• 国交省仕様タイプD準拠PoEスイッチ【ST13512PW/D】 製品画像

    国交省仕様タイプD準拠PoEスイッチ【ST13512PW/D】

    PR国交省標準仕様を満たした12ポートPoEスイッチ!期待寿命15年、高負…

    本製品は、PoE(Power over Ethernet)給電対応インテリジェント イーサネットスイッチングハブ製品です。 10BASE-T/100BASE-TX/1000BASE-Tメタル 8 ポートと 100BASE-FXもしくは1000BASE-SX/LX に対応したSFP 4 ポートを有しています。 寒冷地など寒暖差の激しい場所での使用実績多数。 国交省の指定標準仕様を...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社リョウセイ

  • ICカードリーダー『IC SCAN』 製品画像

    ICカードリーダー『IC SCAN』

    PRFeliCa/Mifare対応!ICカードの読み取りが簡単にできます

    『IC SCAN』は、多機能で簡単操作のIC読み取り専用システムです。 DES/AES鍵ありデータエリアの読み取りも可能。 FeliCaサービスの読み取り制限がないほか、 Excelなどにキーボード出力可能など多機能です。 また、SIP独自開発ソフトのため、多種カスタマイズの開発も 受け付けます。(有償) 【特長】 ■IDm、UIDの読み取りができる ■読み取ったデータ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社システムズ・インテリジェンス・プロダクツ(SIP)

  • 高機能型光照射・受光計測光学系『M-Scope type I』 製品画像

    高機能型光照射・受光計測光学系『M-Scope type I』

    複数の光計測を実現!多目的な光応用計測用に設計された高機能型光計測用光…

    『M-Scope type I』は、光照射計測・受光計測・光ビームプロファイル計測 等の多目的な光応用計測用に設計された高機能型光計測用光学系です。 光計測用光ファイバポートと画像処理・解析用画像検出器用ポートを搭載し、 複数の光計測を実現できるほか、目的に応じたさまざまな光学計測用 コンポーネントを増設可能で、計測目的や計測項目、計測タクト等、使用目的 にあわ...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • 光ビーム計測・解析装置『M-Scope type HS』 製品画像

    光ビーム計測・解析装置『M-Scope type HS』

    【※デモ測定対応可能】ビーム形状の出射方向の変化を測定することもできま…

    さまざまな対物レンズ倍率の選択が可能 (M-Plan Apo NIR、M-Plan Apo NUVシリーズ各種対物レンズ) ■コリメート光計測が可能(対物レンズ無装着状態) ■同軸落射照明ポートを標準装備。同軸落射照明装置(オプション)との  組合せで顕微鏡画像観察・実像による位置合わせが可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • 光学系方式超微細導波路挿入損失測定装置 製品画像

    光学系方式超微細導波路挿入損失測定装置

    シリコンフォトニクス導波路等の微細構造導波路デバイスの挿入損失を高速・…

    『光学系方式超微細導波路挿入損失測定装置』は、当社の簡易型光計測用光学系 M-Scope type Jを使用した光学系方式挿入損失自動測定装置です。 光ファイバ計測ポートと同軸観察画像検出器により、被測定光導波路の 入射側・出射側コア端面画像を直接観察、同時に光ファイバによる 自動パワー調芯を行います。 画像処理による粗調芯と光ファイバ微調芯(光パワー調...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • ハイパワーレーザ用NFP計測光学系『M-Scope typeH』 製品画像

    ハイパワーレーザ用NFP計測光学系『M-Scope typeH』

    5Wクラスの高出力レーザ等の発光ビームプロファイル計測用のNFP計測光…

    動させることにより、ビーム形状の出射方向の変化を測定することも可能 です。 【特長】 ■高出力レーザのパワーを測定可能な適正レベルまで減衰 ■最大20倍の観察光学倍率 ■同軸落射照明ポートを標準装備 ■同軸落射照明装置(オプション)との組合せで顕微鏡画像観察・実像に よる位置合わせが可能 ■光ビーム解析モジュールAP013との併用により、高出力レーザNFP 計測システムの構...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

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