6インチ　レーザー干渉計

ガラス、プラスチック、金属などの平面形状測定に最適

小口径から大口径の研磨面をλ/20の高精度で測定評価が可能です。...大口径の平面ガラス、金属、ミラー、ウエハーなどの面精度の測定評価に最適です。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ナガタ

平面形状測定装置『OptoFlat』

誰でも使える現場向きの使いやすさと、裏面反射キャンセルなどの高機能を両…

作が容易で即戦力として活躍します。 光学部品だけでなく、金属・セラミックス部品や金型の平面部など、幅広い用途でお使い頂けます。 ■裏面反射の低減（裏面キャンセル厚さ0.3mm以上） レーザー干渉計では、平行平面サンプルの測定において、表面の反射波面に裏面の反射波面が影響して測定が困難なケースがありますが、低コヒーレンス干渉原理では、短い領域でコヒーレンスを制限することにより、裏面からの...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社マブチ・エスアンドティー

ポータブルFT-IR分光計『MOBILE-IR II』

IP67の防塵・防水規格に適合！フィールドアプリケーションに携わるすべ…

『MOBILE-IR II』は、どこでも使用できるポータブルFT-IR分光計です。 当社独自のRockSolidキューブコーナーミラー干渉計を搭載しており、 厳しい作業環境に直面しても優れた安定性を維持。 トロリーケースに格納可能なケミカルアナライザーで、必要な場所に 持ち込んで開梱したら、すぐに分析を開始することができます。 【特長】 ■無冷媒MCT検出器（TE-MCT）...

メーカー・取り扱い企業： ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部

DPSS:半導体レーザー 「Oxxius」

高速TTL変調、アナログ変調、重畳変調可能

半導体レーザー 「Oxxius」は、出力安定度が高く円ビームで低ノイズな半導体レーザーシステムです。 さらにTTLにて、立ち上がり立ち下がり共に約12nsec,アナログでは2MHzまで変調可能です。 【特徴】 ○高速TTL変調、アナログ変調、重畳変調可能 ○ビーム真円度　＞90％ ○電源内蔵型 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。...【特徴】 ○...

メーカー・取り扱い企業： オーテックス株式会社

Nicolet iS20 FT-IR 分光光度計

多様化する分析ニーズに対応したFT-IRの新たなスタンダード！

『Thermo Scientific Nicolet iS20 FT-IR』は、数々の イノベーションでFT-IRの新たなスタンダードを構築します。 先端技術により設計された光学系、LightDriveオプティカル・エンジンにより、 次世代の分析パフォーマンスを実現します。 干渉計、レーザー、赤外光源は10年保証。そして優れたS/N比（50,000:1）や 波数分解能（0.25c...

メーカー・取り扱い企業： サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社／Thermo Fisher Scientific K.K.

ガス分析用FT-IRシステム『OMEGA5』

まざまな分野への応用が可能！ガス濃度を高精度かつリアルタイムで自動的に…

『OMEGA5』は、19インチラック対応のコンパクトボディに、工業用ガスの測定に 適した光路長5mの多重反射型ガスセルを搭載したガス分析用FT-IRシステムです。 ガス濃度を高精度かつリアルタイムで自動的にモニタリングできるように設計され、 さまざまな分野への応用が可能。 干渉計、赤外光源、ダイオードレーザーをはじめとする耐久性に優れる各種 コンポーネントにより、運用やメンテナン...

メーカー・取り扱い企業： ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部

コンパクトFTIR ALPHA II　※A4用紙1枚の設置面積

【設置面積がA4用紙1枚分という、コンパクトなFTIR分光計！】原材料…

『ALPHA II』は、定性および定量分析、原材料の検証、品質管理など、 あらゆる業界と分野におけるすべてのアプリケーションに対応するマルチパーパスな FT-IR です。 コンパクトボディに日常の赤外スペクトル分析に求められる機能のほとんどを搭載した、 新しい分析ツールです。 【特長】 ■コンパクトかつレジリエントなデザイン ■ほぼすべての試料形状に対応 ■堅牢・耐震設計 R...

メーカー・取り扱い企業： ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部

非接触厚さ測定技術　測定機

厚さの絶対値が瞬時に測定可能！0.1μmの測定精度を維持

【赤外光で厚さを計測】 赤外光は特定の物質の中を透過します。この性質を利用して特定の物質の厚さを非接触で計測する技術です。シリコンウェハー、サファイヤ、ガラスなどを非接触にて厚さ・形状を測定します。光干渉方式、変位計方式などニーズに合わせた測定機を提案・開発します。 【特長】 ■赤外光を通す物質であれば材質変形させることなく厚さ測定が可能 ■赤外光方式では絶対値を計測することが可能 ...

メーカー・取り扱い企業： 昭和電子工業株式会社

【無料ウェビナー】レーザ／レンズの波面収差をリアルタイム計測

【11月18日(金)14:00開催】群・組レンズの歩留まり改善！収差に…

大好評 パルステックウェビナーの第8弾！ 光学部品の品質や光学機器の性能を波面収差にて定量化できる波面センサ（PWSシリーズ）の測定原理 や計測事例などについて講演いたします。 従来の計測手法である干渉計と比較した際のメリットや波面計測システム（LUCAS）での測定イメージ もご紹介いたします。 ウェビナー(オンラインセミナー)形式で無料にてご聴講いただけます。 会社やご自宅の...

メーカー・取り扱い企業： パルステック工業株式会社