• 残圧下で簡単接続!液だれほぼ無しストーブリの大口径カップリング! 製品画像

    残圧下で簡単接続!液だれほぼ無しストーブリの大口径カップリング!

    PR着脱時の液だれがほぼゼロ【ノンスピルカップリング】 / 圧力損失がほぼ…

    【大口径ノンスピルカップリング】 製品名:【TCH】 / 【TCB】 / 【TTX】 (全3種類) 残圧下6barまで簡単に接続可能!着脱時の液だれほぼ無しを実現!ハンドルを回して簡単着脱の大口径カップリング! <特長> ・着脱時の液だれ/エア噛み/コンタミ混入ほぼゼロのノンスピル構造で、現場や作業者の安全を守ります ・誰でも簡単にハンドルを回すだけで接続を可能にしたストーブリ独自の技術...

    • Screenshot 2024-04-23 100843.png
    • Screenshot 2024-04-23 100932.png
    • Screenshot 2024-04-23 100725.png
    • Screenshot 2022-12-09 152056.png

    メーカー・取り扱い企業: ストーブリ株式会社

  • 水添など気液混合の動力低下を防ぐ!気液プロセス用撹拌機/解説あり 製品画像

    水添など気液混合の動力低下を防ぐ!気液プロセス用撹拌機/解説あり

    PR気液混合の効率を大幅UP!水添などの課題解決のカギは撹拌設計にあるかも…

    産業用撹拌機のマーケットリーダーであるEKATOが、気液混合時に起こる「動力低下」を最小限に抑え混合効率の最大化を実現する 気液混合のための攪拌システムを開発。 内部循環システムにより、水素など高価なガス資源の使用量を削減し、コストダウンを実現します。 攪拌・混合プロセスの研究を続けて90年となるEKATOは、「攪拌のスペシャリスト」として プロセスの課題を解決します。 内部循環システムとは...

    • combined gassig system.jpg
    • EKATO GASJET impeller.jpg
    • Abb_103.jpg
    • Abb_104.jpg
    • Abb_97.jpg
    • Combined gassing system 2.png
    • Hydrogenation_Reactor.jpg

    メーカー・取り扱い企業: エカート株式会社 日本支社

  • X線CTを使った非破壊解析【STEP/STLファイル作成も対応】 製品画像

    X線CTを使った非破壊解析【STEP/STLファイル作成も対応】

    より良い観察の提案が可能!高い透過力と解像度を併せ持つX線CTを導入

    えに、問題が無かったとしても、一度破壊してしまった試作品や 市場不良・工程不良品を元に戻す事は出来ません。 そこで、非破壊のままでも多くの有益なデータを得たい、直接目視できない モジュール内部の出来栄えを確認したい、信頼性試験による劣化調査を行いたい、 といった要望が高まっています。 ”クオルテック 名古屋品質技術センター”では、高い透過力と解像度を併せ持つ X線CT「FF35...

    • screenshot_02.png
    • screenshot_03.png
    • screenshot_04.png
    • screenshot_05.png
    • screenshot_06.png
    • screenshot_07.png

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • ロックイン発熱解析装置『ELITE』 製品画像

    ロックイン発熱解析装置『ELITE』

    半導体単体から、モジュール、実装基板など幅広い製品の観察が可能!

    『ELITE』は、通電によって異常箇所を発熱させ、その発熱部位を 高感度赤外線カメラで観察することで、実装基板、電子部品内部、 半導体チップ内部の異常箇所を特定する発熱解析が可能な装置です。 最大約20cm角の広角カメラにより、大きな基板等のサンプルでも 解析可能。 また基板解析の経験は豊富にございますの...

    • h.PNG
    • hj.PNG
    • hk.PNG
    • hl.PNG
    • hz.PNG

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • X線CTの分析原理および特長とその観察例 製品画像

    X線CTの分析原理および特長とその観察例

    材料内部の破壊や劣化を非破壊で評価!3D画像化して検査することができま…

    断面撮影法と呼ばれており 物体を走査(scan)することから「X線CTスキャン」と呼ばれています。 特長としては、物体をさまざまな方向からX線で撮影し、再構成処理を 行うことにより、物体の内部構造を得ることが可能。 異なる材料で構成された物質の場合だけでなく、同じ物質であっても 密度の違いよりその差を計測することができます。 【特長】 ■サンプルを回転させ、X線を全方位か...

    • screenshot_02.png
    • screenshot_03.png
    • screenshot_04.png
    • screenshot_05.png
    • screenshot_06.png
    • screenshot_07.png
    • screenshot_08.png
    • screenshot_09.png

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • STEM(走査型透過電子顕微鏡)分析法 製品画像

    STEM(走査型透過電子顕微鏡)分析法

    極小に絞った電子ビームを試料に照射!試料内部の原子像分布・形態などを画…

    当社で行っている「STEM(走査型透過電子顕微鏡)分析法」について ご紹介いたします。 原子像やサブnmオーダーで物質の構造を捉えることが出来、 明視野観察で構造情報を、暗視野像やHAADF像観察で物質の密度・ 元素情報を得ることが可能。 また、物質界面などの極微小領域での結晶状態・結晶方位を直接的に 観測することが出来ます。 【特長】 ■原子像やサブnmオーダーで物質...

    • 1.PNG

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

1〜4 件 / 全 4 件
表示件数
45件
  • < 前へ
  • 1
  • 次へ >

※このキーワードに関連する製品情報が登録
された場合にメールでお知らせします。

  • ipros_bana_提出.jpg
  • 修正デザイン2_355337.png

PR