• 比類なき高視野・高分解能な干渉型3Dレーザー走査顕微鏡 製品画像

    比類なき高視野・高分解能な干渉型3Dレーザー走査顕微鏡

    他に比類なき高視野・高分解能を実現した、干渉型3Dレーザー走査顕微鏡(…

    レーザ走査を用いた初めての干渉計測  光沢紙程度の反射で干渉縞が出現。干渉縞で50nmの変化をとらえます ●倒立型レーザ走査干渉計(型番:LSMi-7000)   サンプルをガラス面に置けば、簡単に干渉縞計測可能。   走査範囲は30mm×50mm、モニター上で拡大観察可能   セラミックスなどの細い傷、研磨不良、欠けなどが検査可能   干渉縞解析ソフトはオプション ●円筒用レーザ走...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ワイ・ドライブ

  • 光コネクタ端面3D測定干渉計 光ファイバ端面検査 製品画像

    光コネクタ端面3D測定干渉計 光ファイバ端面検査

    光コネクタ端面3D測定干渉計は、ファイバフェルール、パッチコード、ピッ…

    光コネクタ端面3D測定干渉計 研磨および組立工程にでの検査用に設計された干渉計です。以下の検査に対応します。 ●光ファイバフェルール ●パッチコード ●ピッグテール ●ベアファイバ 鮮明な3D画像表示が可能、製品は人間工学に基づいた検査治具とで、直感的で使いやすいソフトウェアも完備しております。 ※PDFカタログをダウンロードいただけます。詳しくはお問い合わせください。......

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社日本レーザー

  • 超高安定性 二次元分光干渉計 GEMINI 2D 製品画像

    超高安定性 二次元分光干渉計 GEMINI 2D

    過渡吸収分光測定を先進の2次元分光装置に変換します

    〇コンパクトで軽量(180mm x 180mmフットプリント、0.4kg) 〇UVから近赤外までの選択波長範囲においてOPAやNOPAをサポート 〇吸収スペクトルのためのポンプ・プローブ分光法 〇グレーティングも入力/出力スリットも無い、1cmのクリアーアパーチャーにより高スループット実現 〇お客様がお持ちの既存の光学系に容易に結合が可能 〇頑丈で堅牢なデザイン 〇ドライバーを含めた完...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社日本レーザー

  • 超高安定性 干渉計 フーリエ変換アプローチよるスペクトル測定 製品画像

    超高安定性 干渉計 フーリエ変換アプローチよるスペクトル測定

    NIREOS社のGEMINIは2つのレプリカ間の時間遅延を制御した入力…

    〇コンパクトで軽量(176mm x 44mm 設置面積、0.4kg) 〇幅広いスペクトルレンジ:350-2300nm(オプションで250-3500nm可能) 〇特許取得済みのコモンパス構造で、堅牢なデザイン。振動の影響を受けません。 〇無制限のスペクトルバンドを連続スペクトルとして提供 〇アライメント済みで、既存のセットアップに簡単に取り付け可能。ターンキーにて使用可能。 〇グレーティン...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社日本レーザー

  • 除震台不要レーザー干渉計 FizCam2000 製品画像

    除震台不要レーザー干渉計 FizCam2000

    除震台の不要化・最小化が出来、さらに短コヒーレントレーザーを用いること…

    短コヒーレントレーザー(干渉できる範囲が狭い)を用い、内部で2系統に分けた片方の光学系に空間的遅延を作ることで、複数の面が重なりあった複雑な光学系でも、任意の2面を選択して干渉測定が出来ます。測定が難しかった大口径の凸面を、反射型(ヒンドル鏡など)の一部計測できない部分が出来てしまう方式ではなく、透過型で全面を一度で測定可能。望遠鏡のセカンダリミラーや大型ステッパーレンズ、波面保存光学系の最終性能...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイ・アール・システム

  • 光ファイバ端面検査装置 製品画像

    光ファイバ端面検査装置

    光ファイバの端面品質を検査し、切断工程最適化する高精度干渉計

    クラッド径: 125 – 1200 µm、ファイバコーティング: 250 – 1500 µm、3D画像生成対応モデルもご用意。 ※詳しくはお問い合わせください。...※詳しくはお問い合わせください。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社日本レーザー

  • 【Akion】レーザー干渉計 製品画像

    【Akion】レーザー干渉計

    多くのお客様の測定ニーズに対応したシステムを取り揃えております!

    東明技研は、独自のブランド Akion(アキオン)で、レーザー干渉計システムを 開発・製造・販売を行っております。 4インチレーザー干渉計「AK-100ZF」をはじめ、6インチレーザー干渉計 「AK-150ZF」や1.5インチレーザー干渉計「AK-4...

    メーカー・取り扱い企業: 東明技研株式会社 本社/実験室

  • 光ファイバー干渉計 製品画像

    光ファイバー干渉計

    ファイバーストレッチャーのメーカーであるOptiphase社が光ファイ…

    ファイバーストレッチャーをご購入いただくお客様は、光ファイバー干渉計を製作するためにファイバーストレッチャーをご購入いただくことが多かったので、 Optiphase社が光ファイバー干渉計の製造を開始しました。 マイケルソン干渉計とマッハ・ツェンダ干渉計の2タイプを用意しています。 内部にはPZ1シリーズの光ファイバーストレッチャーを内蔵し高速な応答性を確保しています。波長は1064nm...

    メーカー・取り扱い企業: ライミス有限会社

  • 除震台不要レーザー干渉計 PhaseCam 製品画像

    除震台不要レーザー干渉計 PhaseCam

    大口径や長焦点光学系の計測に必須の除震台が、不要化もしくは小型化ができ…

    超高速の干渉計測を行うため、震動/振動や空気ゆらぎ(Air turbulence)の影響を最小化、リアルタイムでの波面計測が可能。Twymann=Green干渉法を用いた計測なので、大口径光学系でも同程度の大きさのFizeau面は不要。Diverging lens(発散レンズ)を用いて、様々な拡張測定が可能。...瞬間的に4位相を同時測定の出来る機構で、大型光学系の測定に不可欠だった除震台が不要の...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイ・アール・システム

  • 1インチ干渉計『KNC-1』 製品画像

    1インチ干渉計『KNC-1』

    生産現場での小径レンズ検査に適しています!

    【仕様】 ■構成:フィゾー型レーザー干渉計 ■光源:637nm半導体レーザー ■口径:φ1インチ(φ25.4mm) ■参照レンズ性能:λ/15以上 ■外形寸法(本体):(H)290mm×(W)100mm×(L)250mm ■...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社清原光学

  • レーザ走査干渉計 製品画像

    レーザ走査干渉計

    光沢紙程度の反射で干渉縞が出現!干渉縞で50mmの変化をとらえる干渉計

    当製品は、レーザ走査を用いた干渉計です。 光沢紙程度の反射で干渉縞が出現。干渉縞で50mmの変化をとらえます。 サンプルをガラス面に置けば、簡単に干渉縞が見える倒立型の「LSMi-7000」 をはじめ、円筒用の「LSMi-7500」や正立型の「LSMi-8000」をラインアップ。 この他にも、5×50mmの範囲を3D形状計測できる超広視野共焦点型レーザ 走査イメージャ「LSM...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社オプセル

  • キャリアフリンジ法8インチレーザーフィゾー干渉計 製品画像

    キャリアフリンジ法8インチレーザーフィゾー干渉計

    振動に強いため除振定盤が不要!位相データへ変換して波面マップへ導きます

    【仕様(抜粋)】 ■光源:He-Ne Laser ■干渉計タイプ:フィゾー型レーザー干渉計 ■設置形態:垂直 下向き ■電源:24V ACアダプター ■動作環境:15~30℃ ■本体寸法:W700×T800×H1535mm(ベースおよびレンズ調整台含まず) ■本体質量:約...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社清原光学

  • InterOptics社製干渉計『OptoFlat』 製品画像

    InterOptics社製干渉計『OptoFlat』

    平面形状測定用 反射・透過波面測定!サブナノメートルレベルの位相測定を…

    『OptoFlat』は、低コヒーレンス干渉原理を使用し、平面形状を簡単に 測定することが可能なInterOptics社製の干渉計です。 小型かつ安定した機械設計でありながら、従来の干渉計と比較して低価格。 高出力LED光源で使用することにより、レーザースペックル干渉や 光学系内部干渉が発生せずクリアな干渉縞が生成される、 サブナノメートルレベルの位相測定を行うことができます。 ...

    メーカー・取り扱い企業: トライオプティクス・ジャパン株式会社

  • 光波長計 ( CW専用 ・ CW&パルス両用 ) 製品画像

    光波長計 ( CW専用 ・ CW&パルス両用 )

    高分解能・高性能・高速・高精度の光波長計

    ● 確度の高いレーザー波長測定に最適です。マイケルソン干渉計をベースとするCWレーザー波長計で、精度は最高 ±0.2 ppm です。またパルスレーザー、CWレーザーの波長を±0.0001 nmもの高精度で測定します。高速光検出器アレイの受信シグナルから干渉縞を生成します。 ■671シリーズは高い波長分解能 (±0.0001 nm) で可視域から中赤外(MIR) 375 nm to 12 μm...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社日本レーザー

  • Φ102/150レーザー干渉計 G102 製品画像

    Φ102/150レーザー干渉計 G102

    ガラス、プラスチック、金属などの平面状測定に最適

    小さな部品も測定可能な大口径干渉計です。...Φ102mm/Φ150mm高精度平面板の平面測定、透過波面測定が可能になります。 8.6倍のズーム機能付きによる小口径被検体も測定が可能です。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ナガタ

  • 非球面ヌルミラー干渉計『ANI-Z1』 製品画像

    非球面ヌルミラー干渉計『ANI-Z1』

    解析結果もデジタルで得られる!不良レンズを組み込む前に排除できます

    『ANI-Z1』は、フィゾー型干渉計を基本とし、安定性があり操作性のよい 非球面レンズの検査器です。 非球面レンズを透過した光を干渉計測することで、そのレンズがもつ収差を 正しく計測可能。 サンプル光軸とヌルミラー非球面軸の2つの軸の平行を確認し、非球面 サンプルでありながら球面計測と同じ様な干渉縞にて検査します。 【特長】 ■振動につよい ■測定時間が早い ■非接触...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社清原光学

  • 斜入射干渉法フラットネステスター『FT-900』 製品画像

    斜入射干渉法フラットネステスター『FT-900』

    Maxφ200mmまで対応可能なレーザー光斜入射干渉計 位相シフト法…

    レーザー光斜入射干渉計による干渉縞を位相シフト法により画像解析することで、種々のサンプルをデジタル計測するものです。 半導体ウェーハ(GaN、SiC、サファイア)などの研究開発、量産ラインで品質向上のために活躍します。...【特長】 ・ウェーハ(シリコン、化合物、酸化物、ガラス)、金属片、ディスク(アルミ、ガラス)、機械部品等のサンプル測定が可能 ・多重干渉縞に対応した弊社独自の位相シフト解...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ニデック コート事業部

  • 6インチ レーザー干渉計 製品画像

    6インチ レーザー干渉計

    ガラス、プラスチック、金属などの平面形状測定に最適

    小口径から大口径の研磨面をλ/20の高精度で測定評価が可能です。...大口径の平面ガラス、金属、ミラー、ウエハーなどの面精度の測定評価に最適です。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ナガタ

  • マイクロヘッド型 分光干渉レーザ変位計 SI-F シリーズ 製品画像

    マイクロヘッド型 分光干渉レーザ変位計 SI-F シリーズ

    世界初!超小型・高精度のファイバヘッド変位計。

    ■超高分解能&3種のヘッドバリエーション。 ■小型&軽量&耐熱、発熱ゼロ、電気/磁気ノイズの影響ゼロ ■最大6ヘッド接続&マルチ演算機能。...-...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社キーエンス

  • 超小型高速撮像干渉計 PhaseCam6000 製品画像

    超小型高速撮像干渉計 PhaseCam6000

    震動環境・長光路での測定に好適

    【PhaseCam6000】は、揺れの強い場所や移動物体など、震動環境・長光路での測定に効果を発揮する超小型高速撮像干渉計。 ◎超小型なので、研磨加工機への導入も可能。 ◎ファイバーによって光源部分を分離、従来の重い筺体では困難だったアライ  メントを容易に。 ◎オプションでケーブル類、ファイバー延長可能。 ◎様々なDiverging、LensやNull opticsを付...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイ・アール・システム

  • 干渉縞解析装置 IFM 製品画像

    干渉縞解析装置 IFM

    干渉縞を高精度な解析で数値化

    レーザー干渉計で観察される干渉縞画像から、研磨面の面精度や光学素子の透過面精度を数値化、可視化することで、より高精度に、より分かりやすく、品質管理の向上に有益な製品です。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ナガタ

  • 平面形状測定装置『OptoFlat』 製品画像

    平面形状測定装置『OptoFlat』

    誰でも使える現場向きの使いやすさと、裏面反射キャンセルなどの高機能を両…

    作が容易で即戦力として活躍します。 光学部品だけでなく、金属・セラミックス部品や金型の平面部など、幅広い用途でお使い頂けます。 ■裏面反射の低減(裏面キャンセル厚さ0.3mm以上) レーザー干渉計では、平行平面サンプルの測定において、表面の反射波面に裏面の反射波面が影響して測定が困難なケースがありますが、低コヒーレンス干渉原理では、短い領域でコヒーレンスを制限することにより、裏面からの...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社マブチ・エスアンドティー

  • ポータブルFT-IR分光計『MOBILE-IR II』 製品画像

    ポータブルFT-IR分光計『MOBILE-IR II』

    IP67の防塵・防水規格に適合!フィールドアプリケーションに携わるすべ…

    『MOBILE-IR II』は、どこでも使用できるポータブルFT-IR分光計です。 当社独自のRockSolidキューブコーナーミラー干渉計を搭載しており、 厳しい作業環境に直面しても優れた安定性を維持。 トロリーケースに格納可能なケミカルアナライザーで、必要な場所に 持ち込んで開梱したら、すぐに分析を開始することができます。 【特長】 ■無冷媒MCT検出器(TE-MCT)...

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    メーカー・取り扱い企業: ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部

  • 変位計・厚さ計カタログ 製品画像

    変位計・厚さ計カタログ

    ナノメートルの位置検出・厚み測定などに最適。もとの物理量を正確に知る測…

    変位、振動、厚さ等の物理量を非接触のプローブにより検出し、それを電気量に変換して、もとの物理量を正確に知る測定器を非接触式変位計、厚さ計と呼んでいます。測定方式により静電容量方式、レーザー方式、光ファイバ方式等があります。ナノメートルの位置検出、姿勢制御、平面度、厚み測定、精密モータ、ハードディスク、各種ディスクなど幅広い用途でお使い頂けます。詳しくお問い合わせ、もしくはカタログをダウンロードして...

    メーカー・取り扱い企業: 岩崎通信機株式会社

  • DPSS:半導体レーザー 「Oxxius」 製品画像

    DPSS:半導体レーザー 「Oxxius」

    高速TTL変調、アナログ変調、重畳変調可能

    半導体レーザー 「Oxxius」は、出力安定度が高く円ビームで低ノイズな半導体レーザーシステムです。 さらにTTLにて、立ち上がり立ち下がり共に約12nsec,アナログでは2MHzまで変調可能です。 【特徴】 ○高速TTL変調、アナログ変調、重畳変調可能 ○ビーム真円度 >90% ○電源内蔵型 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。...【特徴】 ○...

    メーカー・取り扱い企業: オーテックス株式会社

  • 粒子カウンタ付精密レーザ濁度計『MILPA TPシリーズ』 製品画像

    粒子カウンタ付精密レーザ濁度計『MILPA TPシリーズ』

    濁度と粒子数を同時測定でき、高感度、高精度!クリプトスポリジウム対策や…

    『MILPA TPシリーズ』は、濁度計に「粒子カウンタ機能」を 搭載している粒子カウンタ付精密レーザ濁度計です。 濁度と粒子数を同時測定でき、高感度、高精度で、 クリプトスポリジウム対策や浄水管理に好適。 境界面があれば干渉縞が発生するため、屈折率が 水に近い細菌類の検出能力も優れています。 【特長】 ■濁度と粒子数を同時測定 ■高感度、高精度(光源に半導体レーザ使用)...

    メーカー・取り扱い企業: ミクニキカイ株式会社

  • 吉城光科学の技術『検査』 製品画像

    吉城光科学の技術『検査』

    限りない品質保証への挑戦!目視判定で数μ単位の欠陥検出が可能です

    が可能。 また、顕微鏡・マイクロスコープによる検査及びヒューマンエラーを 無くすため検査の自動化も進めており、顧客ニーズを満足させる事が 可能です。 【主要設備(抜粋)】 ■レーザー干渉計(φ150解析装置付) ■レーザー干渉計(φ60) ■オートコリメーター ■投影機 ■分光光度計 ■レーザー式光量測定器 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社吉城光科学 本社

  • 【トリプルスキャンレーザー事例】工作機械のアライメント 製品画像

    【トリプルスキャンレーザー事例】工作機械のアライメント

    数週間を要していたアライメント作業を迅速かつ高精度に!生産性の向上にも…

    TACC株式会社が取り扱う、レーザーアライメントシステム 『トリプルスキャンレーザー』を工作機械に活用した事例をご紹介します。 従来の測定方式(レーザー干渉計、スコヤ、直定規、レベル等)では、 数日もしくは数週間を必要とした工作機械のアライメント作業において、 最大70%の時間短縮を実現することが可能です。 また、ワンセットアップで迅速か...

    メーカー・取り扱い企業: TACC株式会社

  • スクラッチ装置 製品画像

    スクラッチ装置

    高精度・精密計測!任意のしきい値設定から欠陥に対してOK/NG判別を全…

    『スクラッチ装置』は、ウエハーを複数枚乗せる事が可能で、極微少な スクラッチ(傷)、異物、カケの外観検査を全自動で行います。 ワークまでの距離を自動で測るレーザー変位計を装備しておりウエハーの 厚みに依存しません。 画像記録のほか任意のしきい値設定から欠陥に対してOK/NG判別を、 全自動で行います。アプリケーションとして、透明体、半透明のSiCやGaN、 GaAs、サファイア...

    メーカー・取り扱い企業: ソフトワークス株式会社

  • Nicolet iS20 FT-IR 分光光度計 製品画像

    Nicolet iS20 FT-IR 分光光度計

    多様化する分析ニーズに対応したFT-IRの新たなスタンダード!

    『Thermo Scientific Nicolet iS20 FT-IR』は、数々の イノベーションでFT-IRの新たなスタンダードを構築します。 先端技術により設計された光学系、LightDriveオプティカル・エンジンにより、 次世代の分析パフォーマンスを実現します。 干渉計、レーザー、赤外光源は10年保証。そして優れたS/N比(50,000:1)や 波数分解能(0.25c...

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    メーカー・取り扱い企業: サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社/Thermo Fisher Scientific K.K.

  • デジタル気圧計『PTB210』 製品画像

    デジタル気圧計『PTB210』

    高精度で安定した測定!気象観測所、船舶、空港、土壌学などの用途に適して…

    環境への耐性に優れた、信頼性の高い屋外用の気圧計です。 幅広い温度範囲で使用できるよう設計。 電子回路部のハウジングは、防滴防塵構造IP65(NEMA4)規格を採用しています。 レーザー干渉計やエンジンテストベンチといった産業機械における気圧の モニタリングにも好適。 全製品に作業標準器を使用したデジタル調整と校正が行われています。 【特長】 ■500~1100hPaま...

    メーカー・取り扱い企業: 三興通商株式会社

  • ガス分析用FT-IRシステム『OMEGA5』 製品画像

    ガス分析用FT-IRシステム『OMEGA5』

    まざまな分野への応用が可能!ガス濃度を高精度かつリアルタイムで自動的に…

    『OMEGA5』は、19インチラック対応のコンパクトボディに、工業用ガスの測定に 適した光路長5mの多重反射型ガスセルを搭載したガス分析用FT-IRシステムです。 ガス濃度を高精度かつリアルタイムで自動的にモニタリングできるように設計され、 さまざまな分野への応用が可能。 干渉計、赤外光源、ダイオードレーザーをはじめとする耐久性に優れる各種 コンポーネントにより、運用やメンテナン...

    メーカー・取り扱い企業: ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部

  • コンパクトFTIR  ALPHA II ※A4用紙1枚の設置面積 製品画像

    コンパクトFTIR ALPHA II ※A4用紙1枚の設置面積

    【設置面積がA4用紙1枚分という、コンパクトなFTIR分光計!】原材料…

    『ALPHA II』は、定性および定量分析、原材料の検証、品質管理など、 あらゆる業界と分野におけるすべてのアプリケーションに対応するマルチパーパスな FT-IR です。 コンパクトボディに日常の赤外スペクトル分析に求められる機能のほとんどを搭載した、 新しい分析ツールです。 【特長】 ■コンパクトかつレジリエントなデザイン ■ほぼすべての試料形状に対応 ■堅牢・耐震設計 R...

    メーカー・取り扱い企業: ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部

  • 超純水のナノサイズのパーティクルカウンタ Vertex50 製品画像

    超純水のナノサイズのパーティクルカウンタ Vertex50

    業界で最も小さく、最も軽い、純水中の50nm(0.05µm)サイズの粒…

    ゼロカウントレベルが業界で最も低いVertex50にはマニュアル流量コントローラが内蔵され、シンプルなユーザーインターフェースとなるTFTタッチスクリーンも組込まれています。  ライトハウス社の光検出技術を使ってS/N比とガンマ線の干渉を20倍低く改良できましたので、超純水システム中の計数できるパーティクルが劇的に正確になりました。 業界で最少の誤計数率のパーティクルカウンタなので計数...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社SGY 本社

  • 非接触厚さ測定技術 測定機 製品画像

    非接触厚さ測定技術 測定機

    厚さの絶対値が瞬時に測定可能!0.1μmの測定精度を維持

    【赤外光で厚さを計測】 赤外光は特定の物質の中を透過します。この性質を利用して特定の物質の厚さを非接触で計測する技術です。シリコンウェハー、サファイヤ、ガラスなどを非接触にて厚さ・形状を測定します。光干渉方式、変位計方式などニーズに合わせた測定機を提案・開発します。 【特長】 ■赤外光を通す物質であれば材質変形させることなく厚さ測定が可能 ■赤外光方式では絶対値を計測することが可能 ...

    メーカー・取り扱い企業: 昭和電子工業株式会社

  • 非接触厚さ測定装置 OZUMA22  製品画像

    非接触厚さ測定装置 OZUMA22 

    半導体用ウエハー(Siシリコンウエハー・GaAs・ガリウム砒素砒素)、…

    半導体用ウエハー(Siシリコンウエハー・GaAs・ガリウム砒素(Ga)砒素(As))、ガラス、金属等の高精度非接触厚さ測定装置のOZUMAが新しくなりました。 非接触厚さ測定装置OZUMA22は半導体用ウエハー(Siシリコンウエハー・GaAs・ガリウム(Ga)砒素(As))等の裏面研磨工程における厚さ管理用として、あるいは各製造工程における厚さ管理用として非接触測定で御使用いただけます。...エア...

    メーカー・取り扱い企業: 佐々木工機株式会社

  • FT-IR用 超高感度光音響検出器PA-301『デモ測定受付中』 製品画像

    FT-IR用 超高感度光音響検出器PA-301『デモ測定受付中』

    超高感度・低ノイズを実現!従来の1/100の測定時間で超高感度を達成。

    フィンランドTurku大学の最先端技術であるMEMSカンチレバーセンサー及びレーザー干渉計を搭載。従来の1/100の測定時間で超高感度を達成。従来困難であった、微量サンプル、黒色サンプル、液体等の測定が可能。UVから遠赤外まで簡単な窓材の交換により測定可能。デプスプロファイルに対応...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社システムズエンジニアリング

  • 【無料ウェビナー】レーザ/レンズの波面収差をリアルタイム計測 製品画像

    【無料ウェビナー】レーザ/レンズの波面収差をリアルタイム計測

    【11月18日(金)14:00開催】群・組レンズの歩留まり改善!収差に…

    大好評 パルステックウェビナーの第8弾! 光学部品の品質や光学機器の性能を波面収差にて定量化できる波面センサ(PWSシリーズ)の測定原理 や計測事例などについて講演いたします。 従来の計測手法である干渉計と比較した際のメリットや波面計測システム(LUCAS)での測定イメージ もご紹介いたします。 ウェビナー(オンラインセミナー)形式で無料にてご聴講いただけます。 会社やご自宅の...

    メーカー・取り扱い企業: パルステック工業株式会社

  • 一級水準標尺 GS1 レンタル 製品画像

    一級水準標尺 GS1 レンタル

    ・国土地理院認定1級水準標尺 登録第7号

    ・GS1は、レーザー測長器(干渉計)制御で直接レーザー刻線しており、極めて高い目盛精度を有します。また目盛テープに”ニュースーパーインバール”を採用。さらに温度変化に伴うテープの伸縮を相殺する新設計により、-0.04×10-6/℃の低熱膨張率を実現しています。 ...有効長 3m 目盛間隔 10mm 寸法 3069(L)×100(W)×51(H)mm 重量(1本) 5.6kg...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社メジャー

  • 小型高速波面センサ 製品画像

    小型高速波面センサ

    低価格!小型!高速波面センサ PWS-500

    弊社従来品より小型のイメージセンサを採用することにより、 従来品の半分の価格の波面センサの販売を開始します! 特長 Shack-Hartmann方式を採用した、リアルタイムに波面収差を計測する装置です ・ 可視光領域において、複数の波長の測定を1台で行うことができます ・ 干渉計による計測データと比較し、高い相関があります...・カメラモジュールのレンズ調整・評価にご使用いただけま...

    メーカー・取り扱い企業: パルステック工業株式会社

  • 【中古】5528A長さ測定キット 55280A アジレント 製品画像

    【中古】5528A長さ測定キット 55280A アジレント

    中古計測器:電気計測/絶縁抵抗/信号発生/電力測定:光関連

    ※詳しくは(写真、オプション品など)、お問い合わせください。 【注意事項】 状態 詳細 付属品等につきましてはお問い合わせください。...【特長/仕様】 特長/仕様はメーカーカタログから一部抜粋。詳細はお問合せ願います。 ●特長 ・Keysight 55280Aリニア測定キットは、5529Aレーザー校正システムで、直線距離 (変位) と速度の測定に使用する光学部品を含むキットです。 ・キ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社メジャー

  • カスタムオーダーメイド 製品画像

    カスタムオーダーメイド

    光学設計から機械設計、ソフトウェア開発まで!カスタムオーダーメイドのご…

    当社では、『カスタムオーダーメイド』を行っています。 投影系、結像系、プリズムやダイクロイックフィルターを含む光学系、 レーザー干渉計、分光・蛍光測定など、仕様に応じた光学系の設計から 製作まで一貫してお受けいたします。 この他に「機械設計・製作」や「ソフトウェア」も対応いたします。 【特長】 ■光学設計・製...

    メーカー・取り扱い企業: ユニオプト株式会社

  • 株式会社ラムダ 設備紹介 製品画像

    株式会社ラムダ 設備紹介

    「クリーンルーム」や「射出成型ライン」などの設備を保有! 短納期・低…

    【その他の保有設備・測定器】 ■超精密非球面加工機 ■レンズ形状・粗さ測定器フォームタリサーフ ■検査機器 ■形状精度測定コントレーサ ■光学レーザー干渉計 ■キーエンス社製 画像検査機IM6225 ■キーエンス社製 LM600 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ラムダ

  • 大型窓(6インチ)Z軸ピエゾステージ MV-20ZD6 製品画像

    大型窓(6インチ)Z軸ピエゾステージ MV-20ZD6

    レーザー干渉計の高速レンズ位置決めや大口径ミラー位置決めに最適!

    変位センサー内蔵タイプはクローズドピエゾコントローラーと組合せることで、 高精度な位置決めが可能です。 その他詳細はカタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。...【特長】 ○ミリ秒高速応答 ○高精度位置分解能 ○ピエゾアクチューエータを内蔵 ○窓口径は6インチ相当 ●詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをダウンロードしてください。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社メステック

  • 斜入射干渉法フラットネステスター『FT-17』 製品画像

    斜入射干渉法フラットネステスター『FT-17』

    Maxφ130mmまで対応可能なレーザー光斜入射干渉計 位相シフト法…

    レーザー光斜入射干渉計による干渉縞を位相シフト法により画像解析することで、種々のサンプルをデジタル計測するものです。 半導体ウェーハ(GaN、SiC、サファイア)などの研究開発、量産ラインで品質向上のために活躍します。...【特長】 ・ウェーハ(シリコン、化合物、酸化物、ガラス)、金属片、ディスク(アルミ、ガラス)、機械部品等のサンプル測定が可能 ・多重干渉縞に対応した弊社独自の位相シフト解...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ニデック コート事業部

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