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    身体とモノを守る!事故を防ぐ素材 防刃布地『P-TEX』

    PR刃物・ガラスによる負傷・事故防止に!280℃の高熱でも溶けず鋭利な刃物…

    『P-TEX』は、身体とモノを守る繊維技術によって生み出された防刃布です。 強力有機繊維と無機繊維を組み合わせ、独自の多層構造織物を開発。 金属に迫る防刃を実現しました。 【防刃布地『P-TEX』を使って製品化した事例】 ■耐切創保護カバー『KiReN(キレン)』 ■空中養生幕『グランドパラム』株式会社RASTAQ ■ウォータージェット専用保護具 アマノ機工株式会社 ■防刃機密書類バッグ『Mo...

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    メーカー・取り扱い企業: ニッケプロテクティブマテリアルズ

  • 紙やフィルムをカットして空気輸送可能な産業用送風機 カットブロワ 製品画像

    紙やフィルムをカットして空気輸送可能な産業用送風機 カットブロワ

    PRメンテナンス対応!シュレッダーを用いずカットブロワ1台で切断と空気輸送…

    『カットブロワ』は、紙やフィルムをカットして空気輸送が可能な 産業用送風機です。 スリッターロステープ等のワークを、吸引~カット~輸送までが1台で可能。 小型カットブロワから大型カットブロワまで、お客様のご要望に合わせて 設計、製作を行います。 また、ご要望に合わせて事前にカットテストが可能で、設備導入前に 実施する事で、カット後の状況を事前に確認する事ができます。 【特...

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    メーカー・取り扱い企業: 日新技研株式会社

  • FIB-SEMによる半導体の拡散層観察 製品画像

    FIB-SEMによる半導体の拡散層観察

    他手法より短納期!FIB-SEMによる形状観察と、拡散層観察の両方を実…

    FIB法による断面作製とSEM観察によって半導体の拡散層を可視化、 形状評価を行いました。 SEMのInlens 検出器によって内蔵電位の違いを可視化した事例では 内蔵電位によりN型とP型領域で発生する二次電子のエネルギーに差が発生。 それによって生まれる軌道の差をSEMの検出器で検出します。 【特長】 ■FIB-SEMによる形状観察と、拡散層観察の両方を実施すること...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • クロスビームFIBによる断面観察 製品画像

    クロスビームFIBによる断面観察

    FIB加工をリアルタイムで観察しながら断面観察が可能です。

    2つの二次電子検出器(In-Lens/チャンバーSE)により試料から様々な情報が得られます。 3)加工用FIBと観察用低加速SEMを1つのチャンバーに集約し大気に曝すことなく観察。 4)拡散層:PN界面の可視化が可能。N+/N-及びP+/P-の濃度差は検出不可。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 透明素材の曇価(ヘーズ)測定、全光/拡散透過率測定サービス 製品画像

    透明素材の曇価(ヘーズ)測定、全光/拡散透過率測定サービス

    ガラス、ITOなどの透明素材に!各透明樹脂・紫外線照射前後の測定評価も…

    ィルム/シート、ガラス、ITOなど)の 『曇価(ヘーズ)測定、全光/拡散透過率測定サービス』を行っております。 曇り度合いや光の拡散度合いを測定するヘーズメーター装置を使用。 平行成分P.Tと拡散成分全てを含めた全光線透過率T.Tと平行成分を除いた 拡散透過率DIFの比で表されます。 当サービスのご提供とともに、分子構造視点のデータ解析考察も ご対応いたします。ご用命の際...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • XPSによるバンドギャップの簡易測定 製品画像

    XPSによるバンドギャップの簡易測定

    XPSを使用して簡易的に測定することが可能!酸化物系以外の半導体もお問…

    アイテスでは、『XPSによるバンドギャップの簡易測定』を行っています。 半導体や絶縁物の中で、比較的バンドギャップが広い物質や薄膜の バンドギャップを、XPSを使用して簡易的に測定することが可能。 β-G...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 銅端子の断面観察とSEM/EDXによる元素分析 製品画像

    銅端子の断面観察とSEM/EDXによる元素分析

    圧着端子の接合部状態や接合方法、部材の種類を調査!断面観察及びSEM/…

    についてご紹介いたします。 抵抗測定用銅圧着端子治具の接合部について断面作製を実施し、作製した断面に ケミカルエッチングを施し、エッチング前後で金属組織を観察。 その結果、検出元素が、P(リン), Ag(銀), Cu(銅)であることから、銀入りの りん銅ロウ付け材であると推察します。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • sMIMによる半導体拡散層の解析 製品画像

    sMIMによる半導体拡散層の解析

    濃度の変化をCの変化として検出!dC/dV信号も取得でき、拡散層の解析…

    では、sMIMによる半導体拡散層の解析を行っております。 マイクロ波インピーダンス顕微鏡(sMIM)は、ドーパント濃度に 線形な相関を持つ信号が特長です。 sMIM(エスミム) は、SPMに装着した金属探針の先端からマイクロ波を 照射してサンプルを走査し、その反射波を測定し拡散層の濃度に 線形な相関を持つsMIM-C像を得ることができます。 反射率から得られるZsのC成分...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

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