー

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