比類なき高視野・高分解能な干渉型３Ｄレーザー走査顕微鏡

他に比類なき高視野・高分解能を実現した、干渉型３Ｄレーザー走査顕微鏡（…

レーザ走査を用いた初めての干渉計測 　光沢紙程度の反射で干渉縞が出現。干渉縞で50nｍの変化をとらえます ●倒立型レーザ走査干渉計（型番：LSMi-7000） 　　サンプルをガラス面に置けば、簡単に干渉縞計測可能。 　　走査範囲は30ｍｍ×50ｍｍ、モニター上で拡大観察可能 　　セラミックスなどの細い傷、研磨不良、欠けなどが検査可能 　　干渉縞解析ソフトはオプション ●円筒用レーザ走...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ワイ・ドライブ

除震台不要レーザー干渉計　FizCam2000

除震台の不要化・最小化が出来、さらに短コヒーレントレーザーを用いること…

短コヒーレントレーザー(干渉できる範囲が狭い)を用い、内部で2系統に分けた片方の光学系に空間的遅延を作ることで、複数の面が重なりあった複雑な光学系でも、任意の2面を選択して干渉測定が出来ます。測定が難しかった大口径の凸面を、反射型(ヒンドル鏡など)の一部計測できない部分が出来てしまう方式ではなく、透過型で全面を一度で測定可能。望遠鏡のセカンダリミラーや大型ステッパーレンズ、波面保存光学系の最終性能...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイ・アール・システム

除震台不要レーザー干渉計　PhaseCam

大口径や長焦点光学系の計測に必須の除震台が、不要化もしくは小型化ができ…

超高速の干渉計測を行うため、震動/振動や空気ゆらぎ(Air turbulence)の影響を最小化、リアルタイムでの波面計測が可能。Twymann=Green干渉法を用いた計測なので、大口径光学系でも同程度の大きさのFizeau面は不要。Diverging lens(発散レンズ)を用いて、様々な拡張測定が可能。...瞬間的に4位相を同時測定の出来る機構で、大型光学系の測定に不可欠だった除震台が不要の...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイ・アール・システム

レーザ走査干渉計

光沢紙程度の反射で干渉縞が出現！干渉縞で50mmの変化をとらえる干渉計

当製品は、レーザ走査を用いた干渉計です。 光沢紙程度の反射で干渉縞が出現。干渉縞で50mmの変化をとらえます。 サンプルをガラス面に置けば、簡単に干渉縞が見える倒立型の「LSMi-7000」 をはじめ、円筒用の「LSMi-7500」や正立型の「LSMi-8000」をラインアップ。 この他にも、5×50mmの範囲を3D形状計測できる超広視野共焦点型レーザ 走査イメージャ「LSM...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社オプセル

超小型高速撮像干渉計 PhaseCam6000

震動環境・長光路での測定に好適

【PhaseCam6000】は、揺れの強い場所や移動物体など、震動環境・長光路での測定に効果を発揮する超小型高速撮像干渉計。 ◎超小型なので、研磨加工機への導入も可能。 ◎ファイバーによって光源部分を分離、従来の重い筺体では困難だったアライ 　メントを容易に。 ◎オプションでケーブル類、ファイバー延長可能。 ◎様々なDiverging、LensやNull opticsを付...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイ・アール・システム

干渉縞解析装置　IFM

干渉縞を高精度な解析で数値化

レーザー干渉計で観察される干渉縞画像から、研磨面の面精度や光学素子の透過面精度を数値化、可視化することで、より高精度に、より分かりやすく、品質管理の向上に有益な製品です。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ナガタ

DPSS:半導体レーザー 「Oxxius」

高速TTL変調、アナログ変調、重畳変調可能

半導体レーザー 「Oxxius」は、出力安定度が高く円ビームで低ノイズな半導体レーザーシステムです。 さらにTTLにて、立ち上がり立ち下がり共に約12nsec,アナログでは2MHzまで変調可能です。 【特徴】 ○高速TTL変調、アナログ変調、重畳変調可能 ○ビーム真円度　＞90％ ○電源内蔵型 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。...【特徴】 ○...

メーカー・取り扱い企業： オーテックス株式会社

株式会社ラムダ 設備紹介

「クリーンルーム」や「射出成型ライン」などの設備を保有！ 短納期・低…

【その他の保有設備・測定器】 ■超精密非球面加工機 ■レンズ形状・粗さ測定器フォームタリサーフ ■検査機器 ■形状精度測定コントレーサ ■光学レーザー干渉計 ■キーエンス社製 画像検査機IM6225 ■キーエンス社製 LM600 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ラムダ