ICタグによるクリーンウェア管理サービス

PRICタグによりウェア管理業務を省力化！ 洗濯回数が把握できるようにな…

当社では、お客様のクリーンウェアにICタグを取り付け、当社工場への 入荷時と出荷時に専用のICタグリーダーで読み取りを行い、ウェアごとの 洗濯回数データを管理できる『ICタグによるクリーンウェア管理サービス』を行っております。 ICタグを取り付けたウェアごとに洗濯回数を個別管理できるため、 お客様が設定された洗濯回数を超えたウェアをタイムリーに交換可能。 ウェア劣化によるコンタミネー...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社菱進

Smart LCDC【組込機器へ液晶を搭載されたいお客様に】

PR「液晶」「LCDコントローラIC」でお困りのお客様、お気軽にご相談下さ…

◆必見◆ ・LCDコントローラICの入手でお困りのメーカー様 ・他社製LCDコントローラICの生産中止等でお困りのメーカー様 ・液晶の生産中止や仕様変更などでお悩みのメーカー様 〇小ロット、長期生産のお客様向けの製品です。 〇液晶の生産中止、LCDコントローラICのデバイスの生産中止に対して強力な解決案となっています。 〇弊社製品は基本的に1pcsからご購入可能です。 【S...

メーカー・取り扱い企業： 有限会社ケニックシステム 東京オフィス

半導体IC 寸法・欠陥用外観検査ユニット『VM-A』

端子や外観寸法検査、異物・キズ等の欠陥検査に適した高精度検査ユニット

高速・高精度な2D/3D検査を、1台に統合した画像検査ユニットです。 弊社検査機だけでなく、ハンドラメーカ様への搭載実績も多数あります。 〇寸法検査機能の特徴 JEITA規格に準拠した半導体 IC寸法検査に対応した検査機能を、標準搭載しています。 【特長】 ■対象製品：表面実装型 ICパッケージ（BGA、CSP、QFP、SOP、QFN、LGA） 、イメージセンサ、センサ製品　等 ■...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社安永 本社

IC高精度外観検査装置『LI900W』

半導体ICパッケージ検査のオールラウンダー　車載製品 実績NO.1

『LI900W』は、車載用IC等の高精度な検査が求められる製品の外観検査に適した装置です。 〇寸法検査 　JEITA規格に基づいた寸法検査が搭載されています。 　2D検査：全長、全幅、パッケージ中心、ピッチ、位置度、端子径　等 　3D検査：コプラナリティ、スタンドオフ、反り、全高　等 〇高精度欠陥検査 　高画素カメラ・マルチアングル照明を搭載し、表・裏・側面の高精細な欠陥検査を...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社安永 本社

３次元形状測定用ラインセンサCHROCODILE CLS2.0

非接触ラインセンサCLS第二世代。高精度・高速・広範囲の３次元形状測定…

新製品『CHROCODILE CLS2.0』は、951万ポイント/秒で非接触高速３次元形状測定を実現できます。分解能も最大Y2um, Z 0.05umと、非常に高精度な測定が可能。全世代品より、測定時間大幅短縮、ウエハエッジ、ワイヤボンダ、マイクロバンプ測定に適した高NA、光量アップなど大幅に改善。形状、表面粗さ、ステップハイト（厚み）、平坦度、ＴＴＶなど使い道は多数。卓上機だけでなく、In-Si...

メーカー・取り扱い企業： プレシテック・ジャパン株式会社

TheImagingSource社製　3次元計測ラーニングキット

3次元計測ラーニングスタートキット 簡単セットアップ、学術研究目的に…

TheImagingSource社のIC3Dステレオカメラシステムは、アプリケーション要件に基づいて【カメラ間隔】、【カメラ角度】、【カメラの画素数】、【レンズの画角】を柔軟に変更し、自らワークや仕様に合わせて試行錯誤ができるキットです。このスターターキットに含まれる冶具は、【カメラ間隔】や【カメラ角度】を素早く簡単に調整し、さまざまな距離での検証が可能です。...＜このような方におすすめ！＞ ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アルゴ

高精度3D&2D検査ユニット『VM-A』

【サンプル評価可能！】コンパクト&スリムで様々な設備へ搭載も容易！3D…

高精度な2D/3D検査を、1台で高速に行える検査ユニットです。 JEITAで規格されている半導体 ICパッケージの「端子寸法」検査及び2D/3D検査が必要な部品検査に幅広く対応します。 【特長】 ■高速・高精度な3D検査に対応します。 　3Dの寸法検査や高さのある欠陥検出も対応可能 ■2D検査に対応する様々なアルゴリズムがあります。 ■複数画像撮像を高速処理することで、様々な条件の...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社安永 本社

ハレーションマイクロスコープ　

独自の照明効果で曲面・Ｒ面の観察も可能「PS-100-S7Z45R10…

正反射光を利用したハレーション照明システムにより、シャフト等円柱では従来の落射照明で見えづらいクラック、傷、汚れなどの画像を、抜群の高精細画像で実現。　 外部照明による正反射像が得られるので、今までよりも『より簡単に』『より確実に』『より早く』表面隆起等の観察が可能で、品質検査などの業務を飛躍的に容易に行なうことができます。 ハレーションマイクロスコープ「PS-100-S7Z45R...

メーカー・取り扱い企業： 有限会社シーズインターナショナル

３次元測定 - ラインセンサ『CHRocodile CLS』

サブミクロン精度で高速・広範囲を３次元形状測定。エッジや斜面にも対応で…

『CHRocodile CLS』は、100万ポイント/秒で高速3次元形状測定を実現できます。分解能も最大XY 1um, Z 0.02umと、非常に高精度な測定が可能。レンジ幅、分解能、精度から最大6種類の測定ヘッドをご用意し、インラインへの適用も可能です。 【特長】 　■広範囲エリアの非接触３次元形状測定 　　　最大8.3mmのライン幅 　■広い許容角度 　　　反射面で±45° エッ...

メーカー・取り扱い企業： プレシテック・ジャパン株式会社

ハレーションマイクロスコープ「PS-100-S6Z90A」

外部照射光による正反射像なのでロスの無い画像が得られます。

外部照射光によって正反射像を捉えます。このため、ワークの色は無くなりますが、キズ、打痕、クラックおよび汚れのように反射を阻害するものは全て、陰影として像を観察することができます。 微小角を持つ反射像が得られるので、表面の隆起状態が確認できます。 左側掲載の画像は「深さが読める」平面観察用ハレーションマイクロスコープ「PS-100-S6Z90A」（高倍率）により、ICチップの汚れをハレーショ...

メーカー・取り扱い企業： 有限会社シーズインターナショナル

Leica DISTO S910

3次元情報を取得できる！！世界初のレーザー距離計 XYZ座標　取得　…

r https://www.disto.tv/archives/10102 ※ その他、製品仕様詳細はコチラ↓↓ http://www.movecorp.co.jp/Products/leica_sales.html ポイント貯まる使える【オンラインショップ】 http://move.easy-myshop.jp/c-item-detail?ic=B000000006...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ムーヴ 川崎事業所