• 【事例集】レーザー干渉式リニア変位センサによるQA&QC 製品画像

    【事例集】レーザー干渉式リニア変位センサによるQA&QC

    PRナノメートル精度で変位・変形・振動を計測。超高真空・高磁場対応。最大5…

    attocube(アトキューブ)社のレーザー干渉式変位センサは、物体のリニア運動の変動量を測定する装置です。 さまざまな材料や形状をもつ対象物の変位を、数ミリメートルから数メートルまでの広い範囲で測定できます。 小型モジュール式で、3軸まで構成可能です。 位置信号はクローズドループ位置決めシステムのフィードバックシグナルとして利用できます。 回転の振れ測定、振動測定、工作機械の校正など、高度な...

    • attocube_ids_550sq.png

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社日本レーザー

  • 半導体分野向け比抵抗計『UPW UniCondセンサ』 製品画像

    半導体分野向け比抵抗計『UPW UniCondセンサ』

    PR±0.5%以下の測定精度で、水質管理の信頼性を向上。評価結果などの紹介…

    『UPW UniCondセンサ』は、大手半導体メーカーとの共同開発により 堅牢な構造と高度な温度補正機能を備えた比抵抗計です。 環境温度やプロセス温度の変化による測定値の変化や 信号ノイズを防ぎ、高い温度補償比抵抗精度を実現。 半導体分野における水質の正確な把握と歩留まりの向上に貢献します。 【特長】 ■±0.5%以下の測定精度を実現 ■ノイズと水質変化による干渉を区別し、高...

    メーカー・取り扱い企業: メトラー・トレド株式会社

  • マイクロフォーカスX線透視検査装置『TXV-CH4090FD』 製品画像

    マイクロフォーカスX線透視検査装置『TXV-CH4090FD』

    実装基板の半田検査に最適。斜め方向からの観察も可能。

    ・傾斜角度:0~60度 ・倍率:10~160倍 <特長> ・メンテナンスフリーな密閉管型マイクロフォーカスを搭載。 ・画像表現能力が高く、歪みの無い鮮明な画像が得られるフラットパネル型センサを搭載。 ・傾斜撮影により斜め方向から観察可能。また、傾斜撮影時は観察ポイントを逃さない追従機能を装備。 ・BGAボイド計測ソフト搭載。 ・PC画面上ですべて操作できる快適なユーザインタフェ...

    メーカー・取り扱い企業: 東芝ITコントロールシステム株式会社

  • 高速度カメラX線透視検査システム『TOSRAY-HSCシリーズ』 製品画像

    高速度カメラX線透視検査システム『TOSRAY-HSCシリーズ』

    その瞬間を透視! 製品内部の挙動を可視化出来ます。

    、信頼性の向上を図ることができます。 【特徴】 ○従来のX線透視装置では見られない物体内部の高速な挙動を観察可能 ○1秒間に20,000コマ程度までの高速度撮影が可能   (高感度・高速応答X線センサと高感度高速度カメラの組合せ) ○最大撮影領域φ200mm ○外装を透明材質で作り直すなどの手間を省き、  実際の材質のままで観察可能 ○撮影対象に合わせたカスタマイズ、オプション機構等をご提案...

    メーカー・取り扱い企業: 東芝ITコントロールシステム株式会社

1〜2 件 / 全 2 件
表示件数
15件
  • < 前へ
  • 1
  • 次へ >

※このキーワードに関連する製品情報が登録
された場合にメールでお知らせします。

  • ipros_bana_提出.jpg
  • 0527_iij_300_300_2111588.jpg

PR