フレキシブル半導体製造装置『SHUTTLELINEシリーズ』

PR薄膜堆積用PECVD・ドライエッチング・故障解析用プロセス対応。多機能…

『SHUTTLELINE(R)シリーズ』は、RIE/ICP-RIE、PECVD/ICP-CVDに対応し コンパクトながら高性能かつ多機能な半導体製造装置です。 成膜とエッチングプロセスを一台で実現し、様々なウエハサイズと形状に対応可能。 シャトルシステムにより、異なるサンプルサイズでもハードウェアの変更が不要です。 世界で広く採用されており、Plasma-Therm LLCの グ...

メーカー・取り扱い企業： プラズマ・サーモ・ジャパン株式会社

プラスチック成形機用パージ剤『ALLESKLAR（アレスクラ）』

PRシリンダー内の炭化物除去でコンタミ・黒点を防止。無機物不使用のため金型…

『ALLESKLAR（アレスクラ）』は、プラスチック成形機内に残留した、 異物混入や黒点の原因となる炭化物を素早く除去できる洗浄剤です。 希釈レジンと混ぜてシリンダーに充填し、冷却・再加熱をして排出するだけでよく、 無機物を使わず界面活性効果で高い剥離性能を発揮します。 マスターバッチのため、リサイクル材などをベースレジンとして使え、 コスト削減や環境負荷低減につなげることも可能...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ジェスコ

Agilent 6546 LC/Q-TOF

信頼性の高い分析が可能！広いダイナミックレンジ、高分解能、優れた同位体…

『Agilent 6546 LC/Q-TO』は、メタボロミクス研究、食品安全性、食品真正性 分析などの包括的なワークフローにおいてラボの生産性を高めるシステムです。 10GHzデータ取り込み技術を搭載。広いダイナミックレンジ、高分解能、 優れた同位体精度を同時に実現します。 また、Q-RAIまたはAll Ionsの取り込みモードにより、ターゲットスクリーニング とサスペクトスクリ...

メーカー・取り扱い企業： 協立電機株式会社

ARPES-Lab　（ARPES光電子分光分析システム）

ARPESでのXPS観察・測定に！次世代のARPES測定装置の紹介です…

ARPES-Lab　（ARPES光電子分光分析システム）、XPS観察・測定に使用される装置です。 【用途】 ARPESでのXPS観察・測定 ―‐‐以下英文による紹介です。 The ARPES-Lab brings together the world leading instrumentation for ARPES: ●Outstanding performance ARPES...

メーカー・取り扱い企業： シエンタ オミクロン株式会社

DA30-L　（光電子アナライザー）

ARPES分析アナライザーの紹介

ARPES分析アナライザーのご紹介です。 【特長】※英文 ●30° degrees full cone acceptance without sample rotation ●Spin-resolved MDC without sample rotation ●Patented (WO2013/133739) ●Improved ky accuracy (resolution bet...

メーカー・取り扱い企業： シエンタ オミクロン株式会社