• 全方向360°!先端可動式工業内視鏡 ビデオインスペクター3D 製品画像

    全方向360°!先端可動式工業内視鏡 ビデオインスペクター3D

    PR【デモ機対応可能】先端可動式工業用内視鏡ビデオインスペクター3D 手の…

    『先端可動式ビデオインスペクター3D』は、全方向(水平)360度、湾曲(垂直)最大210度、直感ジョイスティック操作で自在に先端カメラを操り、手の届かない場所をフレキシブルに確認・撮影できる工業用内視鏡です。 【特長】 ■カメラヘッドは全方向(水平)360°、湾曲(垂直210°)直感ジョイスティック操作 ■IP68完全防水カメラには7段階輝度調整可能なセラミックLEDを搭載。最大約20,...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社阪神交易

  • X線検査受託サービス【大型製品に対応】Nadcap認定を取得 製品画像

    X線検査受託サービス【大型製品に対応】Nadcap認定を取得

    PRギガキャストなど大型製品のX線検査に対応!

    KILTではX線CTと透過X線の異なるタイプのX線装置を保有しており、 様々な材質やサイズの製品のX線検査に対応しています。 最新鋭のX線CTシステム「FF85」は、 国内最大クラスの出力を誇る600kVミニフォーカスX線管と 高精細なX線撮影に最適な225kVマイクロフォーカスX線管を搭載、 また、ラインセンサとフラットパネルの2つの検出器を搭載しており、 あらゆる対象物のCTスキャンを行って...

    メーカー・取り扱い企業: TANIDA株式会社 かほく本社工場

  • X線CTを使った非破壊解析【STEP/STLファイル作成も対応】 製品画像

    X線CTを使った非破壊解析【STEP/STLファイル作成も対応】

    より良い観察の提案が可能!高い透過力と解像度を併せ持つX線CTを導入

    えに、問題が無かったとしても、一度破壊してしまった試作品や 市場不良・工程不良品を元に戻す事は出来ません。 そこで、非破壊のままでも多くの有益なデータを得たい、直接目視できない モジュール内部の出来栄えを確認したい、信頼性試験による劣化調査を行いたい、 といった要望が高まっています。 ”クオルテック 名古屋品質技術センター”では、高い透過力と解像度を併せ持つ X線CT「FF35...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

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    フェムト秒グリーンレーザ加工

    極限に短い時間だけ光るレーザ!ガラス、ステンレス、銅板など様々な素材に…

    『フェムト秒グリーンレーザ加工』についてご紹介いたします。 フェムト秒レーザは、極限に短い時間だけ光るレーザです。被加工物内部 への熱伝導による損失過程を無視できるため、レーザエネルギーが格子系に 効率よく注入されます。 非熱加工なので微細なパターンを描くことができ、ガラス、ステンレス、 銅板など、様々な素材に...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • ロックイン発熱解析装置『ELITE』 製品画像

    ロックイン発熱解析装置『ELITE』

    「熱拡散によって発熱中心が分からなくなる」ことを防ぐ!微小なリーク・変…

    発熱解析とは、通電によって異常箇所を発熱させ、その発熱部位を 高感度赤外線カメラで観察することで、実装基板、電子部品内部、 半導体チップ内部の異常箇所を特定する手法です。 非常に微小な発熱状態を検知できることから、通常のプリント基板だけでなく、 半導体の不具合解析にもその威力を発揮します。 特にショー...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • ロックイン発熱解析装置『ELITE』 製品画像

    ロックイン発熱解析装置『ELITE』

    半導体単体から、モジュール、実装基板など幅広い製品の観察が可能!

    『ELITE』は、通電によって異常箇所を発熱させ、その発熱部位を 高感度赤外線カメラで観察することで、実装基板、電子部品内部、 半導体チップ内部の異常箇所を特定する発熱解析が可能な装置です。 最大約20cm角の広角カメラにより、大きな基板等のサンプルでも 解析可能。 また基板解析の経験は豊富にございますの...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

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    非破壊解析技術 C-SAM(2D~3D)

    2次元像が標準的ですが、より視覚的・立体的に状態を捉えるために3次元化…

    非破壊解析技術である「C-SAM(2D~3D)」についてご紹介いたします。 超音波顕微鏡では、主にA-Scanデータを基にして、外観上では確認できない 内部領域の空隙やクラック等の有無を評価しています。 検出データを選択的に用いて画像化できるため、対象の界面情報のみを抽出 できる点がメリット。取得した異物質界面での反射波(A-Scanデータ)を...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • X線CTの分析原理および特長とその観察例 製品画像

    X線CTの分析原理および特長とその観察例

    材料内部の破壊や劣化を非破壊で評価!3D画像化して検査することができま…

    断面撮影法と呼ばれており 物体を走査(scan)することから「X線CTスキャン」と呼ばれています。 特長としては、物体をさまざまな方向からX線で撮影し、再構成処理を 行うことにより、物体の内部構造を得ることが可能。 異なる材料で構成された物質の場合だけでなく、同じ物質であっても 密度の違いよりその差を計測することができます。 【特長】 ■サンプルを回転させ、X線を全方位か...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 【故障解析事例】アバランシェ破壊の再現実験 製品画像

    【故障解析事例】アバランシェ破壊の再現実験

    内部に空洞が形成!Al電極、はんだを溶かした様子が確認できた事例をご紹…

    ェ破壊の実験環境を社内で構築し、再現実験を行った 事例をご紹介いたします。 ボンディングワイヤの間に形成されたクレーターに注目し、 断面観察と元素マッピングを行いました。 その結果、内部に空洞が形成され、Al電極、はんだを溶かした 様子が確認できました。 【事例概要】 ■再現実験サンプル ・RC-IGBT(Reverse-Conducting IGBT) ■非破壊解析...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 超音波顕微鏡(原理と特長)のご紹介 製品画像

    超音波顕微鏡(原理と特長)のご紹介

    超音波の性質を顕微鏡の観点から言えば、分解能の良い計測が可能なことを意…

    びます。 クオルテックでは、いずれの方式も対応が可能ですが、実用性の面から反射型を用いる場合が多いです。 【観察の特長】 ■試料の光学的な性質に左右されず、試料表面だけでなく、表面下の内部構造も非破壊で観察する事が可能 ■空気中の界面での反射が大きいことから、パッケージなどの空隙やクラックを高感度で観察できます。  また、異常箇所(空隙など)の判定は、各箇所における超音波の反射波...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • ハイパワーX線CT『CT Compact』 製品画像

    ハイパワーX線CT『CT Compact』

    高さ82cm、重さ50kgまでのサンプルが鮮明に撮影できる、ハイパワー…

    X線は非破壊で内部情報を取得する代表的な手法として、幅広い需要がありますが、 その需要は近年自動車業界を中心に、小型の部品から大型の部品へ推移しています。 『CT Compact』は高出力のX線管を搭載してお...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

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    HAST(PCT)

    当社で保有する装置は、半導体や多層の基板評価等に適した試験装置です!

    『HAST(PCT)』は、樹脂封止された半導体等の電子部品を通常の使用環境より 高い水蒸気圧の雰囲気に晒すことにより、短時間に供試品の内部に水分を 侵入させ、樹脂封止の気密性を評価することを目的にした試験です。 その試験のうち、JIS C 60068-2-66の不飽和加圧水蒸気における 通電試験も可能。 当社で保有する...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • フェムト秒グリーン・レーザ加工機のご紹介 製品画像

    フェムト秒グリーン・レーザ加工機のご紹介

    ナノ秒レーザとは異なり、パルス幅が電子-フォノン結合時間(数ピコ秒)よ…

    フェムト秒グリーン・レーザ加工機をご紹介します。 エネルギーが被加工物内部へ熱拡散する前に融点を超える温度に加熱され 蒸発が起こる為、レーザ光照射部はアブレーションが起こり除去。 (被加工物への熱伝導による損失過程を無視できます) そのためフェムト秒レーザでの加...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • STEM(走査型透過電子顕微鏡)分析法 製品画像

    STEM(走査型透過電子顕微鏡)分析法

    極小に絞った電子ビームを試料に照射!試料内部の原子像分布・形態などを画…

    当社で行っている「STEM(走査型透過電子顕微鏡)分析法」について ご紹介いたします。 原子像やサブnmオーダーで物質の構造を捉えることが出来、 明視野観察で構造情報を、暗視野像やHAADF像観察で物質の密度・ 元素情報を得ることが可能。 また、物質界面などの極微小領域での結晶状態・結晶方位を直接的に 観測することが出来ます。 【特長】 ■原子像やサブnmオーダーで物質...

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